[發(fā)明專利]一種基于注意力機(jī)制和可變形卷積的點(diǎn)云目標(biāo)檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111297310.0 | 申請(qǐng)日: | 2021-11-04 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114004978A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-02-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曾凱;朱明亮;朱艷;沈韜;謝江 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 昆明理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06V10/44 | 分類號(hào): | G06V10/44;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 昆明明潤(rùn)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 53215 | 代理人: | 王鵬飛 |
| 地址: | 650093 云*** | 國(guó)省代碼: | 云南;53 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 注意力 機(jī)制 變形 卷積 目標(biāo) 檢測(cè) 方法 | ||
1.一種基于注意力機(jī)制和可變形卷積的點(diǎn)云目標(biāo)檢測(cè)方法,其特征在于:
Step1:首先將原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)空間劃分為單個(gè)柱體,再將其通過(guò)特征編碼的方式編碼為偽圖像,所述偽圖像特征信息包括通道數(shù)、高度和寬度信息,使其能夠適用于二維卷積方式進(jìn)行特征提??;
Step2:在偽圖像上通過(guò)二維卷積進(jìn)行特征提取,在此過(guò)程中,引入可變形卷積模塊;
Step3:在對(duì)網(wǎng)絡(luò)中引入可變形卷積模塊后,引入通道注意力模塊,最終完成特征提取,得到特征圖;
Step4:將特征圖送入檢測(cè)器中,得到最終的輸出特征圖,完成檢測(cè)任務(wù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于注意力機(jī)制和可變形卷積的點(diǎn)云目標(biāo)檢測(cè)方法,其特征在于所述Step1具體為:原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)形式為(x,y,z,r),只采用數(shù)據(jù)中的位置坐標(biāo)信息,通過(guò)Pointpillars算法中的PFN層進(jìn)行特征編碼,將點(diǎn)云張量[x,y,z]轉(zhuǎn)換為偽圖像形式,轉(zhuǎn)換后的點(diǎn)云數(shù)據(jù)特征張量為[B,C,H,W],分別代表批次數(shù)、偽圖像的通道數(shù)、高度以及寬度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于注意力機(jī)制和可變形卷積的點(diǎn)云目標(biāo)檢測(cè)方法,其特征在于所述Step2中,可變形卷積模塊具體為:
其中,y(p0)表示可變形卷積模塊的輸出特征圖,p0代表普通卷積核的中心點(diǎn),pn代表普通卷積核的采樣點(diǎn),x(·)代表的是輸入的特征圖,Δpn表示可變形卷積中的偏移量。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于注意力機(jī)制和可變形卷積的點(diǎn)云目標(biāo)檢測(cè)方法,其特征在于所述Step3中,通道注意力模塊具體為:
其中,為特征矩陣uc與sc經(jīng)過(guò)點(diǎn)積加權(quán)操作得到的最終的特征矩陣,uc為經(jīng)過(guò)特征提取后的特征向量,sc為經(jīng)過(guò)激勵(lì)操作后得到的特征矩陣。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于注意力機(jī)制和可變形卷積的點(diǎn)云目標(biāo)檢測(cè)方法,其特征在于所述Step4具體為:
將特征圖送入檢測(cè)器,對(duì)輸入特征圖進(jìn)行三次卷積操作在不同維度上提取特征,并通過(guò)反卷積操作將三個(gè)不同大小的特征圖轉(zhuǎn)換為相同大小的特征圖,再通過(guò)拼接操作實(shí)現(xiàn)特征圖的融合,得到最終的輸出特征圖;
將最終輸出特征圖送入基于二維圖像的檢測(cè)模型中,檢測(cè)模型至少包括YOLO算法模型、SSD算法模型以及RPN算法模型。
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