[發(fā)明專利]免調(diào)試的射頻發(fā)射和接收集成電路性能的檢測設(shè)備

在審

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• 申請日: 2021-12-10
• 公開（公告）號: CN114167262A
• 公開（公告）日: 2022-03-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 章斌杰;王孔寶
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市芯杰矽科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳科潤知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44724
• 代理人: 周曉菊

1.免調(diào)試的射頻發(fā)射和接收集成電路性能的檢測設(shè)備，其特征在于：包括底板(1)，所述底板(1)的上表面邊側(cè)固定連接有制冷箱(2)，且制冷箱(2)邊側(cè)的上表面固定安裝有制熱箱(3)，并且制冷箱(2)的底部內(nèi)壁設(shè)置有制冷機構(gòu)(4)，而且制熱箱(3)的內(nèi)壁安裝有制熱機構(gòu)(5)；

所述制冷箱(2)和制熱箱(3)的上端內(nèi)壁均固定連接有定位臂(6)，且定位臂(6)的內(nèi)部貫穿設(shè)置有限位桿(7)，并且限位桿(7)的下端部固定連接有第一密封板(8)，而且制冷箱(2)和制熱箱(3)的邊側(cè)內(nèi)壁均固定安裝有限位臂(9)，同時限位臂(9)的外壁套設(shè)有第二密封板(10)，所述第二密封板(10)的內(nèi)部嵌入設(shè)置有動力磁鐵(11)；

所述制冷箱(2)和制熱箱(3)的上表面邊側(cè)均通過支架(12)和檢測箱(13)的下表面相連接，且檢測箱(13)的下表面安裝有調(diào)節(jié)軟管(14)的一端，并且調(diào)節(jié)軟管(14)的另一端設(shè)置有連接機構(gòu)(15)，而且檢測箱(13)的底部內(nèi)壁安裝有放置架(16)；

所述檢測箱(13)的邊側(cè)外壁固定連接有定位套管(17)，且定位套管(17)的內(nèi)壁活動安裝有旋桿(18)，并且旋桿(18)的端部固定連接有干擾磁鐵(19)，而且干擾磁鐵(19)的邊側(cè)膠合固定有鐵板(20)；

所述檢測箱(13)的上端內(nèi)壁螺紋連接有密封蓋(21)，且密封蓋(21)的內(nèi)壁固定連接有風(fēng)罩(22)，并且風(fēng)罩(22)的下端內(nèi)部嵌入設(shè)置有電扇(23)，而且密封蓋(21)的上表面安裝有通氣軟管(24)的一端，同時通氣軟管(24)的另一端設(shè)置有鎖定套管(25)，所述鎖定套管(25)的內(nèi)部嵌入設(shè)置有推動磁鐵(26)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的免調(diào)試的射頻發(fā)射和接收集成電路性能的檢測設(shè)備，其特征在于：所述定位臂(6)和限位桿(7)組成滑動結(jié)構(gòu)，且限位桿(7)和限位臂(9)的端部形狀均為“T”字形形狀設(shè)置，并且定位臂(6)通過彈簧和第一密封板(8)相連接，而且第一密封板(8)分別與制冷箱(2)和制熱箱(3)相貼合。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的免調(diào)試的射頻發(fā)射和接收集成電路性能的檢測設(shè)備，其特征在于：所述限位臂(9)和第二密封板(10)滑動設(shè)置，且限位臂(9)通過彈簧和第二密封板(10)相連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的免調(diào)試的射頻發(fā)射和接收集成電路性能的檢測設(shè)備，其特征在于：所述第二密封板(10)分別與制冷箱(2)和制熱箱(3)貼合設(shè)置，且第二密封板(10)上的動力磁鐵(11)和推動磁鐵(26)為同性磁極相向設(shè)置。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的免調(diào)試的射頻發(fā)射和接收集成電路性能的檢測設(shè)備，其特征在于：所述連接機構(gòu)(15)包括連接套管(1501)和頂桿(1502)，且連接套管(1501)安裝于調(diào)節(jié)軟管(14)遠離檢測箱(13)的端部，并且連接套管(1501)的內(nèi)壁固定連接有頂桿(1502)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的免調(diào)試的射頻發(fā)射和接收集成電路性能的檢測設(shè)備，其特征在于：所述連接套管(1501)分別與制冷箱(2)和制熱箱(3)螺紋連接，且連接套管(1501)內(nèi)部的頂桿(1502)和限位桿(7)貼合連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的免調(diào)試的射頻發(fā)射和接收集成電路性能的檢測設(shè)備，其特征在于：所述定位套管(17)和旋桿(18)螺紋設(shè)置，且旋桿(18)端部的干擾磁鐵(19)分別與檢測箱(13)和定位套管(17)滑動連接，并且干擾磁鐵(19)端部的鐵板(20)和檢測箱(13)貼合設(shè)置。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的免調(diào)試的射頻發(fā)射和接收集成電路性能的檢測設(shè)備，其特征在于：所述鎖定套管(25)分別與制冷箱(2)和制熱箱(3)螺紋連接，且鎖定套管(25)的內(nèi)部等角度開設(shè)有孔洞。