[發明專利]雙層料管裝料裝置

有效

• 申請號: 202111333495.6
• 申請日: 2021-11-11
• 公開（公告）號: CN113955233B
• 公開（公告）日: 2022-06-10
• 發明（設計）人: 劉文超;黃明玖;鄭天勤;胡火根;何豪佳;方唐利
• 申請（專利權）人: 安徽耐科裝備科技股份有限公司
• 主分類號: B65B57/04
• 分類號: B65B57/04;B65B57/18;B65B35/12
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 梁曉婷

本發明的實施例提供了一種雙層料管裝料裝置，涉及半導體封裝技術領域，該雙層料管裝料裝置包括裝料主體、料管定位塊和入位檢測機構，入位檢測機構包括料管檢測塊和對位檢測器，裝料主體的出料端設置有容置槽，料管檢測塊設置在容置槽中，并部分伸入料管開口，用于在料管的抵持下朝向裝料主體的入料端移動，對位檢測器用于檢測料管檢測塊的位置，并在料管安裝到位的情況下發出對位信號。相較于常規的后位檢測方法，本發明能夠準確地對料管是否入位進行檢測，不會受到料管長度的影響，大大提高了料管檢測的可靠性、設備的穩定性及生產效率。

技術領域

本發明涉及半導體封裝技術領域，具體而言，涉及一種雙層料管裝料裝置。

背景技術

對于IC封裝產品,隨著封裝技術的不斷提高,逐漸向引腳交叉、多排方向發展。現在12排和15排的產品都是技術提高和發展的產物。由于引腳交叉，這種產品分離一般采用上下雙層分離方式。而這種產品一般采用料管進行收納。因為采用雙層分離，所以料管也需要采用雙層方式。如果想要產品能順利裝入料管，那么料管的定位、產品入管方式及時序至關重要。產品經分離模具分離后進入滑道。料管需在滑道中定位、對接，產品才能進入料管。

現有的裝料設備，對于料管入位檢測，是用后位(料管后端)入位推桿檢測，即料管是否入位需要通過入位推桿上的對光傳感器來判斷。這種結構受料管長度影響較大，而一般廠家使用的料管正常會有2mm左右的長度差，對后位檢測準確性會有較大影響，導致料管檢測的可靠性大大降低，無法精確地檢測料管是否入位，影響產品的裝料動作，進而影響生產效率。

發明內容

本發明的目的包括，例如，提供了一種雙層料管裝料裝置，其能夠準確地對料管是否入位進行檢測，不會受到料管長度的影響，大大提高了料管檢測的可靠性、設備的穩定性及生產效率。

本發明的實施例可以這樣實現：

第一方面，本發明提供一種雙層料管裝料裝置，包括：

內置有雙層滑道的裝料主體；

設置在所述裝料主體出料端的料管定位塊；

設置在所述裝料主體出料端的入位檢測機構；

其中，所述入位檢測機構包括料管檢測塊和對位檢測器，所述料管定位塊上開設有料管開口，所述料管開口與所述滑道對應連通，用于供料管伸入，所述裝料主體的出料端設置有容置槽，所述料管檢測塊設置在所述容置槽中，并部分伸入所述料管開口，用于在所述料管的抵持下朝向所述裝料主體的入料端移動，所述對位檢測器用于檢測所述料管檢測塊的位置，并在所述料管安裝到位的情況下發出對位信號。

在可選的實施方式中，所述容置槽內還設置有彈性件，所述彈性件壓合在所述裝料主體和所述料管檢測塊之間，用于向所述料管檢測塊提供朝向所述裝料主體的出料端的彈力。

在可選的實施方式中，所述對位檢測器包括發光器和接收器，所述發光器和所述接收器設置在所述裝料主體相對的兩側，所述容置槽相對的側壁上開設有檢測孔，兩個所述檢測孔位于所述料管檢測塊的兩側，并分別貫通至所述發光器和所述接收器，所述料管檢測塊上開設有透光孔，所述透光孔用于在所述料管安裝到位的情況下與兩個所述檢測孔位于同一直線上，所述接收器用于接收所述發光器發出的光線，并發出所述對位信號。

在可選的實施方式中，所述料管開口處還設置有防反凸臺，所述防反凸臺用于與設置在所述料管一側的凹槽相適配，以使所述料管滑動裝入所述料管開口。

在可選的實施方式中，所述裝料主體的出料端還設置有導向板，所述導向板穿設于所述料管定位塊并朝向遠離所述裝料主體的方向延伸，且所述導向板位于所述料管開口的下方，用于對裝入所述料管開口的所述料管進行導向。