[發明專利]測試用例復用方法、裝置、電子設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202111496636.6 | 申請日: | 2021-12-09 |
| 公開(公告)號: | CN114265767A | 公開(公告)日: | 2022-04-01 |
| 發明(設計)人: | 喻妍;何渝君;方清;張磊;鄔明罡 | 申請(專利權)人: | 瀚云科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 楊奇松 |
| 地址: | 214000 江蘇省無錫市無錫新區新*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 用例復用 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種測試用例復用方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取測試用例,其中,所述測試用例包括測試用例所對應的測試用例步驟、以及參數;
通過關鍵字封裝所述測試用例獲得封裝后的測試用例,其中,所述關鍵字包括預設判斷條件和與所述測試用例相關的后續測試的測試用例的編號,所述預設判斷條件包括所述參數和預設基準值;以及
檢測對所述封裝后的測試用例的調用,并在檢測到對其調用時,按照所述預設判斷條件,確定調用的所述后續測試的測試用例的編號。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,其中,所述參數包括判斷參數;所述方法還包括:通過配置所述測試用例的最終步驟的值為所述判斷參數,配置所述測試用例的所述測試用例步驟和所述參數的對應關系。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述通過關鍵字封裝所述測試用例獲得封裝后的測試用例,包括:
封裝判斷參數和預設基準值為所述預設判斷條件。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,其中,所述判斷參數包括字符串、數字以及變量引用;所述預設基準值包括與所述判斷參數相對應的字符串、數字以及變量引用。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
采用runcaseif語句調用所述通過關鍵字封裝的測試用例。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述檢測對所述封裝后的測試用例的調用,并在檢測到對其調用時,按照所述預設判斷條件,確定調用的所述后續測試的測試用例的編號,包括:
所述后續測試的測試用例的編號包括:第一測試用例的編號和第二測試用例的編號;
若判斷參數與預設基準值滿足所述預設判斷條件,則基于所述第一測試用例的編號調用第一測試用例。
7.根據權利要求6所述的方法,其特征在于,所述檢測對所述封裝后的測試用例的調用,并在檢測到對其調用時,按照所述預設判斷條件,確定調用的所述后續測試的測試用例的編號,還包括:
若所述判斷參數與所述預設基準值不滿足所述預設判斷條件,則基于所述第二測試用例的編號調用所第二測試用例。
8.一種測試用例復用裝置,其特征在于,所述裝置包括:
獲取模塊,用于獲取測試用例,其中,所述測試用例包括測試用例所對應的測試用例步驟、以及參數;
封裝模塊,用于通過關鍵字封裝所述測試用例獲得封裝后的測試用例,其中,所述關鍵字包括預設判斷條件和與所述測試用例相關的后續測試的測試用例的編號,所述預設判斷條件包括參數和預設基準值;以及
確定模塊,用于檢測對所述封裝后的測試用例的調用,并在檢測到對其調用時,按照所述預設判斷條件,確定調用的所述后續測試的測試用例的編號。
9.一種電子設備,其特征在于,所述電子設備包括存儲器和處理器,所述存儲器中存儲有程序指令,所述處理器運行所述程序指令時,執行權利要求1-7中任一項所述方法中的步驟。
10.一種計算機可讀存儲介質,其特征在于,所述計算機可讀存儲介質中存儲有計算機程序指令,所述計算機程序指令被一處理器運行時,執行權利要求1-7任一項所述方法中的步驟。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于瀚云科技有限公司,未經瀚云科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202111496636.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種耐溶劑反應型聚氨酯熱熔膠及其制備方法
- 下一篇:一種食品安全檢測儀





