[發明專利]Mura缺陷補償方法、裝置、設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202111539463.1
• 申請日: 2021-12-15
• 公開（公告）號: CN114241979B
• 公開（公告）日: 2023-05-23
• 發明（設計）人: 張躍
• 申請（專利權）人: 惠州視維新技術有限公司
• 主分類號: G09G3/32
• 分類號: G09G3/32
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 林勁松

本申請提供一種Mura缺陷補償方法、裝置、設備和計算機可讀存儲介質，本申請中的Mura缺陷補償方法包括：對Mini?LED顯示屏中顯示分區的灰階檢測畫面進行Mura分析，得到顯示分區的Mura缺陷信息；根據Mura缺陷信息確定顯示分區的灰階偏離等級；基于灰階偏離等級對顯示分區進行背光亮度補償，消除顯示分區的Mura缺陷。本申請中的Mura缺陷補償方法能夠實現在僅通過調整Mini?LED顯示屏的背光亮度情況下解決因顯示屏Mura缺陷和Mini?LED背光區域亮暗不均導致的顯示屏整體的Mura缺陷進行Mura缺陷補償，優化Mini?LED顯示屏顯示效果，提高Mini?LED顯示屏產品的生產效率。

技術領域

本申請涉及顯示控制領域，具體涉及一種Mura缺陷補償方法、裝置、設備和存儲介質。

背景技術

目前，隨著顯示技術的發展，越來越多的顯示屏采用Mini-LED背光進行背光顯示，采用Mini-LED背光的顯示屏所能夠呈現色彩更加鮮艷的畫面效果，帶來更好的視覺體驗。現有的顯示屏產品針對Mura缺陷的改善方法為通過Demura算法對面板上的Mura做分區補償處理，而現有的Demura算法操作過程復制，嚴重影響了面板生產效率。而采用Mini-LED背光的顯示屏由于方案設計和/或工藝方面原因，在顯示同一灰階情況下，也會產生不同區塊亮度不均勻的情況，這使得即使顯示屏面板通過Demura算法改善了顯示屏面板的面板Mura缺陷，但是由于Mini-LED背光原因，在顯示屏顯示時，仍然會存在背光Mura缺陷，現有的顯示屏整體的Mura缺陷問題亟待改善。

發明內容

本申請實施例提供一種Mura缺陷補償方法、裝置、設備和存儲介質，旨在解決現有技術中Mini-LED顯示屏通過面板Mura算法無法改善背光Mura缺陷的技術問題。

一方面，本申請實施例提供一種Mura缺陷補償方法，所述Mura缺陷補償方法包括以下步驟：

對Mini-LED顯示屏中顯示分區的灰階檢測畫面進行Mura分析，得到所述目標分區的Mura缺陷信息；

根據所述Mura缺陷信息確定所述顯示分區的灰階偏離等級；

基于所述灰階偏離等級對所述顯示分區進行背光亮度補償，消除所述顯示分區的Mura缺陷。

在本申請一些實施例中，所述對Mini-LED顯示屏中顯示分區的灰階檢測畫面進行Mura分析，得到所述目標分區的Mura缺陷信息，包括：

獲取所述灰階檢測畫面的拍攝圖像，對所述拍攝圖像進行圖像識別，定位所述顯示分區中的Mura分布區域；

獲取所述Mura分布區域的灰階信息，根據所述灰階信息生成所述顯示分區的Mura缺陷信息。

在本申請一些實施例中，所述根據所述Mura缺陷信息確定所述顯示分區的背光偏離等級，包括：

獲取所述灰階檢測畫面的基準檢測灰階；

將所述基準檢測灰階和所述Mura缺陷信息中的所述灰階信息進行對比，得到灰階對比結果；

根據所述灰階對比結果確定所述顯示分區中的Mura分布區域的灰階偏離等級。

在本申請一些實施例中，所述基于所述灰階偏離等級對所述顯示分區進行背光亮度補償，消除所述顯示分區的Mura缺陷，包括：

查詢預設的背光亮度補償表，確定所述灰階偏離等級所對應的背光亮度補償值；

根據所述背光亮度補償值對顯示分區的Mura分布區域進行背光亮度補償，消除所述Mura分布區域的Mura缺陷。

在本申請一些實施例中，所述根據所述背光亮度補償值對顯示分區的Mura分布區域進行背光亮度補償，消除所述Mura分布區域的Mura缺陷，包括：