[發明專利]一種基于蒙皮缺陷檢測系統的飛機蒙皮缺陷檢測的識別方法

在審

• 申請號: 202111504411.0
• 申請日: 2021-12-10
• 公開（公告）號: CN114255215A
• 公開（公告）日: 2022-03-29
• 發明（設計）人: 潘甜;王松濤;謝中敏;劉子琪;劉啟明;周鉑焱
• 申請（專利權）人: 江蘇航空職業技術學院
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/45;G06N5/02;G06N5/04
• 代理公司: 鎮江京科專利商標代理有限公司 32107
• 代理人: 張寧波

1.一種基于蒙皮缺陷檢測系統的飛機蒙皮缺陷檢測的識別方法，包括以下步驟：

步驟A：圖像采集，利用高清智能相機拍攝飛機蒙皮圖片并對所拍攝到的原始飛機蒙皮缺陷圖像進行預處理；

步驟B；采用灰度共生矩陣提取不同的缺陷類型下蒙皮表面的特征參數，從而建立飛機蒙皮特征參數集；

步驟C：通過人類已有的經驗和知識結合步驟B中的特征參數集建立知識庫，得到若干條缺陷識別規則集；

步驟D：根據飛機蒙皮表面缺陷類型的不同，通過基于蒙皮缺陷檢測系統的推理機的缺陷推理手段對飛機蒙皮缺陷實時檢測。

2.按照權利要求1所述的基于蒙皮缺陷檢測系統的飛機蒙皮缺陷檢測的識別方法，其特征在于：所述步驟A中，原始飛機蒙皮缺陷圖像進行預處理是通過實驗對比通過預處理方式對原始飛機蒙皮缺陷圖像進行預處理，便于后期提取圖像特征參數。

3.按照權利要求1所述的基于蒙皮缺陷檢測系統的飛機蒙皮缺陷檢測的識別方法，其特征在于：所述步驟B中，采用灰度共生矩陣提取蒙皮表面的特征參數的具體過程為：選用不同方向的4個不同性質的特征參數值，取步長，構造、、和四個方向的灰度共生矩陣，并進行矩陣的歸一化處理，從而取得灰度共生矩陣的相關參數，通過在多維參數基礎上進行參數降維處理，從而實現飛機蒙皮缺陷的分類檢測。

4.按照權利要求1-3之一所述的基于蒙皮缺陷檢測系統的飛機蒙皮缺陷檢測的識別方法，其特征在于：所述步驟D中，推理具體過程為：蒙皮缺陷檢測系統通過獲取特征參數集并結合人類的經驗和知識作為知識庫中的數據，形成相應的推理規則存儲在蒙皮缺陷檢測系統中，通過采用正向推理過程，選用產生式規則的形式進行缺陷推理，從知識庫中已有的規則出發，進行匹配分析，從而推理出不同的缺陷類型。

5.按照權利要求4所述的基于蒙皮缺陷檢測系統的飛機蒙皮缺陷檢測的識別方法，其特征在于：通過基于蒙皮缺陷檢測系統中，分為四個模塊；第一模塊為原始飛機蒙皮缺陷圖像采集和預處理模塊；第二模塊為預處理后飛機蒙皮缺陷圖像特征參數提取模塊；第三模塊為蒙皮缺陷知識庫模塊；第四模塊為蒙皮缺陷推理機模塊。

6.按照權利要求5所述的基于蒙皮缺陷檢測系統的飛機蒙皮缺陷檢測的識別方法，其特征在于：所述第一模塊用于通過高清智能相機拍攝飛機蒙皮的缺陷圖像并進行預處理構建樣本庫；所述第二模塊用于完成經預處理后缺陷圖像特征參數的提取；所述第三模塊用于建立適用于后續推理的若干條產生式規則集；所述第四模塊利用蒙皮缺陷檢測系統的正向推理技術，根據相應的規則推理出具體的缺陷類型，從而實時輸出蒙皮缺陷類型。