[發明專利]一種規避顯示模組上下電燒傷的方法在審
| 申請號: | 202111467444.2 | 申請日: | 2021-12-02 |
| 公開(公告)號: | CN114283717A | 公開(公告)日: | 2022-04-05 |
| 發明(設計)人: | 楊春生;胡榕建 | 申請(專利權)人: | 深圳同興達科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00 |
| 代理公司: | 深圳市中科創為專利代理有限公司 44384 | 代理人: | 謝志龍 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍華區觀瀾街道新瀾*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 規避 顯示 模組 上下 燒傷 方法 | ||
本發明公開一種規避顯示模組上下電燒傷的方法,包括:上電流程,所述上電流程包括:步驟11:對VDDI線路進行上電;步驟12:讀取顯示模組的IC ID值;步驟13:判斷是否成功讀取顯示模組的IC ID值,如果讀取失敗,則對顯示模組進行下電。本發明可以規避顯示模組上電、下電時因為誤操作而燒傷顯示模組的線路,使得在線路接反的時候也可以有效保護顯示模組,有助于提升產品的良率。
技術領域
本發明涉及顯示模組技術領域,尤其涉及一種規避顯示模組上下電燒傷的方法。
背景技術
在顯示模組的檢測及與手機主板硬件連接時,所使用的BTB連接器為對稱形狀長方形,不具有防呆功能,易發生產品扣反、扣錯等相關問題。在測試設備或主板與顯示模組連接以后,系統通過MIPI傳輸指令數據讀取識別顯示模組的IC ID信息,此時VSP線路、VSN線路已上電,由于一般VSP線路、VSN的線路電壓為±6V,當連接器扣錯時,測試設備、手機主板等的VSP線路、VSN線路連接的是顯示模組的IOVCC線路、RST線路、MIPI線路等,而顯示模組的這些信號線正常工作電壓為1.8V或以下,因此會導致信號線因電壓過高燒壞。另外,在顯示模組的生產檢測過程中,檢測完以后需要對顯示模組下電再連接下一片顯示模組,檢測設備進行下電時是VSP線路、VSN線路、IOVCC線路先下電,BL線路后下電,并且BL線路下電比較緩慢,在BL線路下電時,如果下一片產品在連接時測試設備的BL線路觸碰顯示模組的VDDI線路等,會造成燒傷、燒壞VDDI線路。
因此,可見在顯示模組的上電過程、下電過程中存在可能燒傷損壞顯示模組的情況,現有技術存在缺陷,需要改進。
發明內容
本發明的目的是克服至少現有技術的不足,避免顯示模組在上電和/或下電時燒傷,提供一種規避顯示模組上下電燒傷的方法。
本發明的技術方案如下:本發明提供一種規避顯示模組上下電燒傷的方法,包括:上電流程,所述上電流程包括:步驟11:對VDDI線路進行上電;步驟12:讀取顯示模組的ICID值;步驟13:判斷是否成功讀取顯示模組的IC ID值,如果讀取失敗,則對顯示模組進行下電。
進一步地,所述步驟12中:判斷是否成功讀取顯示模組的IC ID值,如果讀取成功,則對VSP線路、VSN線路進行上電。
進一步地,所述方法還包括下電流程,所述下電流程包括:對BL線路進行下電,等待一段時間后再對VSN線路、VSP線路、MIPI線路進行下電。
進一步地,所述一段時間為50ms-500ms。
進一步地,所述步驟12中,通過對MIPI線路上電來讀取顯示模組的IC ID值。
采用上述方案,本發明的有益效果在于:可以規避顯示模組上電、下電時因為誤操作而燒傷顯示模組的線路,使得在線路接反的時候也可以有效保護顯示模組,有助于提升產品的良率。
附圖說明
圖1為本發明一實施例的上電流程的流程圖。
具體實施方式
以下結合附圖和具體實施例,對本發明進行詳細說明。
本方案中,VDDI線路:為數字電壓,也叫IOVCC,是測試板給IC提供的1.8V的工作電壓;VSP線路:為模擬電路提供電壓,為測試板給IC提供的+6V左右的工作電壓;VSN線路:為模擬電路提供電壓,為測試板給IC提供的-6V左右的工作電壓;MIPI線路:mipi信號是差分信號,為一正一負兩根線,主要是為IC工作傳輸命令和送數據功能;BL線路:為LCM背光源,給LCM背光提供電源。
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