[發明專利]芯片驗證過程中的故障處理方法、裝置和電子設備

在審

• 申請號: 202111484629.4
• 申請日: 2021-12-07
• 公開（公告）號: CN114356681A
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發明（設計）人: 索健;王正
• 申請（專利權）人: 北京愛芯科技有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 單冠飛

本申請提供一種芯片驗證過程中的故障處理方法、裝置和電子設備，包括：在芯片驗證過程中進行故障識別，響應于識別到故障，獲取故障的故障信息；確定與故障信息匹配的目標故障調試策略；執行目標故障調試策略，對故障進行故障調試；響應于故障調試結束，從故障的位置點繼續進行芯片驗證過程。本申請中，實現了對芯片驗證過程中的故障調試，避免了對芯片驗證對應的源代碼的修改以及對修改后的源代碼的重新仿真，有效縮短了芯片驗證過程中的故障修復時間，進而提高了芯片驗證的效率。

技術領域

本申請涉及芯片驗證領域，尤其涉及一種芯片驗證過程中的故障處理方法、裝置和電子設備。

背景技術

隨著社會的發展，芯片的驗證愈加重要。隨著芯片設計的復雜程度的增加，對于芯片的各個模塊的驗證的時間也隨之增加，進而使得芯片驗證過程中出現故障的修復時間也隨之增加，影響了芯片驗證的效率。

因此，如何提升芯片驗證的效率成為了目前需要解決的問題。

發明內容

本申請的目的旨在至少在一定程度上解決上述技術中的技術問題之一。

本申請第一方面提供了一種芯片驗證過程中的故障處理方法，包括：在芯片驗證過程中進行故障識別，響應于識別到故障，獲取所述故障的故障信息；確定與所述故障信息匹配的目標故障調試策略；執行所述目標故障調試策略，對所述故障進行故障調試；響應于故障調試結束，從所述故障的位置點繼續進行所述芯片驗證過程。

本申請第一方面提供的一種芯片驗證過程中的故障處理方法，還具備如下技術特征，包括：

根據本申請一實施例，所述確定與所述故障信息匹配的目標故障調試策略，包括：從所述故障信息中確定所述芯片驗證過程中的故障對象和對應的故障類型；根據所述故障對象和所述故障類型，確定所述目標故障調試策略。

根據本申請一實施例，所述根據所述故障對象和所述故障類型，確定所述目標故障調試策略，包括：響應于所述故障類型為所述芯片驗證過程中所述故障對象的配置故障，修改所述故障對象的配置參數，并作為所述目標故障調試策略；響應于所述故障類型為所述芯片驗證過程中所述故障對象的運行故障，調用匹配的調試測試序列，根據所述調試測試序列的運行結果對所述故障對象的運行故障進行調試，并作為所述目標故障調試策略；響應于所述故障類型為所述芯片驗證過程中所述故障對象的驗證缺失故障，調用對應的功能測試序列，根據所述功能測試序列的運行結果對所述故障對象的缺失的待驗證功能進行補充，并作為所述目標故障調試策略。

根據本申請一實施例，所述執行所述目標故障調試策略，對所述故障進行故障調試，包括：響應于識別到所述故障，啟動通用調試庫，其中，所述通用調試庫與所述芯片驗證平臺連接；接收所述通用調試庫傳輸的所述目標故障調試策略對應的目標故障調試指令，根據所述目標故障調試指令執行所述目標故障調試策略。

根據本申請一實施例，所述啟動通用調試庫，包括：觸發啟動代碼運行，啟動所述通用調試庫，其中，所述啟動代碼編譯于芯片驗證平臺的代碼中；或者，執行腳本，啟動所述通用調試庫。

根據本申請一實施例，所述執行所述目標調試處理策略，對所述故障進行故障調試之后，還包括：接收所述通用調試庫傳輸的調試檢測指令；運行所述調試檢測指令，根據所述調試檢測指令的運行結果，確定所述芯片驗證過程中的故障調試完成。

本申請第二方面提供了一種芯片驗證過程中的故障處理裝置，包括：識別模塊，用于在芯片驗證過程中進行故障識別，響應于識別到故障，獲取所述故障的故障信息；確定模塊，用于確定與所述故障信息匹配的目標故障調試策略；調試模塊，用于執行所述目標故障調試策略，對所述故障進行故障調試；驗證模塊，用于響應于故障調試結束，從所述故障的位置點繼續進行所述芯片驗證過程。

本申請第二方面提供的一種芯片驗證過程中的故障處理裝置，還具備如下技術特征，包括：