[發明專利]液晶面板顯示不良分析方法及分析系統

在審

• 申請號: 202111389666.7
• 申請日: 2021-11-19
• 公開（公告）號: CN114038363A
• 公開（公告）日: 2022-02-11
• 發明（設計）人: 陳宏斌
• 申請（專利權）人: 樂金顯示光電科技（中國）有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/36;G01N21/95
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 馬迪

本發明公開一種液晶面板顯示不良分析方法及分析系統，該方法包括：獲取不良面板；對不良面板進行坐標檢測，根據坐標檢測結果確定不良位置參數；對不良面板施加至少一組預設補償數據，得到至少一個顯示畫面；基于顯示畫面對不良面板進行預設顯示不良現象檢測，確定不良檢測結果；根據顯示畫面對應的補償數據及不良位置參數確定顯示畫面仿真數據；根據不良檢測結果及顯示畫面仿真數據確定顯示不良分析策略，顯示不良分析策略包括對不良面板進行透濕異常分析及對不良面板進行顯示屏模組異常分析。通過整合特定顯示不良現象及類型，執行對應的異常分析方法，快速查找顯示不良的成因，減少顯示不良解析失敗的概率。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種液晶面板顯示不良分析方法及分析系統。

背景技術

液晶面板是液晶顯示器的重要組件，液晶面板的質量優劣直接關系到液晶顯示器的整體性能。

在液晶面板的制備過程中，包括多個成型工藝，例如，陣列制程、彩膜制程、成盒制程及模組組裝制程，任一工藝制程或者設計方面的不規范均可能導致液晶面板出現點不良、線不良或者顯示亮度不均勻等顯示不良問題。圖1為現有的一種顯示不良現象的示意圖。如圖1所示，在液晶面板00的顯示畫面中，出現沿垂直方向Y延伸的垂直暗線，垂直暗線可沿垂直方向貫穿顯示畫面的貫穿暗線A＇，或者，沿垂直方向Y出現部分暗線A＂。

為了降低上述顯示不良問題對液晶顯示器的影響，需要對制備完成的液晶面板進行檢測，查找并解決引起顯示不良的問題。在現有技術中，顯示不良解析通常由檢測人員在點屏后對不良位置進行識別和標記，再通過高倍率顯微鏡進行不良確認?，F有技術存在以下缺陷：人工操作缺乏有效的不良成因分析技術，導致單個面板的不良解析時間較長，效率較低，此外，人為標記位置的準確度較低，影響不良成因的解析結果，且通過高倍率光學顯微鏡無法分析所有工藝制程中的缺陷，例如，通過人為觀察難以識別模組內電路缺陷，造成不良解析失敗或者解析結果不準確。

發明內容

本發明的目的在于：提供一種液晶面板顯示不良分析方法及分析系統，能夠快速區分顯示不良類型，并根據不良類型執行相應的不良分析策略，快速查找顯示不良的成因，減少顯示不良解析失敗的概率。

為達上述目的，本發明采用以下技術方案：

第一方面，提供一種液晶面板顯示不良分析方法，包括：

獲取不良面板，所述不良面板為具有預設顯示不良現象的面板；

對所述不良面板進行坐標檢測，根據坐標檢測結果確定不良位置參數；

對所述不良面板施加至少一組預設補償數據，得到至少一個顯示畫面，所述顯示畫面包括補償顯示畫面及非補償顯示畫面；

基于所述顯示畫面對所述不良面板進行預設顯示不良現象檢測，確定不良檢測結果；

根據所述顯示畫面對應的補償數據及所述不良位置參數確定顯示畫面仿真數據；

根據所述不良檢測結果及所述顯示畫面仿真數據確定顯示不良分析策略。

作為顯示不良分析方法的一種優選方案，所述顯示不良分析策略包括對所述不良面板進行透濕異常分析及對所述不良面板進行顯示屏模組異常分析。

作為顯示不良分析方法的一種優選方案，對所述不良面板進行透濕異常分析，包括以下步驟：對所述不良面板進行烘干處理；獲取烘干處理后所述不良面板的第一顯示畫面；基于所述第一顯示畫面對所述不良面板進行預設顯示不良現象檢測，確定第一不良檢測結果；根據所述第一顯示畫面對應的補償數據及所述不良位置參數確定第一仿真數據；根據所述第一不良檢測結果及所述第一仿真數據判斷不良成因是否為水汽侵入。