[發(fā)明專利]一種暗場圖像還原方法、系統(tǒng)、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111270056.5
• 申請日: 2021-10-29
• 公開（公告）號: CN114092413A
• 公開（公告）日: 2022-02-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊光;李柳丹;羅杰;趙世強
• 申請（專利權(quán)）人: 成都善思微科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00
• 代理公司: 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11212
• 代理人: 李昆蔚

本發(fā)明涉及平板探測器領(lǐng)域，尤其涉及一種暗場圖像還原方法、系統(tǒng)、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備。該方法包括：剔除樣本圖像中預(yù)設(shè)的本底圖像Img0，得到圖像Img2；若圖像Img2滿足預(yù)設(shè)條件，則對圖像Img2中的像素進(jìn)行劃分，得到亮場像素以及暗場像素；基于圖像Img2中的暗場像素對應(yīng)的第一漏電流圖像以及預(yù)設(shè)的漏電流圖像Img1，經(jīng)還原處理得到圖像Img2中的亮場像素對應(yīng)的第二漏電流圖像；對第一漏電流圖像以及第二漏電流圖像進(jìn)行還原處理，得到圖像Img2對應(yīng)的漏電流圖像Img3；對漏電流圖像Img3進(jìn)行還原處理得到圖像Img2的暗場圖像Img4。通過本發(fā)明可以達(dá)到提高了暗場圖像的準(zhǔn)確度的效果。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及平板探測器領(lǐng)域，尤其涉及一種暗場圖像還原方法、系統(tǒng)、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備。

背景技術(shù)

平板探測器由于制作工藝誤差，不同像素間通常會存在一定的偏置和增益差異，為了避免平板探測器自身像素差異對測量的影響，通常在亮場測量時需要對平板探測器進(jìn)行偏置及增益校正以消除探測器本身的物理特性差異。

偏置模板的生成由暗場圖像得到，暗場圖像由2部分組成：一部分是由平板探測器物理特性決定的的本底圖像，其幾乎不隨外界條件變化；另一部分是漏電流引入的漏電流圖像，其與溫度與曝光時間直接相關(guān)。目前部分廠家基于溫度在時間上不會劇烈變化的假設(shè)，僅在亮場測試前/后采集某一曝光時間下的暗場圖像生成偏置模板進(jìn)行校正，但由于亮場測量時溫度或曝光時間的變化，此種方法生成的偏置模板準(zhǔn)確性及實時性不高，僅能適用于對漏電流不敏感的場合。還有部分廠家通過預(yù)測試不同曝光時間、不同溫度下的暗場圖像得到暗場圖像與曝光時間、溫度的對應(yīng)關(guān)系，在亮場采集時通過讀取曝光時間以及溫度還原得到實時的暗場圖像，但由于平板探測器通常面積較大，在空間上存在一定的溫度分布，因此使用固定的溫度傳感器還原得到的暗場圖像準(zhǔn)確性有所欠缺，同時其也需要額外的溫度傳感器以及大量的預(yù)測試。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種暗場圖像還原方法、系統(tǒng)、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備。

本發(fā)明解決上述技術(shù)問題的技術(shù)方案如下：一種平板探測器暗場圖像還原方法，其特征在于，包括：

步驟1，剔除樣本圖像中預(yù)設(shè)的本底圖像Img0，得到圖像Img2；

步驟2，若所述圖像Img2滿足預(yù)設(shè)條件，則對所述圖像Img2中的像素進(jìn)行劃分，得到亮場像素以及暗場像素；

步驟3，基于所述圖像Img2中的暗場像素對應(yīng)的第一漏電流圖像以及預(yù)設(shè)的漏電流圖像Img1，經(jīng)還原處理得到所述圖像Img2中的亮場像素對應(yīng)的第二漏電流圖像；

步驟4，對所述第一漏電流圖像以及所述第二漏電流圖像進(jìn)行還原處理，得到所述圖像Img2對應(yīng)的漏電流圖像Img3；

步驟5，對所述漏電流圖像Img3進(jìn)行還原處理得到所述圖像Img2的暗場圖像Img4。

本發(fā)明的有益效果是：利用了平板探測器像素自身漏電流與溫度敏感、溫度場在空間上連續(xù)分布的特性，通過自動識別暗場像素后，將亮場像素的漏電流用附近暗場像素的漏電流進(jìn)行一定程度的替代還原，不僅一定程度上提高了暗場圖像的準(zhǔn)確度，還無需進(jìn)行大量的預(yù)測試以得到暗場圖像與溫度、曝光時間的對應(yīng)關(guān)系，高效便捷。

在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，本發(fā)明還可以做如下改進(jìn)。

進(jìn)一步，所述對所述圖像Img2中的像素進(jìn)行劃分，包括：

將所述圖像Img2和所述預(yù)設(shè)的漏電流圖像Img1中每個互相對應(yīng)位置的像素的漏電流值進(jìn)行比較,當(dāng)任一比較得到的值超過閾值時，則判定對應(yīng)的像素為亮場像素，否則,則判定對應(yīng)的像素為暗場像素；

或，通過預(yù)設(shè)的對應(yīng)關(guān)系圖，將所述圖像Img2轉(zhuǎn)換為溫度分布圖，基于所述溫度分布圖對所述圖像Img2中的像素進(jìn)行劃分，其中，所述對應(yīng)關(guān)系圖為第三漏電流圖像與溫度的對應(yīng)關(guān)系圖。