[發明專利]信號傳輸方法、裝置、系統、設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202111571891.2
• 申請日: 2021-12-21
• 公開（公告）號: CN114449535A
• 公開（公告）日: 2022-05-06
• 發明（設計）人: 古強;薛林
• 申請（專利權）人: 上海物騏微電子有限公司
• 主分類號: H04W16/20
• 分類號: H04W16/20;H04W16/28
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 楊奇松

1.一種信號傳輸方法，其特征在于，應用于信號傳輸系統，所述信號傳輸系統包括：信號接入點、反射面板和接入設備；所述方法包括：

在接收到波束校準指令時，執行所述信號接入點與所述反射面板之間的波束校準過程；

執行所述反射面板與多個接入設備之間的波束校準過程；按照校準后波束傳輸信號波。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述執行所述信號接入點與所述反射面板之間的波束校準過程，包括：

在所述信號接入點與所述反射面板之間執行第一寬波束掃描，并基于第一寬波束掃描結果，在所述信號接入點與所述反射面板之間執行第一窄波束掃描，完成所述波束校準過程。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述信號接入點與所述反射面板之間執行第一寬波束掃描，包括：

發送多個第一寬波束，并發送接收信號測量指令至所述反射面板；

接收所述反射面板上報的針對所述多個第一寬波束的第一信號強度集合，其中，所述第一信號強度集合中包括所述反射面板接收到每個所述第一寬波束的信號強度。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于第一寬波束掃描結果，在所述信號接入點與所述反射面板之間執行第一窄波束掃描，完成所述波束校準過程，包括：

選出所述第一信號強度集合中最大值對應的目標第一寬波束，將所述目標第一寬波束分割成多個第一窄波束，發送所述多個第一窄波束，并發送接收信號測量指令至所述反射面板；

接收所述反射面板上報的針對所述多個第一窄波束的第二信號強度集合，選出所述第二信號強度集合中最大值對應的目標第一窄波束作為所述信號接入點與所述反射面板之間的校準后波束。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述執行所述反射面板與多個接入設備之間的波束校準過程，包括：

在所述反射面板與所述多個接入設備之間執行第二寬波束掃描，并基于所述第二寬波束掃描結果，在所述反射面板與所述多個接入設備之間執行第二窄波束掃描，完成所述波束校準過程。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述在所述反射面板與所述多個接入設備之間執行第二寬波束掃描，包括：

發送校準預備消息至所述反射面板，并接收所述反射面板返回的寬波束數目；

指示所述反射面板發送多個第二寬波束，并發送接收信號測量指令至所述多個接入設備；

接收所述多個接入設備上報的針對所述多個第二寬波束的第三信號強度集合，其中，所述第三信號強度集合中包括每個所述接入設備接收到每個所述第二寬波束的信號強度；

針對每個所述接入設備，分別選出所述第三信號強度集合中最大值對應的目標第二寬波束，形成最佳第二寬波束集合。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二寬波束掃描結果，在所述反射面板與所述多個接入設備之間執行第二窄波束掃描，完成所述波束校準過程，包括：

指示所述反射面板將所述最佳第二寬波束集合中的所述目標第二寬波束分割成多個第二窄波束，指示所述反射面板發送所述多個第二窄波束，并發送接收信號測量指令至所述多個接入設備；

接收所述多個接入設備上報的針對所述多個第二窄波束的第四信號強度集合，其中，所述第四信號強度集合中包括每個所述接入設備接收到每個所述第二窄波束的信號強度；

針對每個所述接入設備，分別選出所述第四信號強度集合中最大值對應的目標第二窄波束，形成最佳第二窄波束集合；

根據所述最佳第二窄波束集合確定所述反射面板與所述多個接入設備之間校準后波束。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述根據所述最佳第二窄波束集合確定所述反射面板與所述多個接入設備之間校準后波束，包括：

發送所述最佳第二窄波束集合至所述反射面板，并指示所述反射面板生成指向所述最佳第二窄波束集合的合成波束，將所述合成波束作為所述反射面板與所述多個接入設備之間校準后波束。