[發明專利]一種用于測量放射源活度的計數活度計

在審

• 申請號: 202111424592.6
• 申請日: 2021-11-26
• 公開（公告）號: CN114252900A
• 公開（公告）日: 2022-03-29
• 發明（設計）人: 郭維新;李楠
• 申請（專利權）人: 江蘇賽諾格蘭醫療科技有限公司
• 主分類號: G01T1/161
• 分類號: G01T1/161;G01T1/29;G01T1/172;G01T1/20;G01T1/208;G01T1/24
• 代理公司: 北京易捷勝知識產權代理事務所(普通合伙) 11613
• 代理人: 李會娟

1.一種用于測量放射源活度的計數活度計，其特征在于，包括：

兩個輻射探測器、源放置平臺、具有露出口的屏蔽結構、對應每一個輻射探測器的計數器、對應兩個計數器的符合計數器、數據處理裝置；

所述源放置平臺中放置有被測的放射源，且所述放射源正對所述露出口；

所述屏蔽結構用于屏蔽被測放射源非被測部分的放射性進入輻射探測器，以及屏蔽環境本底中的放射性干擾；

兩個輻射探測器相對于被測放射源呈對稱放置，每一輻射探測器與所述露出口的距離要大于所述露出口的長度；所述輻射探測器用于探測露出口的放射源的輻射事件；每一輻射探測器連接各自的計數器，且符合計數器與兩個計數器連接；每一計數器用于記錄各自的輻射探測器探測的射線的計數率；符合計數器用于記錄符合事件的符合計數率；

所述符合計數器、兩個計數器均與所述數據處理裝置電連接，所述數據處理裝置用于根據每一個計數器的射線計數率和符合計數器的符合計數率獲取所述放射源的活度；

其中，在所述放射源的核素為非發射正電子的核素時，所述輻射探測器的探測效率ε為采用已知活度的點狀放射源預先標定。

2.根據權利要求1所述的計數活度計，其特征在于，所述輻射探測器為半導體探測器；

或者，所述輻射探測器為高純鍺探測器，碲化鎘探測器，碲鋅鎘探測器或者溴化鉈探測器。

3.根據權利要求2所述的計數活度計，其特征在于，所述輻射探測器為閃爍體探測器。

4.根據權利要求3所述的計數活度計，其特征在于，閃爍體探測器的閃爍體為碘化鈉，碘化銫，鍺酸鉍，硅酸镥，硅酸釔镥或溴化鑭；

所述閃爍體探測器的光電轉換器件為光電倍增管或者是硅光電倍增管。

5.根據權利要求1或2所述的計數活度計，其特征在于，所述輻射探測器與所述露出口的距離要大于所述露出口的長度的五倍。

6.根據權利要求1或2所述的計數活度計，其特征在于，當被測放射源為線源放射源時，所述源放置平臺上安裝有步進裝置，所述步進裝置用于將線源分段傳送到所述屏蔽結構的露出口，露出部分依次被輻射探測器探測，以獲得所述線源的活度。

7.根據權利要求1或2所述的計數活度計，其特征在于，屏蔽結構采用高密度高原子序數材料制備；

或者，所述屏蔽結果采用鉛或者鎢鋼材料制備。

8.根據權利要求1或2所述的計數活度計，其特征在于，所述數據處理裝置用于根據每一個計數器的射線計數率和符合計數器的符合計數率獲取所述放射源的活度，包括：

若兩個輻射探測器的立體角為非對稱的，且滿足入射到輻射探測器一的γ光子相對應的另一方向γ光子均入射到輻射探測器二所占的立體角內，則根據公式(1)獲取所述放射源的活度A；

若兩個輻射探測器的立體角為對稱的，且入射到輻射探測器一的γ光子相對應的另一方向γ光子均入射到輻射探測器二，則根據公式(2)獲取所述放射源的活度A；

其中，N₁表示輻射探測器一的γ射線的計數率，N₂表示輻射探測器二的γ射線的計數率，N_c為符合計數裝置的符合計數率；

τ為符合時間窗，屬于已知參數，Ω為輻射探測器一和輻射探測器二的立體角，為已知參數；Ω₂為輻射探測器二受等效探測立體角影響的探測效率，為已知參數；

η為分支比，屬于所述放射源中所測核素的固有屬性。

9.根據權利要求1或2所述的計數活度計，其特征在于：

所述輻射探測器的探測效率ε的標定方法包括：

將已知活度A₀的點狀放射源放在活度計的露出口，或者已知活度A₀的點狀放射源與輻射探測器的相對位置等效于點狀放射源放在活度計露出口，探測器放在活度計的探測器位置；

記錄在點狀放射源照射下的輻射探測器中的有效能譜事件計數率N₀；有效能譜事件為在輻射探測器能譜中以被測核素某一特征能峰為重心，在能窗范圍內的計數；

能窗范圍為輻射探測器能量分辨率的2～6倍；

則根據ε＝N₀/(A₀*η)獲取探測器的探測效率ε，η為所測γ射線的衰變分支比。