[發明專利]一種通用型可調式快速插拔PER測試裝置及安裝、使用方法

有效

• 申請號: 202111525985.6
• 申請日: 2021-12-14
• 公開（公告）號: CN114279680B
• 公開（公告）日: 2022-12-13
• 發明（設計）人: 鄒支農;朱松根;胡昌平
• 申請（專利權）人: 高安天孚光電技術有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 南昌市贛昌知識產權代理事務所(普通合伙) 36140
• 代理人: 徐彩練

本發明公開了一種通用型可調式快速插拔PER測試裝置及安裝、使用方法，測試裝置包括準直器、偏振隔離器、光學器件固定套筒、可調式旋轉座；準直器包括金屬套筒、定位陶瓷插芯、限位陶瓷套管和準直透鏡，準直器、偏振隔離器分別套設于光學器件固定套筒左端孔和右端孔內；可調式旋轉座可旋轉連接于光學器件固定套筒外側，右端設有產品插拔孔。本發明測試產品時光源經由定位陶瓷插芯內的光纖進行傳輸，通過準直透鏡后變成平行光，射入偏振隔離器后形成一個方向的線偏振光，通過微調旋轉可調式旋轉座，使線偏振光的偏振方向與PM保偏產品的慢軸方向平行，實現了高效率、高良率、高精度的測試，大大降低了測試難度和制作成本。

技術領域

本發明涉及PM保偏產品PER偏振消光比測試技術領域，尤其涉及一種通用型可調式快速插拔PER測試裝置及安裝、使用方法。

背景技術

傳統的PER偏振消光比測試裝置，在現實測試作業過程中很難實現非標準PM保偏產品（如短纖PM-FA類、特殊組件類等）的測試。且傳統PER偏振消光比測試裝置測試短纖類產品時，需要外接一根PM跳線連接進行接觸式測試.但外接一個PM跳線接觸式測試往往容易因對接導致測試插芯端面損傷或測試產品端面損傷，且PM保偏類產品PER偏振消光比的測試值準確性受外接PM跳線本身PER偏振消光比的干擾，導致測試產品PER偏振消光比的測試準確性比較差。

發明內容

為了解決上述背景技術中傳統的PER偏振消光比測試裝置很難實現試非標準PM保偏產品（如短纖PM-FA類、特殊組件類等）的測試，傳統PER偏振消光比測試裝置測試短纖類產品時需要外接一根PM跳線連接進行接觸式測試，容易損傷測試產品端面，測試結果受外接PM跳線本身PER偏振消光比的干擾，使測試準確性差的問題，本發明提供了一種通用型可調式快速插拔PER測試裝置：

一種通用型可調式快速插拔PER測試裝置，其特征在于：包括準直器、偏振隔離器、隔離器限位玻璃管、光學器件固定套筒、可調式旋轉座、限位套筒和測試支架；

所述準直器包括金屬套筒、定位陶瓷插芯、限位陶瓷套管和準直透鏡，所述限位陶瓷套管套設于金屬套筒內，所述定位陶瓷插芯內部中間插設有光纖，該定位陶瓷插芯插設于限位陶瓷套管內，右端面設為從右上往左下方傾斜的斜面，該斜面與定位陶瓷插芯徑向的夾角設為8°～10°，所述準直透鏡套設于金屬套筒右端內孔中，設有凸頭的一端伸出金屬套筒外，所述準直透鏡的左端面與定位陶瓷插芯右端面平行且隔開一定間隙設置，使準直器的耦合光斑達到95～105μm；

所述光學器件固定套筒包括同軸設置的套筒部和螺桿部，所述套筒部外圓面中間安裝于測試支架上端，所述螺桿部設于套筒部右側，外徑小于套筒部外徑，右端外側面上設有外螺紋，所述光學器件固定套筒內部設有同軸的左大右小的階梯孔，所述金屬套筒右端套設于階梯孔左端孔內，并固定連接；

所述偏振隔離器采用迷你型的偏振隔離器，封裝于隔離器限位玻璃管內，所述隔離器限位玻璃管封裝于階梯孔右端孔內；

所述可調式旋轉座包括同軸設置并固定連接的鋸齒式旋轉頭和產品固定套，所述鋸齒式旋轉頭內左端設有安裝孔，右端設有第一沉孔，所述安裝孔套設于螺桿部左端外圓面上，并與螺桿部左端外圓面設為間隙配合，間隙配合公差設為20～100μm，所述產品固定套設于鋸齒式旋轉頭右端，外徑小于鋸齒式旋轉頭外徑，內部左端設有第二沉孔，右端設有產品插拔孔，所述產品插拔孔的形狀及大小均與測試產品插芯相配合，所述第一沉孔與第二沉孔孔徑一致，所述安裝孔、第一沉孔、第二沉孔和產品插拔孔均同軸；

所述限位套筒內部設有內螺紋孔，與螺桿部外螺紋螺紋連接，所述限位套筒右端設有六角頭；

所述產品插拔孔內插入測試產品插芯后，轉動鋸齒式旋轉頭可以帶動測試產品插芯一起轉動，改變測試產品的慢軸方向，使線偏振光的方向與慢軸方向平行，使測試產品的偏振消光比達到最大值。