[發(fā)明專利]一種硬盤性能測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111434254.0 | 申請日: | 2021-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN114090357A | 公開(公告)日: | 2022-02-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 房振南;陳杰;柴兆文;黃建新 | 申請(專利權(quán))人: | 中科可控信息產(chǎn)業(yè)有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 蔣姍 |
| 地址: | 215000 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 硬盤 性能 測試 方法 裝置 電子設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
本申請涉及一種硬盤性能測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),本申請屬于計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域。該硬盤性能測試方法包括:對存儲(chǔ)集群的共享存儲(chǔ)池進(jìn)行性能測試,得到第一測試結(jié)果;針對所述存儲(chǔ)集群中的每臺(tái)機(jī)器,對該臺(tái)機(jī)器進(jìn)行性能測試,得到第二測試結(jié)果;基于所述第一測試結(jié)果,以及每臺(tái)機(jī)器各自的第二測試結(jié)果,生成測試報(bào)告。在測試硬盤性能時(shí),會(huì)對存儲(chǔ)集群中的每臺(tái)機(jī)器進(jìn)行性能測試,以及對存儲(chǔ)集群的共享存儲(chǔ)池進(jìn)行性能測試,這樣便可得到第一測試結(jié)果平均到每臺(tái)機(jī)器的第三測試結(jié)果與對應(yīng)該臺(tái)機(jī)器的第二測試結(jié)果之間的誤差值,從而可以得到硬盤在不同環(huán)境下的讀寫效率以及誤差值。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請屬于計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種硬盤性能測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)
隨著數(shù)據(jù)中心和云存儲(chǔ)技術(shù)的發(fā)展,對服務(wù)器的IO(輸入輸出)處理能力和網(wǎng)絡(luò)穩(wěn)定性要求越來越來高。服務(wù)器在使用過程中產(chǎn)生的大量重要數(shù)據(jù)都存儲(chǔ)于服務(wù)器上的硬盤中,所以硬盤性能的好壞將直接影響服務(wù)器的性能。這樣就使得許多服務(wù)器廠商都在不斷改進(jìn)對硬盤性能測試的方法,提高測試的準(zhǔn)確性及質(zhì)量。
目前的硬盤性能測試大多都是壓力測試,例如,利用fio工具對硬盤進(jìn)行壓力測試,雖然這種測試方式對于驗(yàn)證硬盤的穩(wěn)定性和可靠性起到了至關(guān)重要的作用,但是該方式無法準(zhǔn)確反映出硬盤在復(fù)雜環(huán)境下的讀寫效率。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于此,本申請的目的在于提供一種硬盤性能測試方法、裝置、電子設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),以改善現(xiàn)有硬盤測試方法無法反映出硬盤在復(fù)雜環(huán)境下的讀寫效率的問題。
本申請的實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的:
第一方面,本申請實(shí)施例提供了一種硬盤性能測試方法,包括:對存儲(chǔ)集群的共享存儲(chǔ)池進(jìn)行性能測試,得到第一測試結(jié)果;針對所述存儲(chǔ)集群中的每臺(tái)機(jī)器,對該臺(tái)機(jī)器進(jìn)行性能測試,得到第二測試結(jié)果;基于所述第一測試結(jié)果,以及每臺(tái)機(jī)器各自的第二測試結(jié)果,生成測試報(bào)告,所述測試報(bào)告包括所述第一測試結(jié)果平均到每臺(tái)機(jī)器的第三測試結(jié)果與對應(yīng)該臺(tái)機(jī)器的第二測試結(jié)果之間的誤差值。本申請實(shí)施例中,在測試硬盤性能時(shí),會(huì)對存儲(chǔ)集群中的每臺(tái)機(jī)器進(jìn)行性能測試,以及對存儲(chǔ)集群的共享存儲(chǔ)池進(jìn)行性能測試,這樣便可得到集群測試的第一測試結(jié)果平均到每臺(tái)機(jī)器的第三測試結(jié)果與對應(yīng)該臺(tái)機(jī)器的第二測試結(jié)果之間的誤差值,從而可以得到硬盤在不同環(huán)境下的讀寫效率以及還可以通過誤差值驗(yàn)證存儲(chǔ)集群的負(fù)載均衡能力。
結(jié)合第一方面實(shí)施例的一種可能的實(shí)施方式,對存儲(chǔ)集群的共享存儲(chǔ)池進(jìn)行性能測試,得到第一測試結(jié)果,包括:從預(yù)設(shè)多個(gè)測試參數(shù)中選擇最小測試參數(shù)對存儲(chǔ)集群的共享存儲(chǔ)池進(jìn)行性能測試,獲取對應(yīng)的測試結(jié)果;若所述最小測試參數(shù)對應(yīng)的測試結(jié)果不達(dá)標(biāo),從剩余的預(yù)設(shè)測試參數(shù)中再次選擇最小測試參數(shù)對存儲(chǔ)集群的共享存儲(chǔ)池進(jìn)行性能測試,直至測試結(jié)果達(dá)標(biāo),其中,達(dá)標(biāo)時(shí)的測試結(jié)果為所述第一測試結(jié)果。本申請實(shí)施例中,通過預(yù)設(shè)多種測試參數(shù),不同的測試參數(shù)對應(yīng)不同的測試場景,在測試時(shí),先從預(yù)設(shè)多個(gè)測試參數(shù)中選擇最小測試參數(shù)對存儲(chǔ)集群的共享存儲(chǔ)池進(jìn)行性能測試,若測試結(jié)果不達(dá)標(biāo),則再次從未選擇的預(yù)設(shè)測試參數(shù)選擇最小測試參數(shù)對存儲(chǔ)集群的共享存儲(chǔ)池進(jìn)行性能測試,直至測試結(jié)果達(dá)標(biāo),這樣便可獲得所需的測試結(jié)果,同時(shí),通過預(yù)設(shè)多種測試參數(shù)可以模擬不同場景下的機(jī)器性能。
結(jié)合第一方面實(shí)施例的一種可能的實(shí)施方式,對存儲(chǔ)集群的共享存儲(chǔ)池進(jìn)行性能測試,得到第一測試結(jié)果,包括:對所述存儲(chǔ)集群的共享存儲(chǔ)池進(jìn)行預(yù)設(shè)時(shí)長的第一預(yù)設(shè)閾值隨機(jī)讀寫測試以及第二預(yù)設(shè)閾值順序讀寫測試;獲取第一預(yù)設(shè)閾值隨機(jī)讀寫的測試數(shù)據(jù),以及獲取第二預(yù)設(shè)閾值順序讀寫的測試數(shù)據(jù),其中,所述第一測試結(jié)果包括第一預(yù)設(shè)閾值隨機(jī)讀寫的測試數(shù)據(jù)以及第二預(yù)設(shè)閾值順序讀寫的測試數(shù)據(jù)。本申請實(shí)施例中,通過對存儲(chǔ)集群的共享存儲(chǔ)池進(jìn)行預(yù)設(shè)時(shí)長的第一預(yù)設(shè)閾值隨機(jī)讀寫測試以及第二預(yù)設(shè)閾值順序讀寫測試,進(jìn)而可以測試共享存儲(chǔ)池的IOPS(Input Output Per Second,每秒進(jìn)行讀寫操作的次數(shù))以及硬盤傳輸帶寬性能。
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