[發明專利]一種多接口并行測試的方法和系統

在審

• 申請號: 202111444218.2
• 申請日: 2021-11-30
• 公開（公告）號: CN114113711A
• 公開（公告）日: 2022-03-01
• 發明（設計）人: 李超;蘇昆;胡瑞璟;董逢華
• 申請（專利權）人: 武漢天喻信息產業股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/54;G01R31/68
• 代理公司: 北京匯澤知識產權代理有限公司 11228
• 代理人: 吳靜

本發明公開了一種多接口并行測試的方法，包括：測試端獲取產品所有待測試接口種類，并根據所有待測試接口種類準備對應中間連接模塊，通過對應的中間連接模塊連接測試端和待測試接口；測試端通過中間連接模塊向對應的待測試接口發送測試指令；待測試接口接收測試端發送的測試指令，并根據測試指令對所有待測試接口進行相應處理。本發明能對不同種類的接口同時進行測試，統一調動各種類型接口，對多接口實時并發完成精細化的測試。

技術領域

本發明涉及的是接口測試領域，特別涉及一種多接口并行測試的方法和系統。

背景技術

測試在產品開發中占據著重要的地位，一種產品能不能夠發布，它首先必須通過可行性、功能性測試等等。目前，現有的產品測試往往采用的是單一接口的測試形式，以智能卡測試為例，常用的是使用7816接口對接測試PC。

但隨著測試需求的不斷進化，單一測試接口的測試方法已經不能滿足于測試的正常流程，且產品端所能實現的接口類型也越發增多，每種測試接口由于其測試方式的不同，又含有不同的測試用途。那么對于接口種類不同，如何統一調度它們，確認實時并發完成精細化的測試為現階段亟待解決。

發明內容

鑒于上述問題，提出了本發明以便提供一種克服上述問題或者至少部分地解決上述問題的一種多接口并行測試的方法和系統。

為了解決上述技術問題，本申請實施例公開了如下技術方案：

一種多接口并行測試的方法，包括：

S100.測試端獲取產品所有待測試接口種類，并根據所有待測試接口種類確定對應中間連接模塊，通過對應的中間連接模塊連接測試端和待測試接口；

S200.測試端通過中間連接模塊向對應的待測試接口發送測試指令；

S300.待測試接口接收測試端發送的測試指令，并根據測試指令對所有待測試接口進行相應處理。

進一步地，S100中，待測試接口種類，至少包括：7816接口、14443接口、藍牙接口、nfc接口、wifi接口、串口、SPI接口和IIC接口。

進一步地，S200中，對應中間連接模塊可以預先集成在一個測試終端內集中控制，或采取多個分散控制，通過連通性測試確認此時處于通路的測試接口。

進一步地，S200中，測試端發送的測試指令包括對每個測試接口對應中間模塊的時鐘校準和數據控制發送邏輯及時延。

進一步地，當中間連接模塊預先集成在一個測試終端時，采用統一的時鐘源進行控制。

進一步地，當中間連接模塊分散控制時，通過設置一個統一的RTC作為時鐘源基數進行校準。

進一步地，S300中，根據測試指令對所有待測試接口進行相應處理，具體為：根據時鐘校準對每個接口進行時鐘校準，然后按照數據控制發送邏輯和時延發送測試數據到產品。

本發明還公開了一種多接口并行測試的系統，包括測試端、中間連接模塊和待測試接口，其中：

測試端，用于獲取產品所有待測試接口種類，并根據所有待測試接口種類準備對應中間連接模塊，通過對應的中間連接模塊向所有待測試接口發送測試指令；

中間連接模塊，用于將測試端與待測試接口連接，中間連接模塊與待測試接口種類相適應；

待測試接口，用于接收測試端發送的測試指令，并根據測試指令對所有待測試接口進行相應處理。

進一步地，待測試接口的種類，至少包括：7816接口、14443接口、藍牙接口、nfc接口、wifi接口、串口、SPI接口和IIC接口。

進一步地，測試端發送的測試指令，包括對每個測試接口對應中間模塊的時鐘校準和數據控制發送邏輯及時延。