[發(fā)明專利]一種基于粒子群算法的航天BDR模塊剩余壽命預(yù)測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111551123.0 | 申請日: | 2021-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN114239373A | 公開(公告)日: | 2022-03-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 田前程;陳海濤;朱兼;丁帥;金超;黃洪鐘;黃軍;劉勇 | 申請(專利權(quán))人: | 上海空間電源研究所 |
| 主分類號: | G06F30/25 | 分類號: | G06F30/25;G06N3/00;G06F119/02 |
| 代理公司: | 上海元好知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31323 | 代理人: | 完增榮;張雙紅 |
| 地址: | 200245 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 粒子 算法 航天 bdr 模塊 剩余 壽命 預(yù)測 方法 | ||
1.一種基于粒子群算法的航天BDR模塊剩余壽命預(yù)測方法,其特征在于,包括:
S1、對航天BDR模塊的歷史數(shù)據(jù)進行分析,確定影響模塊壽命的關(guān)鍵元器件;
S2、針對關(guān)鍵元器件,開展退化機理分析;
S3、基于退化機理分析,構(gòu)建航天BDR模塊退化機理模型;
S4、計算航天BDR模塊剩余壽命預(yù)測的均方根誤差RMSE,并將其作為粒子群算法的適應(yīng)度函數(shù),
S5、根據(jù)粒子群適應(yīng)度函數(shù),計算粒子適應(yīng)度值;
S6、記錄個體和種群的最優(yōu)位置,更新粒子速度和位置,確定個體和種群的全局最優(yōu)位置;
S7、判斷均方根誤差RMSE是否達到最小,若沒有達到最小值,則返回步驟S5,繼續(xù)進行迭代,若達到了最小值或者迭代次數(shù)等于最大迭代次數(shù),結(jié)束迭代,完成航天BDR模塊的剩余壽命建模。
2.如權(quán)利要求1所述的基于粒子群算法的航天BDR模塊剩余壽命預(yù)測方法,其特征在于,所述步驟S1具體包括:
S11、收集航天BDR模塊的歷史數(shù)據(jù),對其展開數(shù)據(jù)分析;
S12、對比可能發(fā)生的故障機理,忽略影響較小的故障因素,從而確定影響模塊壽命的關(guān)鍵元器件。
3.如權(quán)利要求1所述的基于粒子群算法的航天BDR模塊剩余壽命預(yù)測方法,其特征在于,所述步驟S2具體包括:
S21、考慮工作時間和工作溫度,利用阿倫尼烏斯模型,對電阻開展退化機理分析,表達式為:
其中,ΔR、R分別t時刻的電阻差值和電阻值,T為溫度,B、C、D和F都是常數(shù);
S22、考慮工作溫度,利用阿倫尼烏斯模型,對電容開展退化機理分析,表達式為:
c=A·exp(-E/kT)
其中,c為電容,T為溫度,E為電容兩端電壓,A和k為常數(shù);
S23、將電感值作為電感的故障特征參數(shù),對電感開展退化機理分析,表達式為:
L(t)=L0-λt
其中,L(t)為t時刻的電感值,L0為初始時刻電感的標稱值,λ為退化模型參數(shù);
S24、將導(dǎo)通電阻間接作為反映功率二極管退化程度的故障特征參數(shù),對功率二極管開展退化機理分析,表達式為:
ΔRD=a·[eb·t-1]
其中,ΔRD t時刻的導(dǎo)通電阻,a和b為常數(shù);
S25、不考慮封裝結(jié)構(gòu)失效,只考慮芯片結(jié)構(gòu)失效的情況下,對MOSFET開展退化機理分析,表達式為:
其中,ΔVth是器件剛開始導(dǎo)通時的柵源極電壓,Cox為氧化層電容,ΔQot和ΔQit分別表示氧化層陷阱電荷和界面態(tài)陷阱電荷的數(shù)目的變化量。
4.如權(quán)利要求1所述的基于粒子群算法的航天BDR模塊剩余壽命預(yù)測方法,其特征在于,所述步驟S3具體包括:
S31、建立基于濕熱的退化模型,表達式為:
其中,L(H,T)代表的是濕熱老化壽命,b和c均為待定模型參數(shù),A為常數(shù),H是相對濕度,T為絕對溫度;
S32、基于退化模型,利用最小二乘法實現(xiàn)參數(shù)辨識確定退化模型的參數(shù);
S33、考慮到數(shù)據(jù)存在誤差,利用RANSAC算法進行異常值剔除;
S34、將剔除異常值的數(shù)據(jù)再次進行擬合,并將擬合結(jié)果的退化模型外推到失效閾值,得到關(guān)鍵元器件的失效時間,從而獲得過的關(guān)鍵元器件的剩余使用壽命預(yù)測值。
5.如權(quán)利要求1所述的基于粒子群算法的航天BDR模塊剩余壽命預(yù)測方法,其特征在于,所述步驟S4具體包括:
S41、根據(jù)步驟S3所得的剩余使用壽命的預(yù)測值,計算航天BDR模塊剩余壽命預(yù)測的均方根誤差RMSE;
所述均方根誤差RMSE公式如下:
其中n代表預(yù)測次數(shù),x(i)代表航天BDR模塊實際的壽命,代表航天BDR模塊的預(yù)測壽命;
S42、將均方根誤差作為粒子群算法的適應(yīng)度函數(shù)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海空間電源研究所,未經(jīng)上海空間電源研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202111551123.0/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





