[發(fā)明專利]一種有機(jī)發(fā)光器件測試裝置

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202111483561.8
• 申請(qǐng)日: 2021-12-07
• 公開（公告）號(hào): CN114023914A
• 公開（公告）日: 2022-02-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王健;于杰;陳鋼
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 南京迪鈦飛光電科技有限公司
• 主分類號(hào): H01L51/52
• 分類號(hào): H01L51/52;G01R31/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明公開了一種新型的有機(jī)發(fā)光器件測試裝置及其制造方法，先做一層電極層，分別為陰極和陽極，再做一層有機(jī)層，形成一定的坡度角。基板上的電極層和有機(jī)層圖形均按1/4中心對(duì)稱。本發(fā)明通過簡化傳統(tǒng)有機(jī)發(fā)光器件的測試裝置，使得有機(jī)發(fā)光器件的測試周期大大縮短，測試成本顯著降低。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及有機(jī)發(fā)光顯示領(lǐng)域，尤其涉及有機(jī)發(fā)光顯示器件的測試裝置，更進(jìn)一步本發(fā)明涉及基板簡化的有機(jī)發(fā)光顯示器件測試裝置。

背景技術(shù)

近年來，隨著技術(shù)的進(jìn)步和成本的降低，OLED（Organic Light-Emitting Diode，有機(jī)電致發(fā)光器件）得到了廣泛的應(yīng)用。與傳統(tǒng)的TFT-LCD（Thin Film Transistor-LiquidCrystal Display，薄膜晶體管液晶顯示器）技術(shù)相比，OLED具有可做成柔性器件的優(yōu)勢，應(yīng)用范圍更廣。OLED按照驅(qū)動(dòng)方式可分為無源OLED和有源OLED兩種。無源OLED在顯示過程中，需要較高的電流和電壓，從而導(dǎo)致功耗增加，最終導(dǎo)致顯示效率急劇降低，在大面積顯示中的應(yīng)用收到了限制。有源OLED采用薄膜晶體管驅(qū)動(dòng)，對(duì)各個(gè)像素單獨(dú)點(diǎn)亮，具有亮度高、分辨率高、功耗低、易于實(shí)現(xiàn)色彩化和大面積顯示等優(yōu)點(diǎn)，是現(xiàn)在普遍采用的方法。

目前常用的有源OLED發(fā)光器件包括：基板、ITO（Indium Tin Oxide，氧化銦錫）陽極、空穴注入層、空穴傳輸層、發(fā)光層、電子傳輸層、電子注入層、陰極。OLED發(fā)光器件在開發(fā)過程中，需要對(duì)器件的發(fā)光效率及光學(xué)性能進(jìn)行測試。

目前主要的測試方式為先在基板上制作薄膜晶體管，然后進(jìn)行有機(jī)膜層的蒸鍍，最后完成陰極制作之后再進(jìn)行測試。這種測試方式需要制作大量的薄膜晶體管基板，而有源OLED器件薄膜晶體管的制備工藝復(fù)雜，從而導(dǎo)致了OLED發(fā)光器件測試周期長，測試成本高。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種簡易的有機(jī)發(fā)光器件測試裝置，以解決上述問題。

本發(fā)明的上述目的是通過如下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn)的：

一種簡易的OLED器件測試裝置，包括基板、電極層和有機(jī)層，以及需要測試的空穴注入層、空穴傳輸層、發(fā)光層、電子傳輸層、電子注入層和陰極。

優(yōu)選地，一種頂發(fā)射型有機(jī)發(fā)光器件測試裝置，其特征在于，整個(gè)裝置的尺寸在10*10mm²~50*50mm²之間，先在襯底基板上制作陰極和陽極的電極層，然后再制作具有一定坡度的有機(jī)層，且可以形成多個(gè)類似圖案。

優(yōu)選地，所述測試裝置襯底基板材料可以是玻璃、二氧化硅、PI、PET等。

優(yōu)選地，所述測試裝置基板上的電極層材料可以為ITO/Ag/ITO疊層膜，通過光掩模版曝光顯影和刻蝕形成所需電極圖形。

優(yōu)選地，所述電極層圖形分為陽極和陰極，且1/4中心對(duì)稱，陽極和陰極之間互不相連。

優(yōu)選地，所述測試裝置基板上的有機(jī)層材料可以為PI、PLN等。

優(yōu)選地，所述有機(jī)層通過掩模版曝光形成四個(gè)中心對(duì)稱的方形凹坑，將有機(jī)發(fā)光器件的發(fā)光范圍限定在凹坑范圍內(nèi)。

本發(fā)明測試裝置完成后，通過蒸鍍或者印刷等制程工藝，將空穴注入層、空穴傳輸層、發(fā)光層、電子傳輸層、電子注入層制作在襯底上，再通過掩模版曝光等工藝制作頂部陰極，與底部陰極相連，即可進(jìn)行發(fā)光器件光電性能測試，因此本發(fā)明測試裝置有著很強(qiáng)的實(shí)用性和經(jīng)濟(jì)性。

附圖說明

圖1是目前傳統(tǒng)有源OLED發(fā)光器件示意圖

圖2 是本發(fā)明OLED發(fā)光器件測試裝置示意圖

圖3 是本發(fā)明第一種實(shí)施方式電極形狀示意圖

圖中：1、陽極電極 2、陰極底電極

圖4 是本發(fā)明第一種實(shí)施方式電極及有機(jī)層示意圖