[發(fā)明專利]直流電纜絕緣層內(nèi)空間電荷分布的計(jì)算方法、裝置及設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111479293.2 | 申請(qǐng)日: | 2021-12-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114357822A | 公開(公告)日: | 2022-04-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 展云鵬;侯帥;惠寶軍;傅明利;黎小林;張逸凡;馮賓;朱聞博;陳光輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南方電網(wǎng)科學(xué)研究院有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G06F30/23 | 分類號(hào): | G06F30/23;G06F30/25;G06F111/10;G06F113/16 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 麥小嬋 |
| 地址: | 510000 廣東省廣州市蘿崗區(qū)科*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 直流 電纜 絕緣 空間電荷 分布 計(jì)算方法 裝置 設(shè)備 | ||
1.一種直流電纜絕緣層內(nèi)空間電荷分布的計(jì)算方法,其特征在于,包括:
構(gòu)建直流電纜幾何模型;
設(shè)置在所述直流電纜幾何模型的絕緣層界面處的電子電荷注入過(guò)程;
設(shè)置在所述直流電纜幾何模型的絕緣層內(nèi)部的雜質(zhì)分子解離過(guò)程;
設(shè)置仿真邊界條件和所述直流電纜幾何模型的仿真模型參數(shù);
基于所述直流電纜幾何模型,對(duì)直流電纜絕緣層內(nèi)的空間電荷分布進(jìn)行仿真,獲得所述直流電纜絕緣層內(nèi)的空間電荷分布結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的直流電纜絕緣層內(nèi)空間電荷分布的計(jì)算方法,其特征在于,所述設(shè)置在所述直流電纜幾何模型的絕緣層界面處的電子電荷注入過(guò)程,具體為:
基于肖特基注入電流密度表達(dá)式,對(duì)在所述直流電纜幾何模型的絕緣層界面處的電子電荷注入過(guò)程進(jìn)行設(shè)置。
3.如權(quán)利要求2所述的直流電纜絕緣層內(nèi)空間電荷分布的計(jì)算方法,其特征在于,所述肖特基注入電流密度表達(dá)式具體為:
其中,je(ro,t)和jh(ri,t)分別表示電子載流子和空穴載流子的注入密度,ro為絕緣層的外徑,ri為絕緣層的內(nèi)徑,wei和whi分別表示電子載流子和空穴載流子在絕緣層界面處的注入勢(shì)壘高度,A為理查德森常數(shù),kB為玻爾茲曼常數(shù),e為元電荷,T為溫度,r為沿絕緣徑向位置,E為電場(chǎng)強(qiáng)度,ε0為真空介電常數(shù),εr為電介質(zhì)相對(duì)介電常數(shù)。
4.如權(quán)利要求1所述的直流電纜絕緣層內(nèi)空間電荷分布的計(jì)算方法,其特征在于,所述設(shè)置在所述直流電纜幾何模型的絕緣層內(nèi)部的雜質(zhì)分子解離過(guò)程,包括:
根據(jù)如下表達(dá)式對(duì)雜質(zhì)分子的解離率進(jìn)行設(shè)置:
其中,Dd為雜質(zhì)分子的解離率,wd表示當(dāng)雜質(zhì)分子解離為正離子和負(fù)離子時(shí)的解離勢(shì)壘高度,v為嘗試逃逸頻率,kB為玻爾茲曼常數(shù),T為溫度,E為電場(chǎng)強(qiáng)度,ε0為真空介電常數(shù),εr為電介質(zhì)相對(duì)介電常數(shù)。
5.如權(quán)利要求1所述的直流電纜絕緣層內(nèi)空間電荷分布的計(jì)算方法,其特征在于,所述對(duì)直流電纜絕緣層內(nèi)的空間電荷分布進(jìn)行仿真,獲得所述直流電纜絕緣層內(nèi)的空間電荷分布結(jié)果,具體為:
采用有限元法對(duì)所述直流電纜幾何模型進(jìn)行網(wǎng)格劃分,對(duì)直流電纜絕緣層內(nèi)的空間電荷分布進(jìn)行仿真,求解獲得所述直流電纜絕緣層內(nèi)的空間電荷分布結(jié)果。
6.如權(quán)利要求5所述的直流電纜絕緣層內(nèi)空間電荷分布的計(jì)算方法,其特征在于,所述求解獲得所述直流電纜絕緣層內(nèi)的空間電荷分布結(jié)果,具體為:
根據(jù)如下表達(dá)式求解獲得所述直流電纜絕緣層內(nèi)的空間電荷分布結(jié)果:
其中,V(r,t)為電壓值,r為直流電纜的半徑長(zhǎng)度,ρ為凈電荷密度,ε0為真空介電常數(shù),εr為電介質(zhì)相對(duì)介電常數(shù),n為電荷載流子密度,ja(r,t)為電流密度,μa(r,t)為電荷載流子遷移率,下標(biāo)a表示電荷種類,下標(biāo)μ表示電荷為自由電荷,E為電場(chǎng)強(qiáng)度,Df為擴(kuò)散系數(shù),s為源項(xiàng),表示電荷密度在局部范圍由于入陷、脫陷及復(fù)合導(dǎo)致的變化。
7.如權(quán)利要求1所述的直流電纜絕緣層內(nèi)空間電荷分布的計(jì)算方法,其特征在于,所述仿真邊界條件至少包括電壓值和溫度;
所述仿真模型參數(shù)至少包括初始離子對(duì)濃度、解離勢(shì)壘高度、注入勢(shì)壘高度、入陷概率參數(shù)、電荷遷移率、脫陷勢(shì)壘高度、陷阱密度和擴(kuò)散系數(shù)。
8.如權(quán)利要求1所述的直流電纜絕緣層內(nèi)空間電荷分布的計(jì)算方法,其特征在于,所述直流電纜幾何模型包括外屏蔽層、絕緣層、內(nèi)屏蔽層和電纜導(dǎo)體。
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