[發明專利]溫度自校準方法、溫度測量網絡、電子器件及電子設備

在審

• 申請號: 202111490949.0
• 申請日: 2021-12-08
• 公開（公告）號: CN114235215A
• 公開（公告）日: 2022-03-25
• 發明（設計）人: 張振亮;金軍貴
• 申請（專利權）人: 成都海光微電子技術有限公司
• 主分類號: G01K15/00
• 分類號: G01K15/00
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 楊奇松

1.一種溫度自校準方法，其特征在于，應用于控制器上，所述控制器與至少一個模擬溫度傳感器ATS和至少一個數字溫度傳感器DTS連接；所述DTS布設在所述ATS周圍，且所述ATS和所述DTS布設于芯片的測溫區域上；所述方法包括：

獲取所述ATS檢測到的第一溫度數據和所述DTS檢測到的數字碼；

以所述第一溫度數據為基準，根據所述第一溫度數據和所述DTS檢測到的數字碼，確定所述DTS的最新校準參數；

將所述DTS的校準參數更新為所述最新校準參數。

2.如權利要求1所述的溫度自校準方法，其特征在于，以所述第一溫度數據為基準，根據所述第一溫度數據和所述DTS檢測到的數字碼，確定所述DTS的最新校準參數，包括：

根據所述DTS當前時刻檢測到的數字碼和所述DTS當前的校準參數，計算出所述DTS的第二溫度數據；

根據所述第一溫度數據和所述第二溫度數據之間的差異，確定所述DTS的最新校準參數。

3.如權利要求2所述的溫度自校準方法，其特征在于，根據所述第一溫度數據和所述第二溫度數據之間的差異，確定所述DTS的最新校準參數，包括：

根據所述第一溫度數據和所述第二溫度數據，計算所述DTS的溫度誤差；

根據所述溫度誤差和所述DTS當前時刻檢測到的數字碼，計算得到參數偏差；

根據所述DTS當前的校準參數和所述參數偏差，確定出所述DTS的最新校準參數。

4.如權利要求3所述的溫度自校準方法，其特征在于，根據所述溫度誤差和所述DTS當前時刻檢測到的數字碼，計算得到參數偏差，包括：

按照以下公式計算得到參數偏差：

ΔA＝μ·(Temp_DTS-Temp_ATS)·[0 x⁰ x¹ … x^n-1]^-1

其中，ΔA為參數偏差，μ為預設常量，Temp_DTS為第二溫度數據，Temp_ATS為第一溫度數據，x為數字碼。

5.如權利要求1所述的溫度自校準方法，其特征在于，獲取所述ATS檢測到的第一溫度數據和所述DTS檢測到的數字碼，包括：

獲取所述ATS在n個時刻分別檢測到的第一溫度數據和所述DTS在所述n個時刻分別檢測到的數字碼；所述n為預設的大于1的正整數；

以所述第一溫度數據為基準，根據所述第一溫度數據和所述DTS檢測到的數字碼，確定所述DTS的最新校準參數，包括：

以各時刻的第一溫度數據作為所述DTS在各時刻應當測得的標準溫度數據，構建以最新校準參數為未知量的，與所述第一溫度數據、最新校準參數和數字碼相關的方程組；

對所述方程組求解，得到所述最新校準參數。

6.如權利要求1所述的溫度自校準方法，其特征在于，在以所述第一溫度數據為基準，根據所述第一溫度數據和所述DTS檢測到的數字碼，確定所述DTS的最新校準參數之前，所述方法還包括：

根據所述DTS當前時刻檢測到的數字碼和所述DTS當前的校準參數，計算出所述DTS的第二溫度數據；

根據所述第一溫度數據和所述第二溫度數據，計算所述DTS的溫度誤差；

確定所述DTS的溫度誤差未在預設的溫度誤差允許范圍內。

7.如權利要求1-5任一項所述的溫度自校準方法，其特征在于，所述ATS為多個，布設在所述芯片的不同測溫區域上；所述DTS為多個，分別布設在至少一個所述ATS的周圍；所述控制器內預先記錄有各所述DTS與各所述DTS所對對應的ATS的對應關系；

以所述第一溫度數據為基準，根據所述第一溫度數據和所述DTS檢測到的數字碼，確定所述DTS的最新校準參數，包括：

根據所述對應關系，確定當前待校準的DTS對應的目標ATS；

以所述目標ATS的第一溫度數據為基準，根據所述目標ATS的第一溫度數據和所述當前待校準的DTS檢測到的數字碼，確定所述當前待校準的DTS的最新校準參數。