[發明專利]一種增鍍石墨層微天平石英晶片的生產方法有效
| 申請號: | 202111566259.9 | 申請日: | 2021-12-20 |
| 公開(公告)號: | CN114351094B | 公開(公告)日: | 2023-08-04 |
| 發明(設計)人: | 李劍;張貽海;袁慶祝;王麗娟;陳杰;段宏偉 | 申請(專利權)人: | 唐山萬士和電子有限公司 |
| 主分類號: | C23C14/34 | 分類號: | C23C14/34;C23C14/06;C23C14/02;C23C14/18 |
| 代理公司: | 北京國貝知識產權代理有限公司 11698 | 代理人: | 尹曉強 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 石墨 天平 石英 晶片 生產 方法 | ||
本發明公開一種增鍍石墨層微天平石英晶片的生產方法,包括:對微天平石英晶片鍍金屬膜,得到金屬鍍膜微天平石英晶片;對所述金屬鍍膜微天平石英晶片增鍍石墨層,得到增鍍石墨層微天平石英晶片,對所述微天平石英晶片鍍金屬膜的濺射功率為0.30kw?0.40kw,對所述金屬鍍膜微天平石英晶片增鍍石墨層的真空度為5.0×10?1Pa?7.0×10?1Pa、鍍前預加熱鍍膜溫度為120℃?140℃、濺射功率為0.5kW?0.8kW,速率為本發明得到的增鍍石墨層微天平石英晶片的石墨層無起皺、脫落等失效現象,能夠保證微天平石英晶片的敏感度。
技術領域
本發明涉及精密儀器領域,具體地涉及一種增鍍石墨層微天平石英晶片的?生產方法。
背景技術
石英晶體微天平基于聲波傳感原理,采用模塊化設計,可通過石英傳感器頻?率變化和耗散變化來檢測芯片表面微小的質量和結構變化。適用于氣體和液體?樣品。具有倍頻操作模式,可給出薄膜的粘度,彈性模量,粘性模量,厚度等?信息,并且可用于氣相組分、有毒易爆氣體的檢測,具有特異性好、靈敏度高、?成本低廉和操作簡便等優點。為了增加鍍金屬膜的微天平石英晶片的對待測物?的敏感度,通常會在金屬膜上增鍍石墨層。但是現有技術的金屬膜光滑度不夠,導致石墨層附著度差,會在造成石墨層起皺、脫落,并且現有技術中增鍍石墨?層的技術導致石墨薄膜敏感膜附著度差。
發明內容
為了解決增鍍石墨層微天平石英晶片的石墨層起皺、脫落的問題,本發明?提出如下方案:
一種增鍍石墨層微天平石英晶片的生產方法,包括:
對微天平石英晶片鍍金屬膜,得到金屬鍍膜微天平石英晶片;
對所述金屬鍍膜微天平石英晶片增鍍石墨層,得到增鍍石墨層微天平石英?晶片,
對所述微天平石英晶片鍍金屬膜的濺射功率為0.30kw-0.40kw,
對所述金屬鍍膜微天平石英晶片增鍍石墨層的真空度為5.0×10-1Pa-7.0×?10-1Pa、鍍前預加熱鍍膜溫度為120℃-140℃、濺射功率為0.5kW-0.8kW,速率?為
根據本發明的實施例,對所述微天平石英晶片鍍金屬膜的真空度為4.0×10-1Pa-5.4×10-1Pa、鍍前加熱鍍膜溫度為90℃-105℃、速率為
根據本發明的實施例,對所述金屬鍍膜微天平石英晶片增鍍石墨層得到的?所述增鍍石墨層微天平石英晶片中最終石墨厚度為100nm~150nm。
具體實施方式
下面將結合本發明的實施例,對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完?整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例,而不是全部的?實施例。基于本發明中的實施例,本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動?前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發明保護的范圍。
本發明增鍍石墨層微天平石英晶片的生產方法包括兩個步驟:
步驟1:對微天平石英晶片鍍金屬膜,得到金屬鍍膜微天平石英晶片,其?工藝為:濺射功率為0.30kw-0.40kw、真空度為4.0×10-1Pa-5.4×10-1Pa、鍍前?加熱鍍膜溫度為90℃-105℃、速率為這種濺射功率提高后,能夠?提高鍍金屬膜微天平石英晶片的金屬膜表面粗糙度,但前提是確保金電極膜沒?有產生明顯金的顆粒,否則會降低微天平良量程和精度。
步驟2:對所述金屬鍍膜微天平石英晶片增鍍石墨層,得到增鍍石墨層微?天平石英晶片,其工藝為:真空度為5.0×10-1Pa-7.0×10-1Pa、鍍前預加熱鍍?膜溫度為120℃-140℃、濺射功率為0.5kW-0.8kW,速率為以上?參數實在在保證微天平良量程和精度的前提下進行。通過分別提高對所述金屬?鍍膜微天平石英晶片增鍍石墨層真空度、鍍前預加熱鍍膜溫度、濺射功率和速?率,得到的所述增鍍石墨層微天平石英晶片中最終石墨層厚度為100nm~150nm。
具體實施例
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