[發明專利]一種凹型探頭回波圖像的成像方法在審
| 申請號: | 202111607621.2 | 申請日: | 2021-12-24 |
| 公開(公告)號: | CN114280621A | 公開(公告)日: | 2022-04-05 |
| 發明(設計)人: | 茍黎明;呂竟;林昱辰;劉旦;劉小虎 | 申請(專利權)人: | 武漢中旗生物醫療電子有限公司 |
| 主分類號: | G01S15/89 | 分類號: | G01S15/89;G01S7/539 |
| 代理公司: | 武漢智嘉聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 42231 | 代理人: | 張璐 |
| 地址: | 430000 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 探頭 回波 圖像 成像 方法 | ||
1.一種凹型探頭回波圖像的成像方法,其特征在于,包括:
獲取凹型探頭的顯示圖像的第一坐標;
對所述第一坐標進行坐標轉換,確定所述第一坐標對應的回波圖像的第二坐標;
利用插補算法并根據所述第二坐標,確定所述第一坐標的像素值。
2.根據權利要求1所述的凹型探頭回波圖像的成像方法,其特征在于,所述根據第一坐標進行坐標轉換,確定所述第一坐標對應的回波圖像的第二坐標,包括:
將所述顯示圖像的顯示點的所述第一坐標映射到極坐標平面,確定對應的極坐標;
根據所述極坐標,確定圖像深度距離;
根據所述極坐標和所述圖像深度距離,確定在所述回波圖像中的映射點的所述第二坐標。
3.根據權利要求2所述的凹型探頭回波圖像的成像方法,其特征在于,所述極坐標通過如下公式表示:
其中,xd表示第一坐標中的橫坐標,yd表示第一坐標中的縱坐標,w表示所述顯示圖像的圖像顯示區域的寬度,i表示所述極坐標平面的原點到所述圖像顯示區域的中軸點的距離。
4.根據權利要求2所述的凹型探頭回波圖像的成像方法,其特征在于,所述根據所述極坐標,確定圖像深度距離包括:
根據所述極坐標的極徑長與第一弧長之差,確定所述圖像深度距離,其中,所述第一弧長根據所述顯示點的延長線分別與第一預設弧、第二預設弧的交點而確定。
5.根據權利要求2所述的凹型探頭回波圖像的成像方法,其特征在于,所述根據所述極坐標和所述圖像深度距離,確定所述第二坐標,包括:
根據預設的掃描深度、掃描點數、掃描線束、掃描角度以及所述顯示圖像的圖像顯示區域的高度,確定第一比例;
根據所述極坐標、所述第一比例和所述圖像深度距離,確定所述第二坐標。
6.根據權利要求5所述的凹型探頭回波圖像的成像方法,其特征在于,所述根據所述極坐標、所述第一比例和所述圖像深度距離,確定所述第二坐標,包括:
根據所述圖像深度距離和所述第一比例之商,得到所述第二坐標中的橫坐標;
根據所述掃描線束、所述掃描角度和所述極坐標,確定所述第二坐標中的縱坐標。
7.根據權利要求6所述的凹型探頭回波圖像的成像方法,其特征在于,所述根據所述掃描線束、所述掃描角度和所述極坐標,確定所述第二坐標中的縱坐標,包括:
根據所述掃描角度與所述掃描線束之商,得到兩線掃描角度;
根據所述極坐標中的極角與所述兩線掃描角度之商,得到第一商值;
根據所述第一商值和所述掃描線束,確定所述第二坐標中的縱坐標。
8.根據權利要求2所述的凹型探頭回波圖像的成像方法,其特征在于,所述利用插補算法并根據所述第二坐標,確定所述第一坐標的像素值,包括:
根據所述第二坐標,確定與所述映射點相鄰的三個相鄰映射點;
將所述映射點和所述三個相鄰映射點構成四個像素點,并確定所述四個像素點對應的像素值;
根據所述第二坐標,確定所述四個像素點對應的插補系數;
根據所述像素值和所述插補系數,確定所述顯示圖像的顯示點的顯示像素值。
9.根據權利要求8所述的凹型探頭回波圖像的成像方法,其特征在于,所述根據所述第二坐標,確定所述四個像素點對應的插補系數,包括:
根據所述第二坐標的浮點型橫坐標與整型橫坐標,確定第一插補系數;
根據所述第一插補系數與預設數值,確定第二插補系數;
根據所述第二坐標的浮點型縱坐標與整型縱坐標,確定第三插補系數;
根據所述第三插補系數與所述預設數值,確定第四插補系數。
10.根據權利要求9所述的凹型探頭回波圖像的成像方法,其特征在于,所述根據所述像素值和所述插補系數,確定所述顯示圖像的顯示點的顯示像素值,包括:
基于二維插補算法,根據所述四個像素點對應的像素值、所述第一插補系數、所述第二插補系數、所述第三插補系數和所述第四插補系數,確定所述顯示點的顯示像素值。
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