[發明專利]礦石光片磨拋方法

有效

• 申請號: 202111484946.6
• 申請日: 2021-12-07
• 公開（公告）號: CN114147576B
• 公開（公告）日: 2023-05-02
• 發明（設計）人: 肖儀武;方明山;劉方明
• 申請（專利權）人: 礦冶科技集團有限公司
• 主分類號: B24B13/00
• 分類號: B24B13/00;B24B27/00;B24B41/04;B24B47/12;B24B49/00;B24B49/12
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 劉文強

本發明提供了一種礦石光片磨拋方法，涉及光片磨拋技術領域，本發明提供的礦石光片自動磨拋設備，包括：磨拋部件、檢測部件、轉移部件、交互器和控制器；磨拋部件與檢測部件間隔設置；轉移部件用于拾取光片，并移送光片在磨拋部件和檢測部件之間移動；磨拋部件、檢測部件、轉移部件和交互器分別與控制器連接；交互器用于輸入礦石類型，控制器用于根據礦石類型配置磨拋部件的工藝參數。本發明提供的礦石光片磨拋方法，可針對不同的礦石特性自動選擇適宜的磨拋條件，并進行磨拋及質量檢測，不合格樣品繼續返回磨拋直至合格，實現全過程自動化，保證光片磨拋質量，又提高了磨拋加工效率。

技術領域

本發明涉及光片磨拋技術領域，尤其是涉及一種礦石光片磨拋方法。

背景技術

礦石光片主要用于反光偏光顯微鏡、掃描電子顯微鏡和電子探針觀察和分析。光片側重于對礦石中金屬礦物的研究，其主要是為了查明礦石中金屬礦物種類、粒度以及分布特征等。通過磨拋最終要使光片表面具有較高的光潔度、光滑如鏡，如果磨制的質量不好，則會影響到礦物鑒定和數據測量結果的準確性。

高質量的礦石光片的制備主要靠人工手動磨拋，工作效率較低。由于礦石樣品中礦物種類繁多，硬度等性質差別較大，對實際操作經驗要求很高。一名合格的磨片工人，一般需要經過十幾甚至二十幾年的磨練才能熟練掌握其中的技巧，制備出符合要求的光片。

此外，相對于相別單一的金相樣品來說，礦石樣品其中包含幾十種不同的礦物，組成相當復雜，而且不同的礦物具有不同的硬度等特性，所以用于金相樣品的自動磨拋機對礦石樣品來說適應性較差，無法完全滿足其磨拋質量要求。因此，現有的磨拋機無法針對不同類型的礦石材質實現磨、拋、質量檢測全流程的自動化。

發明內容

本發明的目的在于提供一種礦石光片磨拋方法，可以針對不同類型的礦石進行自動磨拋和檢測，保證光片的磨拋質量，又提高了磨拋效率。

第一方面，本發明提供的礦石光片自動磨拋設備，包括：磨拋部件、檢測部件、轉移部件、交互器和控制器；

所述磨拋部件與所述檢測部件間隔設置；

所述轉移部件用于拾取光片，并移送所述光片在所述磨拋部件和所述檢測部件之間移動；

所述磨拋部件、所述檢測部件、所述轉移部件和所述交互器分別與所述控制器連接；

所述交互器用于輸入礦石類型，所述控制器用于根據礦石類型配置所述磨拋部件的工藝參數。

結合第一方面，本發明提供了第一方面的第一種可能的實施方式，其中，所述檢測部件包括光澤度儀。

結合第一方面，本發明提供了第一方面的第二種可能的實施方式，其中，所述轉移部件包括：伸縮驅動缸和吸盤，所述吸盤安裝于所述伸縮驅動缸的活動端。

結合第一方面的第二種可能的實施方式，本發明提供了第一方面的第三種可能的實施方式，其中，所述伸縮驅動缸與所述吸盤之間安裝有橡膠緩沖器。

結合第一方面的第二種可能的實施方式，本發明提供了第一方面的第四種可能的實施方式，其中，所述伸縮驅動缸安裝在旋轉驅動器件上；

所述磨拋部件和所述檢測部件繞所述旋轉驅動器件的轉軸間隔設置。

結合第一方面的第四種可能的實施方式，本發明提供了第一方面的第五種可能的實施方式，其中，所述磨拋部件包括：細磨器件、精磨器件和拋光器件；

所述細磨器件、所述精磨器件和所述拋光器件繞所述旋轉驅動器件的轉軸間隔設置。

結合第一方面，本發明提供了第一方面的第六種可能的實施方式，其中，所述礦石光片自動磨拋設備還包括供液器件，所述供液器件的出液口朝向所述磨拋部件。

第二方面，本發明提供的礦石光片磨拋方法采用第一方面提供的礦石光片自動磨拋設備，且包括以下步驟：