[發明專利]一種摻稀土光纖預制棒軸向吸收均勻性的測試裝置及方法

在審

• 申請號: 202111504617.3
• 申請日: 2021-12-10
• 公開（公告）號: CN114199517A
• 公開（公告）日: 2022-03-18
• 發明（設計）人: 武洋;潘蓉;朱維震;劉君;衣永青;楊鵬;龐璐;沈一澤;耿鵬程
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十六研究所
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G01N21/84
• 代理公司: 天津中環專利商標代理有限公司 12105
• 代理人: 王鳳英

1.一種摻稀土光纖預制棒軸向吸收均勻性的測試裝置，其特征在于，所述裝置包括測試光源組件，預制棒固定裝置和探測器；其中，測試光源組件固定在位移導軌上，測試光源組件和探測器由緊固件連接，使兩者同步水平運動，運動方向和預制棒軸向一致；探測器固定在位移平臺上，位移平臺在緊固件上垂直于摻稀土光纖預制棒的軸向運動，位移平臺固定在支撐座上；所述預制棒固定裝置由兩個圓形卡盤組成，兩個卡盤垂直固定在支撐座上，兩個卡盤圓心連接線水平且平行于位移導軌，兩個卡盤沿圓心轉動。

2.一種采用如權利要求1所述的摻稀土光纖預制棒軸向吸收均勻性的測試裝置的測試方法，其特征在于，所述測試方法步驟如下：

S1、使用酒精或丙酮將待測摻稀土光纖預制棒的表面擦拭干凈，避免油污污染；

S2、將待測摻稀土光纖預制棒穿過兩個卡盤圓心，由兩個卡盤緊固預制棒的兩端；

S3、調節測試光源組件垂直位置，使光斑的邊緣位于摻稀土光纖預制棒徑向兩側，確保摻稀土光纖預制棒在徑向上完全被光源照射；

S4、調整測試光源組件和探測器水平位置，使光斑照射在待測摻稀土光纖預制棒的軸向待測位置；記錄該位置探測器接收的光功率值；

S5、移動測試光源組件和探測器的水平位置，對待測摻稀土光纖預制棒的軸向不同位置進行測試，并記錄不同位置的功率值；

S6、根據待測摻稀土光纖預制棒的軸向不同位置的測試功率值，得到待測稀土光纖預制棒軸向上的吸收均勻性。

3.根據權利要求2所述的一種摻稀土光纖預制棒軸向吸收均勻性的測試方法，其特征在于，所用測試光源組件輸出的波長根據光纖預制棒摻雜的稀土離子確定。

4.根據權利要求3所述的一種摻稀土光纖預制棒軸向吸收均勻性的測試方法，其特征在于，所述測試光源組件的輸出光束垂直照射待測稀土光纖預制棒軸向，且照射在預制棒上的光斑尺寸大于待測稀土光纖預制棒直徑，確保待測稀土光纖預制棒纖芯徑向上完全被光束照射。