[發(fā)明專利]表面質(zhì)量檢查裝置及表面質(zhì)量檢查方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111550662.2
• 申請日: 2021-12-17
• 公開（公告）號: CN114235816A
• 公開（公告）日: 2022-03-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 徐聰聰;趙家輝;焦亞飛;巫立民;宋明忠;王海兵
• 申請（專利權(quán)）人: 中國船舶重工集團公司第七一一研究所
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N27/84
• 代理公司: 上海專利商標事務(wù)所有限公司 31100
• 代理人: 喻學兵

1.表面質(zhì)量檢查裝置，用于檢查曲軸軸頸圓角的表面質(zhì)量，其特征在于，所述表面質(zhì)量檢查裝置包括：

成像裝置，用于生成所述圓角的表面圖像；

安裝支座，用于安裝在所述軸頸；

連接支架，用于將所述成像裝置連接到所述安裝支座，并調(diào)節(jié)所述成像裝置與所述圓角的相對位置；

處理裝置，與所述成像裝置信號連接，用于獲取所述圓角的所述表面圖像，并判斷所述圓角是否存在表面缺陷；

其中，所述成像裝置能夠繞所述軸頸的軸線旋轉(zhuǎn)。

2.如權(quán)利要求1所述的表面質(zhì)量檢查裝置，其特征在于，所述處理裝置包括比較單元和控制單元，所述比較單元用于比較所述圓角的所述表面圖像與預(yù)設(shè)的典型缺陷圖像，并將比較結(jié)果輸出至所述控制單元，所述控制單元用于根據(jù)所述比較結(jié)果判斷所述圓角是否存在表面缺陷，并定位所述表面缺陷。

3.如權(quán)利要求2所述的表面質(zhì)量檢查裝置，其特征在于，所述處理裝置還包括顯示單元，所述顯示單元用于顯示所述圓角的所述表面缺陷的位置及圖像。

4.如權(quán)利要求2所述的表面質(zhì)量檢查裝置，其特征在于，所述處理裝置還包括存儲單元，所述存儲單元用于儲存所述典型缺陷圖像，以及所述圓角的所述表面缺陷的位置及圖像。

5.如權(quán)利要求1至4中任一項所述的表面質(zhì)量檢查裝置，其特征在于，所述成像裝置為電子放大鏡。

6.如權(quán)利要求1至4中任一項所述的表面質(zhì)量檢查裝置，其特征在于，所述安裝支座包括導(dǎo)向部，所述連接支架包括導(dǎo)向配合部和調(diào)節(jié)部，所述導(dǎo)向配合部與所述導(dǎo)向部可移動地連接，以對所述成像裝置的旋轉(zhuǎn)運動提供導(dǎo)向，所述調(diào)節(jié)部用于將所述成像裝置連接到所述導(dǎo)向配合部，并調(diào)節(jié)所述成像裝置與所述圓角的相對位置。

7.如權(quán)利要求1至4中任一項所述的表面質(zhì)量檢查裝置，其特征在于，所述表面質(zhì)量檢查裝置包括兩個所述成像裝置，分別設(shè)置在所述安裝支座的軸向兩側(cè)；或所述表面質(zhì)量檢查裝置包括一個所述成像裝置，所述成像裝置可以連接至所述安裝支座的軸向任意一側(cè)。

8.如權(quán)利要求1至4中任一項所述的表面質(zhì)量檢查裝置，其特征在于，所述安裝支座包括沿所述軸頸的周向分布的刻度標記，用于讀取所述成像裝置的周向位置。

9.如權(quán)利要求1至4中任一項所述的表面質(zhì)量檢查裝置，其特征在于，所述安裝支座包括座孔，所述座孔套設(shè)在所述軸頸的徑向外側(cè)，所述安裝支座包括沿軸向平面剖分的第一支座和第二支座，所述第一支座和所述第二支座可拆卸地連接，所述第一支座包括第一半孔，所述第二支座包括第二半孔，所述第一半孔和所述第二半孔組成所述座孔。

10.如權(quán)利要求1至4中任一項所述的表面質(zhì)量檢查裝置，其特征在于，所述表面質(zhì)量檢查裝置還包括軸頸保護件，所述軸頸保護件設(shè)置在所述安裝支座與所述軸頸之間，用于保護所述軸頸的表面。

11.表面質(zhì)量檢查方法，用于檢查曲軸軸頸圓角的表面質(zhì)量，其特征在于，所述表面質(zhì)量檢查方法采用如權(quán)利要求1至10中任一項所述的表面質(zhì)量檢查裝置，包括以下步驟：

使所述成像裝置繞所述軸頸的軸線旋轉(zhuǎn)，在旋轉(zhuǎn)過程中獲取所述圓角的表面圖像，并將所述表面圖像傳輸至所述處理裝置；

比較所述圓角的表面圖像與預(yù)設(shè)的典型缺陷圖像，判斷所述圓角是否存在表面缺陷，并定位所述表面缺陷。