[發明專利]一種在氧化鎵材料中摻雜金屬原子的實現方法在審
| 申請號: | 202111453562.8 | 申請日: | 2021-12-01 |
| 公開(公告)號: | CN114156185A | 公開(公告)日: | 2022-03-08 |
| 發明(設計)人: | 馬奎;楊發順;楊賚;姬凱迪;高燦燦 | 申請(專利權)人: | 貴州大學 |
| 主分類號: | H01L21/385 | 分類號: | H01L21/385;C23C14/08;C23C14/18;C23C14/35;C23C14/58 |
| 代理公司: | 貴陽中新專利商標事務所 52100 | 代理人: | 商小川 |
| 地址: | 550025 貴州省貴*** | 國省代碼: | 貴州;52 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 氧化 材料 摻雜 金屬 原子 實現 方法 | ||
1.一種在氧化鎵材料中摻雜金屬原子的實現方法,其特征在于:它包括:
步驟1、選取C面藍寶石(Al2O3)作為襯底材料;
步驟2、采用射頻磁控濺射制備在襯底材料上制備出β-Ga2O3薄膜材料;
步驟3、將磁控濺射后的樣品放入水平管式高溫擴散爐中進行后退火處理;
步驟4、退火后采用XRD和AFM測試儀器檢測樣品的薄膜結構和晶體表面粗糙程度;
步驟5、摻雜:采用雙靶交替即射頻濺射Ga2O3和直流濺射金屬薄膜交替在同一襯底上進行磁控濺射制備“Ga2O3/金屬/……/金屬/Ga2O3”的復合結構;
步驟6、摻雜完成后采用擴散爐對所得復合結構樣品進行退火處理,退火參數同步驟4參數。
2.根據權利要求1所述的一種在氧化鎵材料中摻雜金屬原子的實現方法,其特征在于:它還包括:
步驟7、利用XRD和AFM表征薄膜材料樣品,檢測“Ga2O3/金屬/……/金屬/Ga2O3”復合結構的性質;
步驟8、設計激光區熔實驗,通過高能激光束掃描樣品;
步驟9、激光區熔后再利用表征設備對“Ga2O3/金屬/……/金屬/Ga2O3”復合結構進行結構性質以及電性質的測試。
3.根據權利要求1所述的一種在氧化鎵材料中摻雜金屬原子的實現方法,其特征在于:步驟1選取襯底材料時對襯底進行清洗,清洗方法為:
步驟1.1、首先將藍寶石襯底切割成1×1cm2正方形,放入聚四氟乙烯清洗花籃中進行去離子水沖洗;
步驟1.2、再將襯底依次在無水乙醇、丙酮、無水乙醇溶液超聲波清洗15min;
步驟1.3、再用去離子水沖洗,完成后用氮氣吹干,放入氮氣柜備用。
4.根據權利要求1所述的一種在氧化鎵材料中摻雜金屬原子的實現方法,其特征在于:步驟2所述采用射頻磁控濺射制備在襯底材料上制備出β-Ga2O3薄膜材料的方法具體包括:
步驟2.1、將洗凈的藍寶石襯底放入射頻磁控濺射儀中,固定磁控濺射的氧氣和氬氣流量比、工作壓強、濺射功率和沉積時間,僅改變襯底溫度,得出最優的襯底溫度;
步驟2.2、同步驟2.1,依次得最優的各磁控濺射工藝參數;最優參數為:襯底溫度500℃,氧氣流量2.3sccm、氬氣流量46.2sccm,氧氬比2.3:46.2,工作壓強1.0Pa,濺射功率150W,沉積時間90min。
5.根據權利要求1所述的一種在氧化鎵材料中摻雜金屬原子的實現方法,其特征在于:退火處理的具體方法包括:
步驟3.1、固定退火溫度和退火時間,僅改變退火氣氛,得出最優的退火氣氛;
步驟3.2、同步驟3.1,依次得最優的退火工藝參數;最優參數為:退火溫度1000℃,氧氣退火氣氛,退火時間90min。
6.根據權利要求1所述的一種在氧化鎵材料中摻雜金屬原子的實現方法,其特征在于:步驟5所述摻雜的具體方法為:先在藍寶石襯底上濺射Ga2O3薄膜,然后在此基礎上濺射金屬薄膜,接著再濺射Ga2O3薄膜,以次交替重復,最后表面濺射Ga2O3薄膜作為結束。
7.根據權利要求6所述的一種在氧化鎵材料中摻雜金屬原子的實現方法,其特征在于:濺射金屬薄膜的時間需小于濺射氧化鎵薄膜的時間。
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H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





