[發明專利]一種晶硅電池的鈍化結構及其制備方法在審
| 申請號: | 202111419080.0 | 申請日: | 2021-11-26 |
| 公開(公告)號: | CN114373807A | 公開(公告)日: | 2022-04-19 |
| 發明(設計)人: | 朱英明;曹育娟;孟祥國;胡磊振;邱凱坤 | 申請(專利權)人: | 江蘇科來材料科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0216 | 分類號: | H01L31/0216;C11D1/72;C11D3/04;C11D3/06;C11D3/08;H01L31/18;C11D3/60;C30B31/02;C30B33/00;C30B29/06 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電池 鈍化 結構 及其 制備 方法 | ||
1.一種晶硅電池的鈍化結構,包括硅片,其特征在于,所述硅片的背側面做拋光處理,所述硅片拋光處理的一側制備有遂穿氧化層,所述遂穿氧化層的背側面上制備有第一I-Si:H本征層,所述I-Si:H本征層的背側面制備有第一含磷多晶硅層,所述第一含磷多晶硅層的背側面上制備有減反射膜層。
2.根據權利要求1所述的一種晶硅電池的鈍化結構,其特征在于,所述第一含磷多晶硅層的背側面上還依次制備有第二I-Si:H本征層和第二含磷多晶硅層,所述減反射膜層設置于第二含磷多晶硅層的背側面上。
3.根據權利要求1所述的一種晶硅電池的鈍化結構,其特征在于,所述減反射膜為氮化硅減反射膜,所述氮化硅減反射膜的膜厚為50-90μm,所述氮化硅減反射膜的折射率為1.8-2.4。
4.根據權利要求1所述的一種晶硅電池的鈍化結構,其特征在于,所述硅片電阻率范圍1-7Ω.cm,少子壽命≥1000μs,間隙氧含量≤8E+17at/cm3。
5.根據權利要求1所述的一種晶硅電池的鈍化結構的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1.通過清洗劑進行硅片的清洗,然后制備拋光劑在槽式機內進行硅片背側面的拋光處理;
S2.將S1處理得到的硅片放置在沉積室內,然后將沉積室內抽至真空,再通過加熱爐控制沉積室溫度在580-630℃,并持續向沉積室內以恒定流量通入2-4L氧氣,持續25-35min,將沉積室內的溫度降低至100℃,靜置20min后,硅片背側面上形成有遂穿氧化層;
S3.將沉積室內的溫度上升至600-650℃,并以500-650sccm向沉積室內通入SiH4,持續2-8min,遂穿氧化層的背側面上形成有第一I-Si:H本征層;
S4.向沉積室內以450-800sccm通入三氧氯磷、以300-500sccm通入氧氣,維持5-10min,使得第一I-Si:H本征層的背側面上形成有第一含磷多晶硅層;
S5.重復S3-S4,使得第一含磷多晶硅層的背側面上依次形成有第二I-Si:H本征層和第二含磷多晶硅層,并將沉積室內升溫至700-750℃,持續30min,得到帶有鈍化結構的粗品晶硅電池。
6.根據權利要求3所述的一種晶硅電池的鈍化結構的制備方法,其特征在于,所述清洗劑包括以下質量分數的組分制備而成:
氫氧化鉀5-15份;
硅酸鈉10-15份;
磷酸氫鉀1-2份;
十二烷基聚氧乙烯醚10-20份;
去離子水300-500份。
7.根據權利要求4所述的一種晶硅電池的鈍化結構的制備方法,其特征在于,所述拋光劑包括以下質量分數的組分制備而成:
氫氧化鈉1-3份;
脂肪酸甲酯聚氧乙烯醚1-3份;
聚氧乙烯醚2-7份;
乙烯基雙硬脂酰胺1-3份;
去離子水40-50份。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





