[發明專利]烹飪器具測試方法、裝置、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202111283528.0
• 申請日: 2021-11-01
• 公開（公告）號: CN114004088A
• 公開（公告）日: 2022-02-01
• 發明（設計）人: 陳丹慧;石磊;熊明洲;張淼
• 申請（專利權）人: 珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G01M99/00;G06F119/08
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 鄧丹

1.一種烹飪器具測試方法，其特征在于，包括：

獲取待測烹飪器具的測試模式；

根據所述測試模式，以及測試模式與云母片參數的對應關系，確定用于烹飪測試的云母片的參數，并輸出提示信息；

獲取所述參數的云母片在所述待測烹飪器具的空載烹飪測試過程中的溫度，并基于所述溫度，得到烹飪測試結果并輸出；所述云母片基于所述提示信息，被設置于所述待測烹飪器具的盛放部上。

2.根據權利要求1所述的烹飪器具測試方法，其特征在于，所述根據所述測試模式，以及測試模式與云母片參數的對應關系，確定用于烹飪測試的云母片的參數，并輸出提示信息之前，還包括：

基于響應面分析法，建立測試模式與云母片參數的對應關系。

3.根據權利要求2所述的烹飪器具測試方法，其特征在于，所述基于響應面分析法，建立測試模式與云母片參數的對應關系，包括：

基于響應面分析法，確定用于空載烹飪測試的云母片的參數組合；

獲取不同測試模式下各參數云母片的溫度，并基于所述溫度確定各參數云母片對應的烹飪測試結果；

根據各所述烹飪測試結果，以及對應測試模式下食物的實際烹飪結果，確定各所述測試模式下的云母片參數；

根據各所述測試模式及其對應的云母片參數，建立測試模式與云母片參數的對應關系。

4.根據權利要求3所述的烹飪器具測試方法，其特征在于，所述各參數云母片中的云母片的數量均為兩片以上，所述獲取不同測試模式下各參數云母片的溫度，并基于所述溫度確定各參數云母片對應的烹飪測試結果，包括：

獲取不同測試模式下，各參數云母片的溫度；

根據所述溫度，計算得到所述待測烹飪器具的溫控精度和溫度均勻性，并基于所述溫控精度和所述溫度均勻性，確定所述各參數云母片對應的烹飪測試結果。

5.根據權利要求1所述的烹飪器具測試方法，其特征在于，所述參數的云母片的數量為兩片以上，各所述云母片基于所述提示信息，被設置于待測烹飪器具的盛放部的不同位置上；所述獲取所述參數的云母片在所述待測烹飪器具的空載烹飪測試過程中的溫度，并基于所述溫度，得到烹飪測試結果并輸出，包括：

獲取對應參數的云母片在待測烹飪器具的空載烹飪測試過程中的溫度，根據所述溫度，確定所述待測烹飪器具的加熱溫度均勻性和加熱溫度變化情況，并基于所述加熱溫度均勻性和所述加熱溫度變化情況，得到所述待測烹飪器具的烹飪測試結果并輸出。

6.根據權利要求1至5中任意一項所述的云母片參數確定方法，其特征在于，所述待測烹飪器具為烘焙類烹飪器具，所述測試模式包括熱對流模式和熱輻射模式。

7.根據權利要求1至5中任意一項所述的云母片參數確定方法，其特征在于，所述云母片的參數包括云母片的尺寸和厚度，以及所述云母片在所述盛放部的放置位置。

8.一種烹飪器具測試裝置，其特征在于，包括：

測試模式獲取模塊，用于獲取待測烹飪器具的測試模式；

云母片參數確定模塊，用于根據所述測試模式，以及測試模式與云母片參數的對應關系，確定用于烹飪測試的云母片的參數，并輸出提示信息；

測試結果確定模塊，用于獲取所述參數的云母片在所述待測烹飪器具的空載烹飪測試過程中的溫度，并基于所述溫度，得到烹飪測試結果并輸出；所述云母片基于所述提示信息，被設置于待測烹飪器具的盛放部上。

9.一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1至7中任意一項所述的方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至7中任意一項所述的方法的步驟。