[發(fā)明專利]基于微環(huán)諧振陣列的拉曼光譜片上檢測系統(tǒng)及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111495329.6 | 申請日: | 2021-12-08 |
| 公開(公告)號: | CN114034642B | 公開(公告)日: | 2023-10-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張潔;陳昕陽;孫寧;朱永;王寧 | 申請(專利權(quán))人: | 重慶大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/65 |
| 代理公司: | 北京海虹嘉誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11129 | 代理人: | 胡博文 |
| 地址: | 400044 *** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 諧振 陣列 光譜 檢測 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種基于微環(huán)諧振陣列的拉曼光譜片上檢測系統(tǒng),其特征在于:包括激勵光發(fā)射器、傳感單元、濾波單元以及檢測單元;
所述激勵光發(fā)射器的輸出端與傳感單元的輸入端耦合連接;所述傳感單元的輸出端與濾波單元的輸入端連接;所述濾波單元的輸出端與檢測單元的輸入端連接;所述傳感單元的上表面附著有待測分子;
所述檢測單元包括m個微環(huán)諧振模塊以及與微環(huán)諧振模塊一一對應(yīng)的m個探測模塊;所述微環(huán)諧振模塊包括第一直波導(dǎo)、微環(huán)波導(dǎo)以及第二直波導(dǎo);所述m個微環(huán)諧振模塊中微環(huán)波導(dǎo)的半徑均不相同;所述微環(huán)波導(dǎo)分別與第一直波導(dǎo)以及第二直波導(dǎo)耦合連接;所述微環(huán)諧振模塊中第二直波導(dǎo)與探測模塊連接;
第1個微環(huán)諧振模塊的第一直波導(dǎo)為檢測單元的輸入端;所述m個微環(huán)諧振模塊根據(jù)如下方式依次串聯(lián):
第1個、第2個、…、第m-1個微環(huán)諧振模塊的第一直波導(dǎo)與第2個、…、第m個微環(huán)諧振模塊的第一直波導(dǎo)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于微環(huán)諧振陣列的拉曼光譜片上檢測系統(tǒng),其特征在于:所述傳感單元包括波導(dǎo)結(jié)構(gòu)層以及形成于波導(dǎo)結(jié)構(gòu)層上表面的表面增強拉曼層;所述表面增強拉曼層的上表面附著有待測分子;
所述激勵光發(fā)射器的輸出端通過耦合器與波導(dǎo)結(jié)構(gòu)層的輸入端耦合連接;所述波導(dǎo)結(jié)構(gòu)層的輸出端與濾波單元的輸入端連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于微環(huán)諧振陣列的拉曼光譜片上檢測系統(tǒng),其特征在于:所述表面增強拉曼層包括金屬納米粒子;所述金屬納米粒子為金納米粒子、銀納米粒子以及銅納米粒子中的一種。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于微環(huán)諧振陣列的拉曼光譜片上檢測系統(tǒng),其特征在于:所述濾波單元包括瑞利濾波器;所述瑞利濾波器用于濾除瑞利光以及激勵光。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于微環(huán)諧振陣列的拉曼光譜片上檢測系統(tǒng),其特征在于:所述探測模塊包括探測器;所述探測器用于探測各種波長的拉曼光信號。
6.一種利用權(quán)利要求1-5任一項所述的檢測系統(tǒng)檢測待測分子的檢測方法,其特征在于:包括如下步驟:
S1.將n個中心波長待標(biāo)點輸入到檢測單元進(jìn)行標(biāo)定,得到微環(huán)諧振傳輸矩陣Sm×n;其中,m為微環(huán)諧振模塊的個數(shù);
S2.使用所述檢測系統(tǒng)對待測分子進(jìn)行檢測,得到待測分子的強度矩陣Dm×1;
S3.預(yù)設(shè)一個拉曼光譜信息矩陣Pn×1,并計算微環(huán)諧振傳輸矩陣Sm×n與拉曼光譜信息矩陣Pn×1的乘積,得到乘積后的矩陣D′m×1;
S4.調(diào)整矩陣Pn×1中的參數(shù)值,使得矩陣D′m×1與強度矩陣Dm×1相同,并將矩陣D′m×1與強度矩陣Dm×1相同時,設(shè)置的矩陣Pn×1作為目標(biāo)矩陣;
S5.將目標(biāo)矩陣中各元素分別與n個中心波長一一對應(yīng),得到待測分子的拉曼光譜;
S6.將待測分子的拉曼光譜與拉曼光譜庫進(jìn)行拉曼特征峰比對,識別待測分子的指紋譜線。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于微環(huán)諧振陣列的拉曼光譜片上檢測方法,其特征在于:所述步驟S4中,根據(jù)公式min imize||Pn×1||2調(diào)整矩陣Pn×1中的參數(shù)值,使得Dm×1-Sm×nPn×1=0,進(jìn)而得到目標(biāo)矩陣;其中,所述目標(biāo)矩陣中各元素的取值均≥0。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





