[發(fā)明專利]用于生成模型簇的方法、裝置及計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111472591.9 | 申請(qǐng)日: | 2021-11-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114186681A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-03-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張婉平;溫圣召 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京百度網(wǎng)訊科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06N3/08 | 分類號(hào): | G06N3/08;G06N3/04 |
| 代理公司: | 北京英賽嘉華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11204 | 代理人: | 王達(dá)佐;馬曉亞 |
| 地址: | 100085 北京市*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 生成 模型 方法 裝置 計(jì)算機(jī) 程序 產(chǎn)品 | ||
1.一種用于生成模型簇的方法,包括:
對(duì)預(yù)訓(xùn)練的教師模型進(jìn)行不同程度的模型蒸餾,得到多個(gè)學(xué)生模型;
基于訓(xùn)練數(shù)據(jù)集中的訓(xùn)練數(shù)據(jù),分別通過(guò)所述教師模型得到第一特征信息,通過(guò)所述多個(gè)學(xué)生模型得到第二特征信息;
根據(jù)所述第一特征信息和所述第二特征信息確定損失函數(shù);
基于所述損失函數(shù)更新所述多個(gè)學(xué)生模型;
將訓(xùn)練后的多個(gè)學(xué)生模型確定為目標(biāo)模型簇。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述根據(jù)所述第一特征信息和所述第二特征信息確定損失函數(shù),包括:
根據(jù)所述教師模型的第一特征信息和每個(gè)學(xué)生模型的第二特征信息之間的損失函數(shù),得到總損失函數(shù);以及
所述基于所述損失函數(shù)更新所述多個(gè)學(xué)生模型,包括:
根據(jù)所述總損失函數(shù),更新所述多個(gè)學(xué)生模型。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述對(duì)預(yù)訓(xùn)練的教師模型進(jìn)行不同程度的模型蒸餾,得到多個(gè)學(xué)生模型,包括:
對(duì)所述教師模型中用于特征提取的卷積通道分別進(jìn)行不同程度的減少,得到所述多個(gè)學(xué)生模型。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的方法,其中,還包括:
根據(jù)用于部署模型的目標(biāo)芯片的算力,確定所述目標(biāo)模型簇中適配于所述目標(biāo)芯片的目標(biāo)學(xué)生模型。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的方法,其中,所述教師模型為人臉識(shí)別模型,所述人臉識(shí)別模型通過(guò)如下方式訓(xùn)練得到:
獲取訓(xùn)練樣本集,其中,所述訓(xùn)練樣本集中的訓(xùn)練樣本包括樣本人臉圖像和分類標(biāo)簽;
利用機(jī)器學(xué)習(xí)方法,以訓(xùn)練樣本中的樣本人臉圖像為輸入,以所輸入的樣本人臉圖像對(duì)應(yīng)的分類標(biāo)簽為期望輸出,訓(xùn)練得到所述人臉識(shí)別模型。
6.一種用于生成模型簇的裝置,包括:
蒸餾單元,被配置成對(duì)預(yù)訓(xùn)練的教師模型進(jìn)行不同程度的模型蒸餾,得到多個(gè)學(xué)生模型;
得到單元,被配置成基于訓(xùn)練數(shù)據(jù)集中的訓(xùn)練數(shù)據(jù),分別通過(guò)所述教師模型得到第一特征信息,通過(guò)所述多個(gè)學(xué)生模型得到第二特征信息;
損失單元,被配置成根據(jù)所述第一特征信息和所述第二特征信息確定損失函數(shù);
更新單元,被配置成基于所述損失函數(shù)更新所述多個(gè)學(xué)生模型;
確定單元,被配置成將訓(xùn)練后的多個(gè)學(xué)生模型確定為目標(biāo)模型簇。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其中,所述損失單元,進(jìn)一步被配置成:
根據(jù)所述教師模型的第一特征信息和每個(gè)學(xué)生模型的第二特征信息之間的損失函數(shù),得到總損失函數(shù);以及
所述更新單元,進(jìn)一步被配置成:
根據(jù)所述總損失函數(shù),更新所述多個(gè)學(xué)生模型。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其中,所述蒸餾單元,進(jìn)一步被配置成:
對(duì)所述教師模型中用于特征提取的卷積通道分別進(jìn)行不同程度的減少,得到所述多個(gè)學(xué)生模型。
9.根據(jù)權(quán)利要求6-8中任一項(xiàng)所述的裝置,其中,還包括:
適配單元,被配置成根據(jù)用于部署模型的目標(biāo)芯片的算力,確定所述目標(biāo)模型簇中適配于所述目標(biāo)芯片的目標(biāo)學(xué)生模型。
10.根據(jù)權(quán)利要求6-8中任一項(xiàng)所述的裝置,其中,所述教師模型為人臉識(shí)別模型;以及
還包括:訓(xùn)練單元,被配置成通過(guò)如下方式訓(xùn)練得到所述人臉識(shí)別模型:
獲取訓(xùn)練樣本集,其中,所述訓(xùn)練樣本集中的訓(xùn)練樣本包括樣本人臉圖像和分類標(biāo)簽;利用機(jī)器學(xué)習(xí)方法,以訓(xùn)練樣本中的樣本人臉圖像為輸入,以所輸入的樣本人臉圖像對(duì)應(yīng)的分類標(biāo)簽為期望輸出,訓(xùn)練得到所述人臉識(shí)別模型。
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