[發明專利]一種雙能減影參數的計算方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202111594066.4
• 申請日: 2021-12-23
• 公開（公告）號: CN114463259A
• 公開（公告）日: 2022-05-10
• 發明（設計）人: 王永貞;程霞;郭朋;李勇;韓海磊
• 申請（專利權）人: 深圳藍影醫學科技股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/33;G06T5/00;G06V10/25
• 代理公司: 深圳市智勝聯合知識產權代理有限公司 44368
• 代理人: 王月

1.一種雙能減影參數的計算方法，應用于計算雙能X線醫學圖像中陰影區域的軟組織減影參數和骨骼減影參數，其中，所述雙能X線醫學圖像包括高能圖像和低能圖像，其特征在于，包括步驟：

獲取目標雙能X線醫學圖像，并將目標高能圖像和目標低能圖像進行配準處理；

依據配準處理后的所述目標低能圖像中預設區域的梯度幅值圖像最大值的位置確定待測區域，并確定出所述目標高能圖像中與所述待測區域對應的高能子圖像塊和所述目標低能圖像中與所述待測區域對應的低能子圖像塊；

依據所述高能子圖像塊和所述低能子圖像塊確定所述待測區域內每個像素對應的減影圖像，并確定出所述減影圖像的標準差和均值，依據所述減影圖像的標準差和均值生成所述待測區域內每個像素對應的相對標準差；

依據所述相對標準差的最小值確定軟組織減影參數和骨骼減影參數。

2.根據權利要求1所述的雙能減影參數的計算方法，其特征在于，所述依據配準處理后的所述目標低能圖像中預設區域的梯度幅值圖像最大值的位置確定待測區域，并確定出所述目標高能圖像中與所述待測區域對應的高能子圖像塊和所述目標低能圖像中與所述待測區域對應的低能子圖像塊的步驟，包括：

確定配準處理后的所述目標低能圖像中預設區域的位置，并依據預設區域內的像素生成所述梯度幅值圖像；

獲取所述梯度幅值圖像最大值的位置，并依據在所述目標低能圖像中所述預設區域的位置對所述梯度幅值圖像最大值的位置進行轉換確定目標位置，以所述目標位置的鄰域位置設置為待測區域；

依據所述待測區域的位置，確定出所述目標高能圖像中與所述待測區域對應的高能子圖像塊和所述目標低能圖像中與所述待測區域對應的低能子圖像塊。

3.根據權利要求2所述的雙能減影參數的計算方法，其特征在于，所述確定配準處理后的所述目標低能圖像中預設區域的位置，并依據預設區域內的像素生成所述梯度幅值圖像的步驟，包括：

確定配準處理后的所述目標低能圖像中預設區域的位置；

將所述目標低能圖像中預設區域的像素進行低通濾波處理；

依據進行低通濾波處理后的預設區域內的像素生成所述梯度幅值圖像。

4.根據權利要求3所述的雙能減影參數的計算方法，其特征在于，所述依據進行低通濾波處理后的預設區域內的像素生成所述梯度幅值圖像的步驟，包括：

確定進行低通濾波處理后的預設區域內的像素梯度的x分量和y分量；

依據預設區域內的像素梯度的x分量和y分量生成所述梯度幅值圖像。

5.根據權利要求1所述的雙能減影參數的計算方法，其特征在于，所述依據所述高能子圖像塊和所述低能子圖像塊確定所述待測區域內每個像素對應的減影圖像，并確定出所述減影圖像的標準差和均值，依據所述減影圖像的標準差和均值生成所述待測區域內每個像素對應的相對標準差的步驟，包括：

依據骨與軟組織對X線光子的能量衰減方式和光電吸收效應的差異，結合所述待測區域內每個像素對應的高能子圖像塊與低能子圖像塊的比值確定所述待測區域內每個像素對應的減影圖像；

確定出所述所述待測區域內每個像素對應的減影圖像的標準差和均值；

依據所述待測區域內每個像素對應的減影圖像的標準差與均值的比值生成所述待測區域內每個像素對應的相對標準差。

6.根據權利要求1所述的雙能減影參數的計算方法，其特征在于，所述依據所述相對標準差的最小值確定軟組織減影參數，并依據所述軟組織減影參數確定骨骼減影參數的步驟，包括：

依據所述相對標準差的最小值對應的減影參數確定為軟組織減影參數；

依據所述軟組織減影參數和預設權重確定骨骼減影參數。

7.根據權利要求6所述的雙能減影參數的計算方法，其特征在于，所述依據所述軟組織減影參數和預設權重確定骨骼減影參數的步驟，包括：

依據所述軟組織減影參數與預設權重的和確定骨骼減影參數；其中，所述預設權重的數值為0.25。