[發(fā)明專利]一種中壓開(kāi)關(guān)的測(cè)試裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111488814.0 | 申請(qǐng)日: | 2021-12-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114184948A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-03-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 顧如清;周翌嘉;余劍華;陳志洪;吳旭東 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無(wú)錫中科電氣設(shè)備有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/327 | 分類號(hào): | G01R31/327 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 楊義 |
| 地址: | 214000 江蘇省無(wú)*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 開(kāi)關(guān) 測(cè)試 裝置 | ||
本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種中壓開(kāi)關(guān)的測(cè)試裝置。該測(cè)試裝置包括:插接件、接線切換模塊、測(cè)試電路和控制器;其中,接線切換模塊與控制器電連接,測(cè)試電路包括多個(gè)測(cè)試模塊,每個(gè)測(cè)試模塊均與控制器以及接線切換模塊電連接,插接件用于連接接線切換模塊與待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān);多個(gè)測(cè)試模塊中的各測(cè)試模塊分別用于測(cè)試待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)的不同特性,控制器用于控制接線切換模塊切換與待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)電連接的測(cè)試模塊;多個(gè)測(cè)試模塊包括待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)的主回路測(cè)試模塊和控制回路測(cè)試模塊,控制回路測(cè)試模塊包括三路電源輸出端,三路電源輸出端用于分別提供合閘電壓、分閘電壓和儲(chǔ)能電壓。本發(fā)明實(shí)施例提供的中壓開(kāi)關(guān)的測(cè)試裝置,能夠提高測(cè)試的可靠性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實(shí)施例涉及開(kāi)關(guān)測(cè)試技術(shù),尤其涉及一種中壓開(kāi)關(guān)的測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
在核電站中,每年需要對(duì)運(yùn)行的中壓開(kāi)關(guān)進(jìn)行全面檢修,開(kāi)關(guān)檢測(cè)包括多種檢測(cè),如開(kāi)關(guān)的主回路電阻,一次絕緣電阻,二次絕緣,機(jī)械特性,電氣特性,輔助接點(diǎn)直阻,線圈直阻等,且給與檢修時(shí)間特別有限。
目前,現(xiàn)有的中壓開(kāi)關(guān)的測(cè)試裝置,通常不同的功能測(cè)試使用不同的儀器單獨(dú)測(cè)試,測(cè)試數(shù)據(jù)由人工記錄,這樣會(huì)帶來(lái)測(cè)試過(guò)程繁復(fù),各個(gè)功能測(cè)試交叉作業(yè),現(xiàn)場(chǎng)儀器占地多的問(wèn)題,并且需要大量拆接線,存在短路、錯(cuò)線風(fēng)險(xiǎn),測(cè)試過(guò)程繁瑣且有一定危險(xiǎn)性,影響測(cè)試的可靠性。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供一種中壓開(kāi)關(guān)的測(cè)試裝置,以提高測(cè)試的可靠性。
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種中壓開(kāi)關(guān)的測(cè)試裝置,包括:插接件、接線切換模塊、測(cè)試電路和控制器;
其中,接線切換模塊與控制器電連接,測(cè)試電路包括多個(gè)測(cè)試模塊,每個(gè)測(cè)試模塊均與控制器以及接線切換模塊電連接,插接件用于連接接線切換模塊與待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān);
多個(gè)測(cè)試模塊中的各測(cè)試模塊分別用于測(cè)試待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)的不同特性,控制器用于控制接線切換模塊切換與待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)電連接的測(cè)試模塊,以使不同的測(cè)試模塊分別對(duì)待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)進(jìn)行測(cè)試;
多個(gè)測(cè)試模塊包括待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)的主回路測(cè)試模塊和控制回路測(cè)試模塊,控制回路測(cè)試模塊包括三路電源輸出端,三路電源輸出端用于分別提供合閘電壓、分閘電壓和儲(chǔ)能電壓。
可選的,控制回路測(cè)試模塊還包括第一開(kāi)關(guān)單元,三路電源輸出端通過(guò)第一開(kāi)關(guān)單元與待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)的控制回路電連接,第一開(kāi)關(guān)單元與控制器電連接;
控制器還用于通過(guò)第一開(kāi)關(guān)單元控制待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)的分合閘,以使控制回路測(cè)試模塊測(cè)試待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)的分合閘線圈阻值。
可選的,三路電源輸出端包括合閘電壓輸出端、分閘電壓輸出端和儲(chǔ)能電壓輸出端,第一開(kāi)關(guān)單元包括第一開(kāi)關(guān)、第二開(kāi)關(guān)和第三開(kāi)關(guān),第一開(kāi)關(guān)、第二開(kāi)關(guān)和第三開(kāi)關(guān)分別與合閘電壓輸出端、分閘電壓輸出端和儲(chǔ)能電壓輸出端電連接。
可選的,控制回路測(cè)試模塊還包括絕緣測(cè)試端,第一開(kāi)關(guān)單元還包括第四開(kāi)關(guān),絕緣測(cè)試端通過(guò)第四開(kāi)關(guān)與待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)的控制回路電連接,第四開(kāi)關(guān)與控制器電連接;
控制器還用于控制第四開(kāi)關(guān)的通斷,以使控制回路測(cè)試模塊在第四開(kāi)關(guān)導(dǎo)通時(shí),對(duì)待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)的控制回路進(jìn)行絕緣測(cè)試。
可選的,主回路測(cè)試模塊包括絕緣電阻單元和第二開(kāi)關(guān)單元,第二開(kāi)關(guān)單元與控制器電連接,絕緣電阻單元通過(guò)第二開(kāi)關(guān)單元與待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)的主回路電連接。
可選的,第二開(kāi)關(guān)單元包括多個(gè)開(kāi)關(guān),控制器還用于控制多個(gè)開(kāi)關(guān)的通斷,以使主回路測(cè)試模塊對(duì)待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)的主回路進(jìn)行絕緣測(cè)試和電阻測(cè)試。
可選的,多個(gè)測(cè)試模塊還包括輔助觸點(diǎn)測(cè)試模塊,輔助觸點(diǎn)測(cè)試模塊用于對(duì)待測(cè)試中壓開(kāi)關(guān)的輔助觸點(diǎn)進(jìn)行通斷測(cè)試。
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- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 開(kāi)關(guān)、按鈕開(kāi)關(guān)和轉(zhuǎn)動(dòng)開(kāi)關(guān)
- 開(kāi)關(guān)和開(kāi)關(guān)組件
- 開(kāi)關(guān)及開(kāi)關(guān)面板
- 開(kāi)關(guān)(心的開(kāi)關(guān))
- 開(kāi)關(guān)(智慧開(kāi)關(guān))
- 開(kāi)關(guān)(智慧開(kāi)關(guān))
- 開(kāi)關(guān)(表情開(kāi)關(guān))
- 感應(yīng)開(kāi)關(guān)(雙開(kāi)關(guān))
- 電器開(kāi)關(guān)(雙開(kāi)關(guān))
- 開(kāi)關(guān)(雙位開(kāi)關(guān))
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
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