[發明專利]一種光纜普查分析儀及其模擬信號處理方法

在審

• 申請號: 202111448006.1
• 申請日: 2021-12-01
• 公開（公告）號: CN114001926A
• 公開（公告）日: 2022-02-01
• 發明（設計）人: 阮志光;郭峰;洪小花
• 申請（專利權）人: 上海大維通信技術有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;H04B10/079
• 代理公司: 上海未可期專利代理事務所(普通合伙) 31360
• 代理人: 徐磊

1.一種光纜普查分析儀，其特征在于：包括ARM嵌入式平臺、FPGA平臺、MCU電源管理模塊、內置光路、模擬信號處理模塊、ADC轉換器、LCD顯示屏和揚聲器，所述ARM嵌入式平臺連接FPGA平臺、光功率計模塊、紅光源模塊、LCD顯示屏和揚聲器；所述FPGA平臺連接內置光路和模擬信號處理模塊；所述內置光路和模擬信號處理模塊連接；所述MCU電源管理模塊連接ARM嵌入式平臺、FPGA平臺和模擬信號處理模塊。

2. 根據權利要求1所述的一種光纜普查分析儀，其特征在于：所述內置光路包括1550nm DFB激光器、APD探測器、2分2分路器、MEMS VOA衰減器和1分2分路器；所述1550nmDFB激光器和APD探測器連接至2分2分路器，激光器發出2KHZ的調試脈沖光，經過一個2分2分路器，2分2分路器的一個輸出端口連接1km的干涉光纖，干涉光纖串聯一個MEMS VOA衰減器之后進入1分2分路器，在做普查功能測試時VOA的衰減調節到0dB；2分2分路器的另外一個輸出端口直接連接到的1分2的分路器的輸入端口2，并和干涉光纖出來的光進行匯合后入射到被測光纖；當人為敲打被測光纖時，光在光纖中會產生相位變化，產生相位變化的光和原始光會產生干涉，產生干涉條紋，通過光纖回路返回APD探測器中進行光電轉換。

3.根據權利要求1所述的一種光纜普查分析儀，其特征在于：所述模擬信號處理模塊包括依次連接的第一級放大電路、積分電路、第二級別放大電路、鏡像電流源、第三次放大電路、差分放大電路和ADC模數轉換器，ADC模數轉換器連接FPGA平臺。

4. 根據權利要求1所述的一種光纜普查分析儀，其特征在于：所述光纜普查分析儀的模擬信號處理方法為：當所述APD探測器接收到的光信號轉成電信號之后，輸入第一級放大電路進行信號放大，放大信號輸入給積分電路，進行積分處理，然后送給第二級別放大電路進行第二次放大，第二級放大電路處理完之后送給鏡像電流源，進行電信號轉換，以達到過濾共模信號的目的，鏡像電流源出來之后輸入給第三次放大電路，對信號進行第三次放大，之后再送給差分放大電路，將單端信號轉成差分信號，最后送給 ADC模數轉換器進行模數轉換，整個模擬電路把光信號轉成電模擬信號，最后轉換成數字信號，數字信號，通過FPGA平臺采樣到之后進行數據去噪處理，最后有用的數字信號輸送給ARM嵌入式平臺，ARM嵌入式平臺通過算法將采樣到的數據轉換成頻譜信號顯示在LCD顯示屏上，并轉換成音頻信號輸送到揚聲器上進行音頻播放。