[發明專利]一種紅外溫度計輔助校準組件以及室溫校準方法

在審

• 申請號: 202111544456.0
• 申請日: 2021-12-16
• 公開（公告）號: CN114216574A
• 公開（公告）日: 2022-03-22
• 發明（設計）人: 張秀斌
• 申請（專利權）人: 棒糖科技（杭州）股份有限公司
• 主分類號: G01J5/80
• 分類號: G01J5/80
• 代理公司: 杭州匯和信專利代理有限公司 33475
• 代理人: 薛文玲

本發明提供一種紅外溫度計室溫校準方法，溫度計與輔助校準組件通訊連接形成校準系統，輔助校準組件包括溫度檢測件，包括以下步驟：校準系統進入校準模式，在一定的室溫溫度條件下，通過溫度檢測件獲取當前環境的實際室溫溫度以及校準模式下溫度檢測件的adc數值；溫度計獲取校準模式下溫度檢測件的adc數值，并將校準模式下溫度檢測件的adc數值代入校準參數計算公式，獲得校準參數；根據實際室溫溫度，查表獲得實際室溫溫度對應的電阻值數據；溫度計將校準參數以及實際室溫溫度對應的電阻值數據代入溫度計算公式，獲得檢測溫度；本發明增加了溫度計進行室溫溫度校準的便捷性以及效率，降低了溫度計進行室溫溫度校準的成本。

技術領域

本發明涉及溫度計領域，尤其是涉及一種紅外溫度計輔助校準組件以及室溫校準方法。

背景技術

由于紅外溫度計在出廠或正常使用過程中，需要進行環境溫度的校準，通常情況需要將紅外溫度計放入恒溫房或浸入恒溫水槽來對紅外溫度計進行環境溫度的校準。

其中，將紅外溫度計放入恒溫房進行校準時，由于人員進出空氣對流等原因，環境溫度依舊存在波動問題，室溫校準難以準確，并且恒溫房設備購置及維護的成本高昂企業無法承擔；而將紅外溫度計侵入水槽時，需要將紅外溫度計部分主體及探頭侵入水槽液當中保持20分鐘以上，并且需要對紅外溫度計套上一層防水膜，這種方式比較繁瑣難以批量快速生產。

發明內容

本發明的目的在于提供一種增加溫度計進行室溫溫度校準的便捷性以及效率、降低溫度計進行室溫溫度校準成本的紅外溫度計輔助校準組件以及室溫校準方法。

為解決上述技術問題，本發明提供了一種紅外溫度計室溫校準方法，溫度計與輔助校準組件通訊連接形成校準系統，輔助校準組件包括溫度檢測件，包括以下步驟：

步驟1、校準系統進入校準模式，在一定的室溫溫度條件下，通過溫度檢測件獲取當前環境的實際室溫溫度以及校準模式下溫度檢測件的adc數值；

步驟2、溫度計獲取校準模式下溫度檢測件的adc數值，并將校準模式下溫度檢測件的adc數值代入校準參數計算公式，獲得校準參數；

步驟3、根據實際室溫溫度，查表獲得實際室溫溫度對應的電阻值數據；

步驟4、溫度計將校準參數以及實際室溫溫度對應的電阻值數據代入溫度計算公式，獲得檢測溫度。

進一步的，步驟2中，校準參數計算公式為：

Js＝V/(0.56+(V-0.56*Jadc)/Jadc)；

其中，Js為校準參數，V為溫度檢測件的滿量程adc數值，Jadc為校準模式下溫度檢測件的adc數值。

進一步的，步驟3中，通過實際室溫溫度在溫度電阻對照表中查找實際室溫溫度對應的電阻值數據。

進一步的，步驟4中，溫度計算公式為：

Rj＝Lut(Tj)；

Rntc＝(V-0.56*Js)*Yadc*Rj/(Js*(V-0.56*Yadc))；

Tamb＝Lut(Rntc)；

其中，Tj為校準模式下的實際室溫溫度，Lut(Tj)為依據實際室溫溫度查表獲得對應的電阻值，Rj為校準模式下實際室溫溫度對應的電阻值，Rntc為運行模式下溫度檢測件的電阻值，Yadc為運行模式下溫度檢測件的adc數值，Lut(Rntc)為依據運行模式下溫度檢測件的電阻值查表獲得對應的溫度，Tamb為溫度計的檢測溫度。

進一步的，步驟1中，一定的室溫溫度條件為10℃-30℃。

本發明還公開了一種使用紅外溫度計室溫校準方法的輔助校準組件，包括用于獲取當前環境的實際室溫溫度的溫度檢測件。