[發明專利]用于監控產品測試過程的方法和裝置

在審

• 申請號: 202111357674.3
• 申請日: 2021-11-16
• 公開（公告）號: CN114063582A
• 公開（公告）日: 2022-02-18
• 發明（設計）人: 鄭榮;鮮益民
• 申請（專利權）人: 英特爾產品（成都）有限公司;英特爾公司
• 主分類號: G05B19/418
• 分類號: G05B19/418
• 代理公司: 北京永新同創知識產權代理有限公司 11376
• 代理人: 張文錦;劉茹

本發明涉及一種用于監控產品測試過程的方法和裝置。該方法包括：從數據庫中獲取測試產品的生產線的運行數據以及生產線上的目標部件的運行數據，其中該生產線包括多于一個的部件；基于生產線的運行數據對于特定故障模式計算針對生產線的產品故障率；基于目標部件的運行數據對于特定故障模式計算針對目標部件的產品故障率；對于特定故障模式，計算針對目標部件的產品故障率與針對生產線的產品故障率的比值；將所計算的比值與預定閾值比值進行比較；以及在所計算的比值大于預定閾值比值時將目標部件確定為標記部件。

技術領域

本申請總體上涉及過程控制方法，具體而言，涉及一種用于監控產品測試過程的方法和裝置。

背景技術

過程控制是生產自動化的重要組成部分，其已經被廣泛地應用于各種生產環境中，例如產品制造、產品測試等等。高密度模塊化測試器(HDMx)模塊可以用于產品(例如半導體芯片)測試。在產品測試期間，使用過程控制系統(PCS)來監控測試部件和過程的健康情況。測試部件出現故障可能會導致整個測試生產線暫停，從而降低產品測試的效率。過程控制系統可用于利用標準統計方法來檢測測試部件故障，從而減輕產品的產出損失率。

然而，由于當前過程控制系統的限制，其僅可以檢測出由于發生故障導致生產線停轉的部件，而無法標記出即使發生故障但未導致生產線停轉、或僅是性能下降但尚未發生故障的測試部件。通常的過程控制系統的工程維修方法在解決此種部件問題時是無效的，從而這些部件會持續導致產品產量損失且部件或生產線會反復停轉。

如果想要解決當前過程控制系統的上述限制，需要花費大量的檢測工具和人力資源，然而制造工廠通常無法承受這些負擔。因此，存在對改進當前測試過程的監控的技術需求。

發明內容

提供本發明內容以便介紹一組概念，這組概念將在以下的具體實施方式中做進一步描述。本發明內容并非旨在標識所保護主題的關鍵特征或必要特征，也不旨在用于限制所保護主題的范圍。

本申請的目的在于提供用于監控產品測試過程的方法和裝置，以至少部分地克服現有技術存在的缺陷。

根據本申請的實施例，提供一種用于監控產品測試過程的方法，包括：從數據庫中獲取測試產品的生產線的運行數據以及所述生產線上的目標部件的運行數據，其中所述生產線包括多于一個的部件；基于所述生產線的運行數據，對于特定故障模式計算針對所述生產線的產品故障率；基于所述目標部件的運行數據，對于所述特定故障模式計算針對所述目標部件的產品故障率；對于所述特定故障模式，計算針對所述目標部件的產品故障率與針對所述生產線的產品故障率的比值；將所計算的比值與預定閾值比值進行比較；以及在所計算的比值大于所述預定閾值比值時，將所述目標部件確定為標記部件。

根據本申請的實施例，還提供一種用于監控產品測試過程的裝置。該裝置包括：獲取模塊，用于從數據庫中獲取測試產品的生產線的運行數據以及所述生產線上的目標部件的運行數據，其中所述生產線包括多于一個的部件；生產線產品故障率計算模塊，用于基于所述生產線的運行數據對于特定故障模式計算針對所述生產線的產品故障率；目標部件產品故障率計算模塊，用于基于所述目標部件的運行數據對于所述特定故障模式計算針對所述目標部件的產品故障率；比值計算模塊，用于對于所述特定故障模式，計算針對所述目標部件的產品故障率與針對所述生產線的產品故障率的比值；比較模塊，用于將所計算的比值與預定閾值比值進行比較；以及標記模塊，用于在所計算的比值大于所述預定閾值比值時將所述目標部件確定為標記部件。

根據本申請的實施例，還提供一種用于監控產品測試過程的設備，包括：處理器；以及存儲器，用于存儲可執行指令，其中，所述可執行指令當被所述處理器執行時使得所述處理器執行前述的方法。

根據本申請的實施例的一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有可執行指令，其中，所述指令在由至少一個處理器執行時，使得所述至少一個處理器執行前述的方法。