[發明專利]一種DDR4內存信號測試方法、裝置及存儲介質

在審

• 申請號: 202111269309.7
• 申請日: 2021-10-29
• 公開（公告）號: CN114005487A
• 公開（公告）日: 2022-02-01
• 發明（設計）人: 周新浩
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56;G06K9/00
• 代理公司: 北京市萬慧達律師事務所 11111
• 代理人: 黃玉東

本發明涉及一種DDR4內存信號測試方法、裝置及存儲介質，方法包括以下步驟：S1，將服務器、DDR4內存和示波器置于正常工作狀態，然后利用示波器采集DDR4內存中的相關信號并確定標志信號；S2，根據標志信號對示波器進行相關參數配置，利用示波器的觸發功能將DDR4內存的讀寫信號進行信號分離；S3，利用示波器對分離后的讀寫信號進行測試。本發明的DDR4內存信號測試方法、裝置及存儲介質，實現了DDR4內存相關信號在正常工作狀態下的信號測試，充分反映了相關信號在正常干工作狀態下的波形，提高了DDR4內存相關信號的測試效率。

技術領域

本發明涉及計算機測試技術領域，尤其是指一種DDR4內存信號測試方法、裝置及存儲介質。

背景技術

為保證服務器的平穩運行以及服務器DDR4內存的完好使用，測量服務器內存的信號完整性是否符合標準已經成了服務器研發過程中必不可少的重要流程。目前服務器主流都是適用DDR4內存，為了保證數據的安全性和可靠性，DDR4鏈路的測試對服務器存儲性能評估有著至關重要的影響。

目前服務器DDR4信號的測試無法進行正常工作狀態的讀寫分離，只能利用主控芯片進行讀寫命令來進行相應讀或寫的測試，效率較低且不能完全反映正常工作狀態下的波形，在信號完整性測試上有比較大的風險。

發明內容

為了解決上述技術問題，本發明提供了一種DDR4內存信號測試方法、裝置及存儲介質，可以反映正常工作狀態下的波形，可以提高測試效率。

為實現上述目的，本申請提出第一技術方案：

一種DDR4內存信號測試方法，所述方法包括以下步驟：

S1，將服務器、DDR4內存和示波器置于正常工作狀態，然后利用示波器采集DDR4內存中的相關信號并確定標志信號；

S2，根據標志信號對示波器進行相關參數配置，利用示波器的觸發功能將DDR4內存的信號進行讀寫信號分離；

S3，利用示波器對分離后的讀寫信號進行測試。

在本發明的一個實施例中，所述將服務器、DDR4內存和示波器置于正常工作狀態，然后利用示波器采集DDR4內存中的相關信號并確定標志信號，具體包括：

將示波器與DDR4內存的相關信號引腳進行信號連接；

將服務器、DDR4內存和示波器置于正常工作狀態；

利用示波器對DDR4內存的相關信號進行采集并根據相關信號的波形確定標志信號。

在本發明的一個實施例中，所述相關信號包括DQS信號、CLK信號和DQ信號，所述標志信號為DQS信號。

在本發明的一個實施例中，所述根據標志信號對示波器進行相關參數配置，具體包括：

利用示波器分別采集標志信號在數據讀取和數據寫入過程中的電平幅值；

對標志信號在數據讀取和數據寫入過程中的電平幅值進行比較，確定標志信號的電平閾值；

在示波器中配置標志信號的電平閾值。

在本發明的一個實施例中，所述利用示波器的觸發功能將DDR4內存的讀寫信號進行信號分離，具體包括：

將標志信號的實時電平幅值與標志信號的電平閾值進行比較；

將大于電平閾值的標志信號和小于電平閾值的標志信號分別進行信號的分離，得到數據讀取和數據寫入過程中的標志信號。

在本發明的一個實施例中，所述將大于電平閾值的標志信號和小于電平閾值的標志信號進行分離，得到數據讀取和數據寫入過程中的標志信號后，CLK信號和DQ信號同步分離。