[發明專利]一種視網膜母細胞瘤分期模型構建方法及標志物在審
| 申請號: | 202111344893.8 | 申請日: | 2021-11-15 |
| 公開(公告)號: | CN114137137A | 公開(公告)日: | 2022-03-04 |
| 發明(設計)人: | 錢昆;劉萬山 | 申請(專利權)人: | 上海交通大學 |
| 主分類號: | G01N30/86 | 分類號: | G01N30/86;G01N30/72 |
| 代理公司: | 上海旭誠知識產權代理有限公司 31220 | 代理人: | 鄭立 |
| 地址: | 200240 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 視網膜 細胞 分期 模型 構建 方法 標志 | ||
1.一種視網膜母細胞瘤分期模型構建方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1、使用LDI-MS技術,進行RB病人房水樣品代謝指紋譜圖成像;
步驟2、對RB病人房水代謝指紋譜圖進行機器學習,實現對RB分期的準確預測;
步驟3、進行房水中生物標志物鑒定,通過生物標志物組合實現對RB分期的準確預測。
2.如權利要求1所述的視網膜母細胞瘤分期模型構建方法,其特征在于,所述步驟1具體包括:
步驟1.1、采集RB早期患者和晚期患者房水樣本,作為分析樣本,并準備去離子水、納米顆?;|、LDI-MS;
步驟1.2、稀釋采集的房水樣本:用去離子水稀釋5倍;
步驟1.3、配置納米顆粒基質溶液;
步驟1.4、樣品制備:取步驟1.2稀釋后的房水樣本1μL點樣在LDI-MS質譜靶板上,室溫下干燥;
步驟1.5、納米顆粒基質制備:取步驟1.3納米顆?;|溶液1μL點樣在LDI-MS質譜靶板上,室溫下干燥;
步驟1.6、指紋譜圖成像:在LDI-TOF-MS中進行房水樣本代謝指紋譜圖成像。
3.如權利要求2所述的視網膜母細胞瘤分期模型構建方法,其特征在于,步驟1.3中納米顆?;|溶液終濃度是采用去離子水配成1mg/mL。
4.如權利要求1所述的視網膜母細胞瘤分期模型構建方法,其特征在于,所述步驟2使用python 3.8進行數據分析,具體步驟包括:
步驟2.1、對步驟1.6獲得的指紋譜圖進行預處理,包括數據重采樣、譜線平滑、基線校正、譜峰聯配以及缺失值填充,得到m/z信號;
步驟2.2、使用彈性網絡算法對m/z信號進行特征選擇(C=1,l1_ratio=0.65),并設置彈性網絡算法中系數的閾值,得到m/z特征;
步驟2.3、將采集的患者樣本數據劃分成訓練集和測試集;
步驟2.4、使用20次重復的5折交叉驗證對嶺回歸在訓練集上進行l2參數優化以及模型訓練,得到嶺回歸在訓練集上的性能;
步驟2.5、對步驟2.4中訓練好的模型在測試集進行預測,得到嶺回歸在測試集上的性能。
5.如權利要求4所述的視網膜母細胞瘤分期模型構建方法,其特征在于,步驟2.2中所述閾值設置為0.18。
6.如權利要求4所述的視網膜母細胞瘤分期模型構建方法,其特征在于,所述患者樣本66個。
7.如權利要求1所述的視網膜母細胞瘤分期模型構建方法,其特征在于,所述步驟3具體步驟包括:
步驟3.1、采集RB早期患者和晚期患者房水樣本,作為分析樣本,并準備去離子水、納米顆?;|、LDI-TOF-MS和LDI-FTICR-MS;
步驟3.2、稀釋采集的房水樣本:用去離子水稀釋5倍;
步驟3.3、配置納米顆粒基質溶液;
步驟3.4、樣品制備:取步驟3.2稀釋后的房水樣本1μL點樣在LDI-MS質譜靶板上,室溫下干燥;
步驟3.5、納米顆?;|制備:取步驟3.3納米顆粒基質溶液1μL點樣在LDI-MS質譜靶板上,室溫下干燥;
步驟3.6、獲取分子量:在LDI-FTICR-MS中得到生物標志物的精準分子量;
步驟3.7、獲取二級質譜譜圖:在LDI-TOF-MS中得到生物標志物的二級質譜譜圖。
8.如權利要求7所述的視網膜母細胞瘤分期模型構建方法,其特征在于,步驟3.3中納米顆?;|溶液終濃度是采用去離子水配成1mg/mL。
9.一種利用權利要求1-8任一項視網膜母細胞瘤分期模型構建方法的分期標志物,其特征在于:該標志物包括以下房水代謝物中的任意一種或多種:乳酸Lac、乙酰乙酸Ace、乙酰丙酸Lev、1-吡咯啉-5-羧酸Prc、纈氨酸Val、去甲腎上腺素Nor、天冬氨酸Asp。
10.一種視網膜母細胞瘤診斷試劑盒,其特征在于:包括權利要求8所述的標志物。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海交通大學,未經上海交通大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202111344893.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:機電設備調平裝置
- 下一篇:一種提高電阻采樣電流精度的方法





