[發(fā)明專利]硅基狹縫結(jié)構(gòu)及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111448305.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-11-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114156232A | 公開(公告)日: | 2022-03-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陶金;李盼園;樊凱莉;孫文超;朱立財(cái);呂金光;秦余欣;王惟彪;梁靜秋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L21/78 | 分類號(hào): | H01L21/78 |
| 代理公司: | 長春中科長光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 22218 | 代理人: | 陳新英 |
| 地址: | 130033 吉林省長春*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 狹縫 結(jié)構(gòu) 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明提供硅基狹縫結(jié)構(gòu)及其制備方法,包括硅基片、狹縫、梯形槽、吸光材料層和金屬保護(hù)層;硅基片的晶面晶向?yàn)?111);硅基片的入射面開設(shè)有至少一個(gè)的狹縫,狹縫結(jié)構(gòu)供入射光通過硅基片;硅基片的出射面開設(shè)有梯形槽,狹縫的長度方向和梯形槽的長度方向分別沿硅基片的長度方向布置;從入射面至其出射面方向,梯形槽的槽寬逐漸變大;在硅基片的縱截面上,所有狹縫與梯形槽相通,并且梯形槽的槽底的兩端與每個(gè)狹縫具有間隔;吸光材料層位于硅基片的入射面上,用以減小入射光的反射;金屬保護(hù)層位于硅基片的出射面上,用以防止雜散光透過硅基片。本發(fā)明采用常用的半導(dǎo)體硅材料加工工藝,具有大批量制備和成本低的優(yōu)點(diǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及到光學(xué)狹縫領(lǐng)域,特別涉及硅基狹縫結(jié)構(gòu)及其制備方法。
背景技術(shù)
理想的光學(xué)狹縫光學(xué)特性如圖1所示,入射光從入射面照射狹縫,在出射面狹縫對(duì)應(yīng)的位置,光束100%通過;在出射面非狹縫位置,無光束通過,即T1=0;在入射面的非狹縫位置,反射光強(qiáng)為0,即R1=0%。傳統(tǒng)的狹縫采用激光在金屬薄板上制備狹縫,當(dāng)狹縫的尺寸進(jìn)一步減小時(shí),例如小于10μm,激光加工金屬薄板的邊緣形貌不能滿足狹縫的要求。另外,金屬薄板狹縫在入射面的吸光處理通常采用硼砂的工藝,不能實(shí)現(xiàn)100%的吸光。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為解決上述問題,本發(fā)明的目的在于結(jié)構(gòu)簡單、成本低、尺寸小的硅基狹縫結(jié)構(gòu)。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用以下具體技術(shù)方案:
硅基狹縫結(jié)構(gòu),包括硅基片、狹縫、梯形槽、吸光材料層和金屬保護(hù)層;
硅基片的晶面晶向?yàn)?11;
硅基片的入射面開設(shè)有至少一個(gè)的狹縫,狹縫供入射光通過硅基片;
硅基片的出射面開設(shè)有梯形槽;
從硅基片的入射面至其出射面方向,梯形槽的槽寬逐漸變大;在硅基片的縱截面上,所有狹縫與梯形槽相通,并且梯形槽的槽底的兩端與每個(gè)狹縫具有間隔;
吸光材料層位于硅基片的入射面上,用以減小入射光的反射;
金屬保護(hù)層位于硅基片的出射面上,用以防止雜散光透過硅基片。
進(jìn)一步的,吸光材料層為黑硅結(jié)構(gòu)。
進(jìn)一步的,金屬保護(hù)層的材料為Au、Al、Ni、A、Pt中的任一種。
進(jìn)一步的,梯形槽由濕法刻蝕工藝制備。
一種用于制備硅基狹縫結(jié)構(gòu)的制備方法,包括以下步驟:
S1、提供硅基片;
S2、在入射面上制備第二保護(hù)膜,在出射面上制備第一保護(hù)膜;
S3、制備狹縫和梯形槽;
其中制備狹縫的步驟包括:在第二保護(hù)膜的部分區(qū)域上覆蓋第二光刻膠層,以暴露出第二保護(hù)膜上的與狹縫的位置對(duì)應(yīng)的區(qū)域;刻蝕第二保護(hù)膜和硅基片以形成狹縫;去除第二光刻膠層;
其中制備梯形槽的步驟包括:在第一保護(hù)膜的部分區(qū)域上覆蓋第一光刻膠層,以暴露出第一保護(hù)膜上的與梯形槽的位置對(duì)應(yīng)的區(qū)域;刻蝕第一保護(hù)膜和硅基片以形成梯形槽;去除第一光刻膠層;
S4、去除第一保護(hù)膜和第二保護(hù)膜;
S5、在硅基片上制備黑硅結(jié)構(gòu);
S6、在硅基片上制備金屬保護(hù)層;
S7、切割硅基片、黑硅結(jié)構(gòu)和金屬保護(hù)層以分離出單件的硅基狹縫結(jié)構(gòu)。
進(jìn)一步的,在步驟S5中通過干法刻蝕、濕法刻蝕、飛秒激光加工中的任一種方法制備黑硅結(jié)構(gòu)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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