[發(fā)明專利]晶閘管投切器自動校準和測試裝置及工作方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111327279.0
• 申請日: 2021-11-10
• 公開（公告）號: CN113900000A
• 公開（公告）日: 2022-01-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 翟雅妮
• 申請（專利權(quán)）人: 上海希形科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R19/165
• 代理公司: 上海鍛創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31448
• 代理人: 韓冰

本發(fā)明提供了一種晶閘管投切器自動校準和測試裝置及工作方法，包括：降壓變壓器、控制板、IO擴展板、上位機電腦以及被測晶閘管投切器；所述降壓變壓器連接所述控制板，所述控制板連接所述上位機電腦；所述控制板連接所述IO擴展板，所述IO擴展板連接所述被測晶閘管投切器；所述被測晶閘管投切器連接所述控制板。本裝置是在晶閘管投切器老化前進行的低壓測試，能夠有效篩選出不良品，并且不會導致故障擴大，提高了生產(chǎn)效率，也大大提高了測試的安全性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及晶閘管投切器調(diào)試領(lǐng)域，具體地，涉及晶閘管投切器自動校準和測試裝置及工作方法。

背景技術(shù)

隨著電力電子技術(shù)及計算機控制技術(shù)的發(fā)展，各種新型的自動、快速無功補償裝置相繼出現(xiàn),晶閘管投切電容器(TSC)就是一種廣泛應用于配電系統(tǒng)的動態(tài)無功補償裝置。晶閘管投切器作為TSC中的主要元件，市場需求也是日益增加。在生產(chǎn)環(huán)節(jié)中需要對晶閘管投切器的采樣進行校準，其功能進行測試。現(xiàn)在生產(chǎn)廠家會將晶閘管投切器安裝在400V測試架上，對晶閘管投切器做循環(huán)投切測試和老化測試。如果晶閘管投切器出現(xiàn)不良品，在400V電壓下會導致故障擴大，無法維修增加生產(chǎn)成本。如果投切器需要電壓和電流采樣也沒有進行調(diào)零調(diào)幅的校準，采樣會有偏差。為了降低生產(chǎn)成本，提高生產(chǎn)效率，希望提出一種晶閘管投切器的自動校準和測試裝置。

專利文獻CN202260461U涉及電路裝置，具體是一種針對TSC無功補償系統(tǒng)的故障自診斷裝置。其特點是：它包含檢測電路(JC)、光電隔離輸入模塊(IP)、光電隔離輸出模塊(OP)、微處理器(MCU)、總線電路(BUS)、繼電器模塊(JDQ)。

專利文獻CN113466653A公開了一種多功能晶閘管投切開關(guān)檢測方法，包括步驟S1：控制器根據(jù)電容器容量的設(shè)定值控制相應電容器組的投入并且控制器實時采集三相電動調(diào)壓器的輸出電壓，以使得三相電動調(diào)壓器的輸出電壓達到設(shè)定值；步驟S2：分別對待測晶閘管進行投切裝置的正常工作范圍檢測、缺相保護功能檢測、限涌流與投切裝置的響應時間檢測、投切功能檢測、電壽命檢測和溫升檢測。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷，本發(fā)明的目的是提供一種晶閘管投切器自動校準和測試裝置及工作方法。

根據(jù)本發(fā)明提供的一種晶閘管投切器自動校準和測試裝置，包括：降壓變壓器、控制板、IO擴展板、上位機電腦以及被測晶閘管投切器；

所述降壓變壓器連接所述控制板，所述控制板連接所述上位機電腦；

所述控制板連接所述IO擴展板，所述IO擴展板連接所述被測晶閘管投切器；

所述被測晶閘管投切器連接所述控制板。

優(yōu)選地，所述降壓變壓器連接斷路器；

所述斷路器連接電源輸入端，所述電源輸出端連接所述控制板。

優(yōu)選地，所述被測晶閘管投切器安裝有多個；

多個所述被測晶閘管投切器輸入端并聯(lián)后連接所述控制板，多個所述被測晶閘管投切器輸出端并聯(lián)后連接所述控制板和接觸器。

優(yōu)選地，所述接觸器連接電容，所述電容連接所述降壓變壓器。

優(yōu)選地，所述控制板上安裝電源單元、電容放電單元、通信單元、IO單元、采樣單元、投切器輸入輸出端口切換單元以及中央處理器。

優(yōu)選地，所述通信單元設(shè)置多個485信號端口并連接所述上位機電腦和所述被測晶閘管投切器。

優(yōu)選地，所述IO單元設(shè)置多個IO口并連接所述接觸器和所述被測晶閘管投切器。

優(yōu)選地，所述上位機電腦通過串口連接所述控制板。

優(yōu)選地，所述降壓變壓器輸出為三相四線，所述降壓變壓器端口包括A、B、C、N；