[發明專利]一種基于TFT-LCD獲取校正標記位置的方法和系統

在審

• 申請號: 202111403942.0
• 申請日: 2021-11-24
• 公開（公告）號: CN113838137A
• 公開（公告）日: 2021-12-24
• 發明（設計）人: 查世華;楊義祿;李波;左右祥;關玉萍;曾磊
• 申請（專利權）人: 中導光電設備股份有限公司
• 主分類號: G06T7/73
• 分類號: G06T7/73;G06K9/62;G01B11/00
• 代理公司: 廣州維智林專利代理事務所(普通合伙) 44448
• 代理人: 趙曉慧

本發明公開了一種基于TFT?LCD獲取校正標記位置的方法和系統，所述方法包括以下步驟：采集預設標準面板圖像，將其中的一個預設標記圖像作為模板圖像；獲取所述預設標準面板圖像上的兩個預設標記圖像的矩形區域粗略坐標位置；采集待測TFT?LCD面板的圖像；根據所述兩個預設標記圖像的矩形區域粗略坐標位置，實時獲取所述待測TFT?LCD面板的圖像上的兩個待測標記粗略圖像；使用所述模板圖像匹配所述兩個待測標記粗略圖像，獲取兩個待測標記的精確位置。本發明的有益效果：不需要顯微鏡或激光等輔助設備采集標記圖像，節約成本。使用模板匹配，標記位置的精度可達到亞像素級別，精度高。實施方法簡單，實現實時校正。

技術領域

本發明屬于計算機視覺檢測技術領域，具體涉及一種基于TFT-LCD獲取校正標記位置的方法和系統。

背景技術

隨著科學技術的不斷發展和進步，計算機視覺檢測技術具有快速高效和集成性等優點，被廣泛應用在自動化領域。目前光學自動檢測技術在TFT-LCD檢測行業廣泛使用，隨著制程工藝不斷發展和改進，要求自動檢測精度高，檢測速度快，這對自動檢測設備是一種挑戰。檢測精度不僅與光學鏡頭，相機成像質量，光照條件等相關，而且跟檢測物體的定位精度相關。TFT-LCD檢測使用標記位置校正檢測物體的定位精度。普遍基于TFT-LCD面板位置校正使用顯微鏡或激光等高端儀器實現，校正過程復雜，硬件費用投入高。因此，需要一種新的方法加以改進完善。

現有的解決方案是使用激光片產生特征圖像，獲取特征點進行圖像校準。例如，中國發明專利申請號CN201811032385.4公開了一種用于圖像位置校準的特征點獲取方法：通過激光片作用于標記物產生特殊的特征圖案，該特征圖案包含多個特征圖形，從多個特征圖像中獲取多個特征點構成標記圖像，為后續的校準做準備。

上述圖像校準的缺點在于：第一，使用激光儀，成本相對較高。第二，獲取特征點要多，如果特征點不足，易導致圖像校準精度低。第三，采集穩定清晰的特征圖像過程較復雜。

發明內容

為了解決以上問題，本發明采用新的解決方案。第一，不需要顯微鏡采集標記圖像，節約硬件成本。第二，對同種類型的面板只需要設置一次模板，預設標記的矩形區域粗略位置坐標。第三，檢測過程中根據給定的標記矩形區域粗略位置實時獲取標記圖像，將模板圖像分別跟兩個標記圖像進行模板匹配，標記位置精度可達到亞像素，得到兩個標記的精確位置，作為后續校正的基礎。

本發明的目的是通過以下技術方案實現的。

基于目前校正標記位置方法的缺點，本發明提出了一種基于TFT-LCD獲取校正標記位置的方法。本發明首先預采圖設置模板圖像，其次，獲取兩個標記圖像的矩形區域粗略坐標位置，再次，采集圖像，然后根據預先獲取的標記圖像粗略坐標位置獲取相應的標記圖像，最后使用模板圖像分別對獲取的兩個標記圖像進行模板匹配，獲取標記精確位置。

具體的，本發明提供了一種基于TFT-LCD獲取校正標記位置的方法，包括以下步驟：

采集預設標準面板圖像，將其中的一個預設標記圖像作為模板圖像；

獲取所述預設標準面板圖像上的兩個預設標記圖像的矩形區域粗略坐標位置；

采集待測TFT-LCD面板的圖像；

根據所述兩個預設標記圖像的矩形區域粗略坐標位置，實時獲取所述待測TFT-LCD面板的圖像上的兩個待測標記粗略圖像；

使用所述模板圖像匹配所述兩個待測標記粗略圖像，獲取兩個待測標記的精確位置。

進一步地，所述采集預設標準面板圖像，將其中的一個預設標記圖像作為模板圖像，包括：

用一張標準TFT-LCD面板進行預采圖，在靠近面板的兩端位置從采集圖像上找到其中一個第一標記，并將所述第一標記設為這種類型面板的模板圖像。

進一步地，所述獲取所述預設標準面板圖像上的兩個預設標記圖像的矩形區域粗略坐標位置，包括：