[發明專利]一種高精度光學檢測系統及光學檢測設備

在審

• 申請號: 202111490160.5
• 申請日: 2021-12-08
• 公開（公告）號: CN114152573A
• 公開（公告）日: 2022-03-08
• 發明（設計）人: 張瑞華;張俊澤
• 申請（專利權）人: 南通職業大學
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/88;G01N21/956;F16M11/04;F16M11/06;F16M11/18
• 代理公司: 南通一恒專利商標代理事務所(普通合伙) 32553
• 代理人: 梁金娟

本發明公開的屬于檢測設備技術領域，具體為一種高精度光學檢測系統及光學檢測設備，包括機體、支撐側板和滑槽一，所述支撐側板固定安裝在機體上端，所述滑槽一開設在支撐側板內側，還包括：第一支架機構和第二支架機構，所述支架機構和第二支架機構分別安裝在支撐側板內側；所述第二支架機構包括升降組件，所述升降組件轉動安裝在支撐側板上，所述第一支架機構包括滑座一、滑座二和電動伸縮桿二，本發明有益效果是：通過在光學檢測設備中設置支架機構，使光學檢測設備中檢測攝像頭移動穩定平滑，不會產生震顫，以及可以調節電路板拍攝時候的高度，對電路板高清晰拍攝，使電路板的檢測精度更高。

技術領域

本發明涉及檢測設備技術領域，具體為一種高精度光學檢測系統及光學檢測設備。

背景技術

光學檢測設備是基于光學原理來對焊接生產中遇到的常見缺陷進行檢測的設備，當自動檢測時，機器通過攝像頭自動掃描PCB，采集圖像，測試的焊點與數據庫中的合格的參數進行比較，經過圖像處理，檢查出PCB上缺陷，并通過顯示器或自動標志把缺陷顯示/標示出來，供維修人員修整。

現有的光學檢測設備中檢測攝像頭在移動過程中以及停下時會產生輕微的震顫，導致電路板在檢測時候畫面會模糊，導致檢測精度降低。

為此，我們提出一種高精度光學檢測系統及光學檢測設備。

發明內容

鑒于上述和/或現有一種高精度光學檢測系統及光學檢測設備中存在的問題，提出了本發明。

因此，本發明的目的是提供一種高精度光學檢測系統及光學檢測設備，通過在光學檢測設備中設置支架機構，使光學檢測設備中檢測攝像頭移動穩定平滑，不會產生震顫，以及可以調節電路板拍攝時候的高度，對電路板高清晰拍攝，使電路板的檢測精度更高，能夠解決上述提出現有光學檢測設備中檢測攝像頭在移動過程中以及停下時會產生輕微的震顫，導致電路板在檢測時候畫面會模糊，導致檢測精度降低的問題。

為解決上述技術問題，根據本發明的一個方面，本發明提供了如下技術方案：

一種高精度光學檢測系統及光學檢測設備，其包括：機體、支撐側板和滑槽一，所述支撐側板固定安裝在機體上端，所述滑槽一開設在支撐側板內側，還包括：第一支架機構和第二支架機構，所述支架機構和第二支架機構分別安裝在支撐側板內側；

所述第二支架機構包括升降組件，所述升降組件轉動安裝在支撐側板上。

作為本發明所述的一種高精度光學檢測系統及光學檢測設備的一種優選方案，其中：所述第一支架機構包括滑座一、滑座二和電動伸縮桿二，所述滑座一和滑座二分別滑動連接在滑槽一內側，所述電動伸縮桿二安裝在滑槽一內側，所述電動伸縮桿二設置有兩組，兩組所述電動伸縮桿二輸出端分別連接在滑座一和滑座二的前端。

作為本發明所述的一種高精度光學檢測系統及光學檢測設備的一種優選方案，其中：所述滑座一和滑座二內側分別通過螺釘安裝支撐圓桿一和支撐圓桿二，所述支撐圓桿一和支撐圓桿二外壁均滑動連接滑塊，所述滑塊下端固定安裝支撐盤。

作為本發明所述的一種高精度光學檢測系統及光學檢測設備的一種優選方案，其中：所述支撐盤右端通過螺釘安裝連接塊，所述滑座一左端安裝電動伸縮桿一，所述電動伸縮桿一輸出端和連接塊右端連接。

作為本發明所述的一種高精度光學檢測系統及光學檢測設備的一種優選方案，其中：所述升降組件包括手輪、轉桿和齒輪，所述轉桿螺紋安裝在支撐側板內壁，所述齒輪安裝在轉桿后端，所述轉桿延伸至支撐側板前端外側，所述手輪安裝在轉桿前端。

作為本發明所述的一種高精度光學檢測系統及光學檢測設備的一種優選方案，其中：所述第二支架機構包括支撐板和齒輪條，所述齒輪條嚙合連接在齒輪側端，所述齒輪條下端內側安裝支撐板。