[發明專利]一種適用于全站儀測量的反光片標志物及其自動檢測系統在審
| 申請號: | 202111551539.2 | 申請日: | 2021-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN114202641A | 公開(公告)日: | 2022-03-18 |
| 發明(設計)人: | 尹冬生;陳家鑫 | 申請(專利權)人: | 天棣智能科技(廣州)有限公司 |
| 主分類號: | G06T19/00 | 分類號: | G06T19/00;G06T7/62;G06T7/73 |
| 代理公司: | 安徽思沃達知識產權代理有限公司 34220 | 代理人: | 戴曉丹 |
| 地址: | 510000 廣東省廣州市南沙區珠*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 適用于 全站儀 測量 反光 標志 及其 自動檢測 系統 | ||
1.一種適用于全站儀測量的反光片標志物,包括若干個不同直徑的標志圓環(1)和用于與標志圓環(1)配合獲取像素坐標的反光片(2),其特征在于,所述標志圓環(1)的中心位置設有反光片(2)。
2.根據權利要求1所述的一種適用于全站儀測量的反光片標志物,其特征在于,若干所述標志圓環(1)為層層嵌套,且所述標志圓環(1)直徑從內到外等比遞增。
3.根據權利要求2所述的一種適用于全站儀測量的反光片標志物,其特征在于,所述標志圓環(1)的中心設有十字交叉線(3),所述十字交叉線(3)用于將所述反光片(2)與所述標志圓環(1)對齊,且用于將若干所述標志圓環(1)尋找基準圓心并對齊。
4.一種反光片標志物的自動檢測系統,其特征在于,用于權利要求1-3中任一所述適用于全站儀測量的反光片標志物的自動檢測系統,包括處理模塊、橢圓擬合模塊、橢圓過濾模塊和計算正圓中心模塊,其中,所述處理模塊通過所述橢圓擬合模塊與所述橢圓過濾模塊相連接,所述橢圓過濾模塊與所述計算正圓中心模塊相連接。
5.根據權利要求4所述的一種反光片標志物的自動檢測系統,其特征在于,所述處理模塊用于處理圖片,獲得圖片輪廓信息,所述橢圓擬合模塊用于擬合圖片中的輪廓,得到圖片中的所有橢圓,可獲得每一個橢圓的參數,其中,所述參數包括橢圓中心的X坐標Cx、橢圓中心的Y坐標Cy、橢圓的長軸a、橢圓的短軸b和橢圓的旋轉角度θ。
6.根據權利要求5所述的一種反光片標志物的自動檢測系統,其特征在于,所述橢圓過濾模塊用于通過參數分析過濾掉不符合的橢圓,所述計算正圓中心模塊用于根據各個模塊計算獲得標志物的像素坐標。
7.根據權利要求6所述的一種反光片標志物的自動檢測系統,其特征在于,用于所述橢圓過濾模塊的過濾方法,包括以下步驟:
步驟一:過濾掉長軸和短軸小于5的橢圓;
步驟二:計算輪廓上的點到擬合出的橢圓的誤差距離;
步驟三:計算ValidPointPercent;
步驟四:過濾掉ValidPointPercent小于等于0.98的橢圓;
步驟五:計算軌跡的長度、橢圓的周長;
步驟六:計算LengthPercent;
步驟七:過濾掉LengthPercent小于等于0.8的橢圓;
步驟八:統計每一個橢圓的中心坐標,如果該中心坐標附近有3個及3個以上的其他橢圓中心的坐標,那么認為該橢圓是多圓環中的一個,反之則過濾掉。
8.根據權利要求7所述的一種反光片標志物的自動檢測系統,其特征在于,用于步驟二中,以第i個輪廓對應的第i個橢圓為例,根據如下公式進行計算:
x1i=xi-Cxi
y1i=yi-Cyi
x2i=cos(θi)*x1i+sin(θi)*y1i
y2i=-sin(θi)*x1i+cos(θi)*y1i
其中,xi和yi代表第i個輪廓上的點的坐標,ai和bi代表第i個橢圓的長短軸,Cxi和Cyi代表第i個橢圓的中心坐標,errori代表第i個輪廓上的點到第i個橢圓的誤差距離。
9.根據權利要求8所述的一種反光片標志物的自動檢測系統,其特征在于,用于步驟三中,根據如下公式進行計算:
其中,n代表輪廓上的所有點的個數。
10.根據權利要求9所述的一種反光片標志物的自動檢測系統,其特征在于,用于步驟五中,調用Opencv的arcLength函數計算每一條輪廓的長度,記為cntLength,按照如下公式計算橢圓的周長:
ellLength=pi*(3*(a+b)-sqrt((3*a+b)*(a+3*b)))
根據如下公式進行計算LengthPercent:
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