[發(fā)明專利]一種分焦平面偏振探測(cè)系統(tǒng)定標(biāo)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111260474.6 | 申請(qǐng)日: | 2021-10-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113970374A | 公開(公告)日: | 2022-01-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬一哲 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海濟(jì)物光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01J4/00 | 分類號(hào): | G01J4/00 |
| 代理公司: | 上海伯瑞杰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31227 | 代理人: | 孟旭彤 |
| 地址: | 201815 上海*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 平面 偏振 探測(cè) 系統(tǒng) 定標(biāo) 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種紅外分焦平面偏振探測(cè)系統(tǒng)定標(biāo)方法,所述方法包括:在進(jìn)行微位移輻射定標(biāo)和微位移偏振定標(biāo)之前進(jìn)行設(shè)備準(zhǔn)備;對(duì)分焦平面探測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行微位移輻射定標(biāo),擬合出增益系數(shù)與偏執(zhí)系數(shù),求出背景噪聲,得到微位移輻射校正后的響應(yīng)圖像;微位移輻射定標(biāo)后,對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行微位移偏振定標(biāo),根據(jù)偏振成像模型計(jì)算出不同溫度下的偏振系數(shù);以及將計(jì)算出的不同溫度下的偏振系數(shù)矩陣取平均得出最終的偏振系數(shù),根據(jù)最終的偏振系數(shù)對(duì)偏振相機(jī)進(jìn)行校正。本發(fā)明紅外分焦平面偏振探測(cè)系統(tǒng)定標(biāo)方法可以降低相機(jī)的空間噪聲、校正偏振相機(jī)的非均勻性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及偏振探測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體地,涉及一種分焦平面偏振探測(cè)系統(tǒng)定標(biāo)方法。
背景技術(shù)
偏振探測(cè)作為強(qiáng)度探測(cè)的有益補(bǔ)充,偏振探測(cè)把可用信息從光強(qiáng)、光譜和空間擴(kuò)展到光強(qiáng)、光譜、空間、偏振度、偏振方位角、偏振橢率和旋轉(zhuǎn)方向,從而可以獲取更多的介質(zhì)物理和光學(xué)參數(shù),這對(duì)提高目標(biāo)探測(cè)能力具有重要意義。隨著光學(xué)偏振遙感技術(shù)的發(fā)展,紅外偏振探測(cè)逐步得到應(yīng)用,為了保證目標(biāo)紅外偏振輻射特性的測(cè)量精度,開展目標(biāo)表面紅外偏振特性定量化研究,更好的應(yīng)用偏振探測(cè)技術(shù),需要對(duì)偏振探測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行偏振標(biāo)定。
分焦平面偏振成像是一種新型的偏振信息獲取技術(shù),它是將微偏振陣列集成到相機(jī)的焦平面上,焦平面上的每個(gè)像元對(duì)應(yīng)一個(gè)微偏振元,每2*2單元組成一個(gè)超像素,按照0°、45°、90°、135°排列。它可以一次成像獲得多個(gè)偏振方向的光強(qiáng)響應(yīng),該系統(tǒng)結(jié)構(gòu)緊湊、體積小,又具有高透過(guò)率、高消光比和高實(shí)時(shí)性等優(yōu)點(diǎn),是當(dāng)前偏振成像的研究熱點(diǎn)。
偏振探測(cè)相機(jī)可分為:分時(shí)型、分振幅型、分孔徑型以及分焦平面型,其中,分焦平面偏振探測(cè)相機(jī)最為先進(jìn),采用紅外探測(cè)器搭載微偏振元的結(jié)構(gòu),相比于分時(shí)系統(tǒng),分焦平面偏振相機(jī)單次采集便可以直接獲得偏振圖像與偏振角圖像,實(shí)時(shí)性高,體積小,但是由于微納制造工藝的限制,導(dǎo)致微偏振片的參數(shù)并不理想,相機(jī)系統(tǒng)會(huì)存在很大的非均勻性問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷,本發(fā)明的目的在于提供一種可以降低相機(jī)的空間噪聲、校正偏振相機(jī)非均勻性的紅外分焦平面偏振探測(cè)系統(tǒng)定標(biāo)方法。
為了達(dá)成上述目的,本發(fā)明提供了一種紅外分焦平面偏振探測(cè)系統(tǒng)定標(biāo)方法,所述方法包括以下步驟:
在進(jìn)行微位移輻射定標(biāo)和微位移偏振定標(biāo)之前進(jìn)行設(shè)備準(zhǔn)備;
對(duì)分焦平面探測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行微位移輻射定標(biāo),擬合出增益系數(shù)與偏執(zhí)系數(shù),求出背景噪聲,得到微位移輻射校正后的響應(yīng)圖像;
微位移輻射定標(biāo)后,對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行微位移偏振定標(biāo),根據(jù)偏振成像模型計(jì)算出不同溫度下的偏振系數(shù);以及
將計(jì)算出的不同溫度下的偏振系數(shù)矩陣取平均得出最終的偏振系數(shù),根據(jù)最終的偏振系數(shù)對(duì)偏振相機(jī)進(jìn)行校正。
可選地,所述設(shè)備準(zhǔn)備包括:將紅外分焦平面偏振相機(jī)固定在微位移平臺(tái)上以及準(zhǔn)備長(zhǎng)波線偏振片和一個(gè)面源黑體。
可選地,所述微位移平臺(tái)的步進(jìn)精度1/1500um,可以進(jìn)行y軸與z軸的微位移,所述紅外分焦平面偏振相機(jī)波段為9-11um,像元尺寸為30um*30um,像素320*256。
可選地,所述對(duì)分焦平面探測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行微位移輻射定標(biāo),擬合出增益系數(shù)與偏執(zhí)系數(shù),求出背景噪聲,得到微位移輻射校正后的響應(yīng)圖像的步驟具體包括:
步驟1:設(shè)置紅外分焦平面偏振相機(jī)積分時(shí)間為1ms,將定標(biāo)設(shè)備放于30℃的面源黑體前10cm處,使黑體充滿整個(gè)視場(chǎng);
步驟2:將鏡頭蓋遮擋采集一副圖像;
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