[發明專利]一種芯片塑封模具及其二次塑封工藝方法在審
| 申請號: | 202111372272.0 | 申請日: | 2021-11-18 |
| 公開(公告)號: | CN114055711A | 公開(公告)日: | 2022-02-18 |
| 發明(設計)人: | 張國棟;潘明東;許連軍;陳益新;王翔 | 申請(專利權)人: | 江蘇芯德半導體科技有限公司 |
| 主分類號: | B29C45/14 | 分類號: | B29C45/14;B29C45/37;B29L31/34 |
| 代理公司: | 無錫華越知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 32571 | 代理人: | 朱錦國 |
| 地址: | 210000 江蘇省南*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 芯片 塑封 模具 及其 二次 工藝 方法 | ||
1.一種芯片塑封模具,包括上模具(2)和下模具(1),其特征在于,所述上模具(2)設有可升降的模具凸塊(3),所述模具凸塊(3)下降時、模具凸塊(3)相對于上模具(2)的下表面向下凸出,所述模具凸塊(3)復位時、模具凸塊(3)與上模具(2)的下表面齊平,所述上模具(2)內嵌有注塑組件(5),所述注塑組件(5)包括注塑管(51)、注塑控制塊(52)和連接管(53),所述注塑管(51)的外壁嵌于上模具(2)內,所述注塑管(51)的管壁內設有注塑槽(511),所述連接管(53)安裝于注塑管(51)、且連接管(53)與注塑槽(511)連通,所述注塑管(51)的內壁下部設有注塑槽開口(512),所述注塑管(51)的中心設有可供注塑控制塊(52)上下移動的活動腔體(510),所述注塑控制塊(52)上下移動以打開或關閉注塑槽開口(512)。
2.根據權利要求1所述的芯片塑封模具,其特征在于,所述注塑管(51)的底部與上模具(2)的下表面齊平,所述注塑控制塊(52)處于下移位置時、注塑控制塊(52)的底部與上模具(2)的下表面齊平。
3.根據權利要求2所述的芯片塑封模具,其特征在于,所述模具凸塊(3)通過升降桿(4)連接于上模具(2),所述模具凸塊(3)下降時,所述模具凸塊(3)的下部相對于上模具(2)的下表面向下凸出、模具凸塊(3)的上部位于上模具(2)內。
4.根據權利要求3所述的芯片塑封模具,其特征在于,所述升降桿(4)包括外桿(41)和內桿(42),所述內桿(42)可上下滑動安裝于外桿(41)內,所述模具凸塊(3)連接于內桿(42),所述外桿(41)安裝于上模具(2)。
5.根據權利要求4所述的芯片塑封模具,其特征在于,所述注塑控制塊(52)的外壁與注塑管(51)的內壁采用螺紋連接,所述注塑控制塊(52)的中心設有螺紋孔(521),所述螺紋孔(521)內設有螺桿(54),所述螺桿(54)連接有電機(55),所述電機(55)安裝于上模具(2)。
6.采用如權利要求1至5任意一項所述的芯片塑封模具進行芯片二次塑封的工藝方法,其特征在于,包括如下步驟:
S1:將待塑封的產品送入下模具(1)并吸附定位;
S2:模具凸塊(3)的位置下降,使模具凸塊(3)的下部相對于上模具(2)的下表面向下凸出;
S3:上模具(2)整體的位置下降,上模具(2)和下模具(1)合模,實現第一次合模,形成第一模具內腔體(101);
S4:液體塑封料通過連接管(53)進入注塑槽(511)內,注塑控制塊(52)相對于注塑管(51)向上移動,打開注塑槽開口(512),液體塑封料進入第一模具內腔體(61)并覆蓋產品表面;
S5:注塑完設定容量的液體塑封料后,注塑控制塊(52)相對于注塑管(51)向下移動,注塑槽開口(512)關閉,完成第一次注塑;
S6:待塑封料冷卻固化后,上模具(2)整體的位置上升至設定位置,同時,模具凸塊(3)向上復位,模具凸塊(3)的下表面與上模具(2)的下表面齊平,產品表面形成第一塑封層(101),所述第一塑封層(101)的表面形成多個凹槽(102),所述第一塑封層(101)與上模具(2)的下表面形成第二模具內腔體(62);
S7:注塑控制塊(52)相對于注塑管(51)向上移動,再次打開注塑槽開口(512),液體塑封料進入第二模具內腔體(62),液體塑封料填充凹槽(102)并覆蓋第一塑封層(101)表面;
S8:注塑完設定容量的液體塑封料后,注塑控制塊(52)相對于注塑管(51)向下移動,注塑槽開口(512)關閉,完成第二次注塑;
S9:待塑封料冷卻固化后,在第一塑封層(101)表面形成第二塑封層(103),上模具(2)整體的位置上升實現復位,上模具(2)與下模具(1)處于完全開模狀態,取出經過兩次塑封后的產品。
7.根據權利要求6所述的芯片二次塑封的工藝方法,其特征在于,步驟S9中得到的產品,第二塑封層(103)的厚度小于第一塑封層(101)的厚度。
8.根據權利要求6所述的芯片二次塑封的工藝方法,其特征在于,步驟S6中的多個凹槽(102)呈均勻分布。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于江蘇芯德半導體科技有限公司,未經江蘇芯德半導體科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202111372272.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





