[發(fā)明專利]一種具有三角形埋層的絕緣層上硅LDMOS晶體管在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111483996.2 | 申請(qǐng)日: | 2021-12-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114171582A | 公開(公告)日: | 2022-03-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡月;張慧;丁怡;王高峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杭州電子科技大學(xué)溫州研究院有限公司;杭州電子科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L29/06 | 分類號(hào): | H01L29/06;H01L29/78 |
| 代理公司: | 浙江千克知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 33246 | 代理人: | 周雷雷 |
| 地址: | 325024 浙江省溫州市龍*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 具有 三角形 絕緣 層上硅 ldmos 晶體管 | ||
1.一種具有三角形埋層的絕緣層上硅LDMOS晶體管,包括襯底層、全埋氧層、硅膜層和器件頂層,其特征在于:所述的襯底層設(shè)置在底部,摻雜類型為P型,摻雜硅材料;襯底層上面為全埋氧層,所述的全埋氧層采用二氧化硅;全埋氧層上面為硅膜層;所述的硅膜層包括源區(qū)、硅體、漂移區(qū)、漏區(qū)和三角埋氧層;三角埋氧層采用二氧化硅材料,源區(qū)、硅體、漂移區(qū)、漏區(qū)都為硅材料;源區(qū)和硅體位于硅膜層一側(cè),硅體包圍源區(qū),且源區(qū)位于硅膜層頂部;漏區(qū)位于硅膜層另一側(cè)頂部;漏區(qū)、硅體和三角埋氧層之間的區(qū)域?yàn)槠茀^(qū);三角埋氧層位于全埋氧層上方,且三角埋氧層的底面與全埋氧層頂面貼合,三角埋氧層的底面兩側(cè)與漂移區(qū)兩側(cè)界面分別對(duì)齊;溝道由源區(qū)和漂移區(qū)之間的硅體提供;源區(qū)和漏區(qū)的摻雜類型為N型;硅體摻雜類型為P型;漂移區(qū)摻雜類型為N型;所述的器件頂層包括柵氧化層、擴(kuò)展氧化層、源電極、柵電極和漏電極;所述的柵氧化層位于溝道和漂移區(qū)上方,采用二氧化硅;所述的擴(kuò)展氧化層位于漂移區(qū)上方,采用二氧化硅;擴(kuò)展氧化層和柵氧化層的兩個(gè)相鄰側(cè)面接觸;柵氧化層被柵電極全部覆蓋,擴(kuò)展氧化層被柵電極部分覆蓋;所述的源電極位于源區(qū)上方,漏電極位于漏區(qū)上方。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種具有三角形埋層的絕緣層上硅LDMOS晶體管,其特征在于:所述襯底層的長度為110μm,摻雜濃度為4×1014cm-3;全埋氧層的厚度為3μm;硅膜層的厚度為20μm;源區(qū)和漏區(qū)的長度均為5μm,摻雜濃度為1×1020cm-3;硅體摻雜濃度為1×1017cm-3;溝道的長度為5μm;柵氧化層的厚度為30nm;擴(kuò)展氧化層的厚度為60nm;硅體的長度為15μm,厚度為8μm;三角埋氧層的厚度為19μm,長度為110μm;漂移區(qū)摻雜濃度為7×1014cm-3。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述一種具有三角形埋層的絕緣層上硅LDMOS晶體管,其特征在于:所述源區(qū)和漏區(qū)的厚度均為1μm,柵氧化層的長度為6μm,擴(kuò)展氧化層的長度為90μm。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





