[發明專利]顯示面板的殘像測試方法及相關裝置

在審

• 申請號: 202111521401.8
• 申請日: 2021-12-13
• 公開（公告）號: CN114332197A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 王書鋒;張仁偉
• 申請（專利權）人: 合肥維信諾科技有限公司
• 主分類號: G06T7/62
• 分類號: G06T7/62;G06T7/00;G01M11/02
• 代理公司: 廣東君龍律師事務所 44470
• 代理人: 丁建春

1.一種顯示面板的殘像測試方法，其特征在于，包括：

使所述顯示面板顯示中灰階畫面，并獲得所述顯示面板中多個第一測試區域和多個第二測試區域的第一亮度數據；其中，所述顯示面板設置有第一選定區域和第二選定區域，所述第一選定區域內設置有多個所述第一測試區域，所述第二選定區域內設置有多個所述第二測試區域，且一個所述第一測試區域和一個所述第二測試區域構成一個測試組，同一所述測試組內的所述第一測試區域和所述第二測試區域關于所述顯示面板的第一中軸線對稱設置；

使位于所述第一中軸線一側的所述顯示面板顯示黑畫面，且位于所述第一中軸線另一側的所述顯示面板顯示白畫面；

使所述顯示面板顯示所述中灰階畫面，并獲得多個所述第一測試區域和多個所述第二測試區域的第二亮度數據；

根據同一測試組內的所述第一測試區域和所述第二測試區域的第一亮度數據和第二亮度數據獲得第一殘像參數；

利用多個所述測試組的所述第一殘像參數獲得第二殘像參數。

2.根據權利要求1所述的殘像測試方法，其特征在于，所述利用多個所述測試組的所述第一殘像參數獲得第二殘像參數的步驟，包括：

利用多個所述測試組的所述第一殘像參數和對應的第一權重值獲得第二殘像參數；其中，同一所述測試組中的所述第一測試區域與所述第二測試區域之間的第一距離越大，所述第一權重值越小。

3.根據權利要求2所述的殘像測試方法，其特征在于，所述利用多個所述測試組的所述第一殘像參數和對應的第一權重值獲得第二殘像參數的步驟，包括：

獲得每個所述測試組的所述第一殘像參數和對應的第一權重值之間的第一乘積；其中，所有所述第一權重值之和為一；

將所有所述第一乘積之和作為所述第二殘像參數。

4.根據權利要求2或3所述的殘像測試方法，其特征在于，所述利用多個所述測試組的所述第一殘像參數和對應的第一權重值獲得第二殘像參數的步驟之前，包括：

獲得每個所述測試組中所述第一測試區域與所述第二測試區域之間的第一距離；

獲得所有所述第一距離的第一和值，并獲得每個所述測試組的所述第一距離與所述第一和值的第一比值；

根據每個所述測試組的所述第一距離的大小從多個所述第一比值中選擇一個作為所述第一權重值；其中，所述第一距離越大，所選擇的所述第一權重值越小。

5.根據權利要求1所述的殘像測試方法，其特征在于，所述使所述顯示面板顯示中灰階畫面，并獲得所述顯示面板中多個第一測試區域和多個第二測試區域的第一亮度數據的步驟之前，包括：

對所述顯示面板進行劃分以獲得至少一組所述第一選定區域和所述第二選定區域；其中，同組內的所述第一選定區域和所述第二選定區域關于所述第一中軸線對稱設置；

對所述第一選定區域進行劃分以獲得多個所述第一測試區域、以及對所述第二選定區域進行劃分以獲得多個所述第二測試區域；其中，多個所述第一測試區域和多個所述第二測試區域沿垂直于所述第一中軸線方向并排設置。

6.根據權利要求5所述的殘像測試方法，其特征在于，

所有所述第一測試區域和所述第二測試區域的形狀和面積相同，相鄰所述第一測試區域或相鄰所述第二測試區域對應的所述第一權重值之間的差值相同；

優選地，所述顯示面板包括與所述第一中軸線相互垂直的第二中軸線，每一所述第一測試區域關于所述第二中軸線對稱，每一所述第二測試區域關于所述第二中軸線對稱。