[發明專利]一種用于測量激光選區熔化技術激光焦平面的方法

在審

• 申請號: 202111350731.5
• 申請日: 2021-11-15
• 公開（公告）號: CN114087986A
• 公開（公告）日: 2022-02-25
• 發明（設計）人: 張立強;劉洋;王志會
• 申請（專利權）人: 北京德普潤新材料科技有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;B22F10/80;B22F10/28;B33Y50/00
• 代理公司: 北京維正專利代理有限公司 11508
• 代理人: 張嶺;莊雅憫

1.一種用于測量激光選區熔化技術激光焦平面的方法，其特征在于：包括以下步驟：

步驟一：放置測試裝置(1)；

將測試裝置(1)放置在激光選區熔化設備的操作平臺上，測試裝置(1)包括測試板(11)，所述測試板(11)與水平面呈銳角放置；

步驟二：調整；

調整激光選區熔化設備操作平臺的高度，使預先設置的金屬粉末鋪粉平臺的高度位于測試板(11)的中部區域；

步驟三：測試；

開啟激光器，使得激光器的激光射在測試板(11)不同高度位置上運行；

步驟四：確定激光焦平面；

關閉激光器，取下測試板(11)，觀察激光在測試板(11)上不同高度位置的刻痕(2)，根據刻痕(2)的刻蝕深度和亮度確定激光焦平面。

2.根據權利要求1所述的一種用于測量激光選區熔化技術激光焦平面的方法，其特征在于：所述方法還包括：

步驟五：判斷激光焦平面是否偏移；

若激光焦平面和預設的金屬粉末的鋪粉高度在同一高度，則判斷激光焦平面沒有偏移；

若激光焦平面和預設的金屬粉末的鋪粉高度不在同一高度，則判斷激光焦平面產生偏移。

3.根據權利要求1所述的一種用于測量激光選區熔化技術激光焦平面的方法，其特征在于：所述步驟二中金屬粉末鋪粉平臺的高度位于測試板(11)水平高度的中間位置。

4.根據權利要求1所述的一種用于測量激光選區熔化技術激光焦平面的方法，其特征在于：所述步驟三中使得激光器在測試板(11)不同高度位置上運行包括，

操作激光器在測試板(11)任一高度平面上運行測試任務；

操作激光器移動，使得激光照射在測試板(11)另一高度位置，操作激光器再次運行測試任務；

依次循環。

5.根據權利要求4所述的一種用于測量激光選區熔化技術激光焦平面的方法，其特征在于：所述測試任務為刻蝕直線任務。

6.根據權利要求5所述的一種用于測量激光選區熔化技術激光焦平面的方法，其特征在于：刻蝕在金屬粉末鋪粉平面的直線長度不等于刻蝕在金屬粉末鋪粉平面兩側的直線長度。

7.根據權利要求1所述的一種用于測量激光選區熔化技術激光焦平面的方法，其特征在于，所述步驟四根據刻痕(2)的刻蝕深度和亮度確定激光焦平面的方法包括：

觀察激光在測試板(11)上不同高度位置上刻痕(2)的刻蝕深度和亮度，刻蝕深度最深且最亮的刻痕(2)所在的水平面即為激光焦平面。

8.根據權利要求1所述的一種用于測量激光選區熔化技術激光焦平面的方法，其特征在于：所述測試板(11)為氧化鋁薄片。

9.根據權利要求1所述的一種用于測量激光選區熔化技術激光焦平面的方法，其特征在于：所述測試板(11)與水平面呈45度放置。

10.根據權利要求1所述的一種用于測量激光選區熔化技術激光焦平面的方法，其特征在于：所述測試裝置(1)還包括用于對測試板(11)進行支撐的支撐框(12)，所述支撐框(12)包括水平放置的底板(121)以及固接在所述底板(121)上的支撐板(122)，所述底板(121)和所述支撐板(122)之間形成供測試板(11)放入的放置空間。