[發明專利]一種平面反射鏡陣列的校準系統及方法

有效

• 申請號: 202111543500.6
• 申請日: 2021-12-16
• 公開（公告）號: CN114236743B
• 公開（公告）日: 2023-09-29
• 發明（設計）人: 張震坤;王靜;范小禮;白翔;徐小琴;周健;王俊;鄧蓉;姚石磊
• 申請（專利權）人: 北京環境特性研究所;中國人民解放軍63921部隊
• 主分類號: G02B7/182
• 分類號: G02B7/182;G02B7/198
• 代理公司: 北京格允知識產權代理有限公司 11609
• 代理人: 王文雅

1.一種平面反射鏡陣列的校準系統，其特征在于，包括：校準組件（1）、微調組件、控制裝置（2）、水平儀和方位儀；

所述校準組件（1）與所述控制裝置（2）電連接，所述校準組件（1）和待校準的平面反射鏡陣列（3）連接，所述平面反射鏡陣列（3）包括鏡框（32）和與所述鏡框（32）連接的多塊平面反射鏡（31），所述校準組件（1）用于接收由所述控制裝置（2）發來的第一校準指令，并根據所述第一校準指令對所述平面反射鏡陣列（3）中的目標平面反射鏡進行水平調整；

所述微調組件用于對除所述目標平面反射鏡外的每塊平面反射鏡（31）的水平度進行微調，以使所有平面反射鏡（31）均處于水平狀態；

所述水平儀用于對所有平面反射鏡（31）的水平度進行測量；

所述校準組件（1）還用于接收由所述控制裝置（2）發來的第二校準指令，并根據所述第二校準指令將所有平面反射鏡（31）由水平狀態轉變為豎直狀態；

所述方位儀用于對處于豎直狀態的所有平面反射鏡（31）的方位角進行校準，以使所有平面反射鏡（31）的方位角為目標方位角；

所述的校準系統的校準方法包括如下步驟：

利用所述控制裝置（2）發出第一校準指令，所述校準組件（1）根據所述第一校準指令對所述平面反射鏡陣列（3）中的目標平面反射鏡進行水平調整；

利用所述微調組件對除所述目標平面反射鏡外的每塊平面反射鏡（31）的水平度進行微調，以使所有平面反射鏡（31）均處于水平狀態；

利用所述水平儀測量所有平面反射鏡（31）的水平度；

利用所述控制裝置（2）發出第二校準指令，所述校準組件（1）根據所述第二校準指令將所有平面反射鏡（31）由水平狀態轉變為豎直狀態；

利用所述方位儀對處于豎直狀態的所有平面反射鏡（31）的方位角進行校準，以使所有平面反射鏡（31）的方位角為目標方位角，所述控制裝置（2）的控制系統中設置有預設坐標系，預設坐標系用于標定所有平面反射鏡（31）的標準值；

所述校準組件（1）包括位姿調整器（11）、固定于所述位姿調整器（11）上的橫梁（12）以及固定于所述橫梁（12）上的至少一個副梁（13），所述副梁（13）與所述鏡框（32）連接；

所述位姿調整器（11）與所述控制裝置（2）連接，所述位姿調整器（11）用于接收所述控制裝置（2）發來的所述第一校準指令和所述第二校準指令；

所述位姿調整器（11）根據所述第一校準指令，通過與所述橫梁（12）、所述副梁（13）配合對所述目標平面反射鏡進行水平調整；

所述位姿調整器（11）根據所述第二校準指令，通過與所述橫梁（12）、所述副梁（13）配合將所有平面反射鏡（31）由水平狀態轉變為豎直狀態；

所述校準系統還包括支撐柱（4），所述支撐柱（4）的一端與所述位姿調整器（11）連接；

所述位姿調整器（11）和所述平面反射鏡陣列（3）的幾何中心與所述支撐柱（4）橫截面的幾何中心位于同一條豎直于地面的垂線上；

所述目標平面反射鏡位于所述平面反射鏡陣列（3）的中心。

2.根據權利要求1所述的校準系統，其特征在于，所述位姿調整器（11）包括水平絲杠、俯仰絲杠和轉向機，所述水平絲杠和所述俯仰絲杠通過抱箍連接到所述轉向機；

所述轉向機與所述控制裝置（2）連接，所述轉向機用于接收所述第一校準指令和所述第二校準指令；

所述轉向機通過所述水平絲杠使所述位姿調整器（11）進行水平調整，通過所述俯仰絲杠使所述位姿調整器（11）進行俯仰調整。

3.根據權利要求1所述的校準系統，其特征在于，所述微調組件為多個調節螺絲，除所述目標平面反射鏡外的每塊平面反射鏡（31）均有至少四個所述調節螺絲穿過鏡框（32）與其連接，通過調整調節螺絲，使所有平面反射鏡（31）均處于水平狀態。

4.根據權利要求1所述的校準系統，其特征在于，所述支撐柱（4）的另一端設置有底座（5）。