[發明專利]一種NTC產品的耐久性測試系統

在審

• 申請號: 202111254945.2
• 申請日: 2021-10-27
• 公開（公告）號: CN113959601A
• 公開（公告）日: 2022-01-21
• 發明（設計）人: 俞興華;張顯平;陳仁建;陳博;高洪亮;紀靈爽;吳鴻鵬
• 申請（專利權）人: 廈門賽爾特電子有限公司
• 主分類號: G01K15/00
• 分類號: G01K15/00
• 代理公司: 廈門市精誠新創知識產權代理有限公司 35218
• 代理人: 方惠春

本發明涉及NTC測試領域，特別地涉及一種NTC產品的耐久性測試系統。本發明公開了一種NTC產品的耐久性測試系統，包括電源、測試設備和電阻箱，電源、測試設備和電阻箱依次電連接構成測試回路，測試設備用于安裝待測試的NTC產品而使待測試的NTC產品接入測試回路中，電阻箱內設有負載電阻單元，用于提供測試回路中的負載電阻，電阻箱上設有撥動開關，用于調節負載電阻單元的阻值大小。本發明可以實現NTC產品的耐久性測試，負載電阻大小的調節方便、快速，調節精度高，安全性高，且結構緊湊簡潔。

技術領域

本發明屬于NTC測試領域，具體地涉及一種NTC產品的耐久性測試系統。

背景技術

NTC(Negative Temperature Coefficient)熱敏電阻是指隨溫度上升電阻呈指數關系減小、具有負溫度系數的熱敏電阻，利用這一特性既可制成測溫、溫度補償和控溫組件，又可以制成功率型組件，抑制電路的浪涌電流等。

NTC產品測試包括型式實驗和UL認證實驗，UL認證實驗包括耐久性測試。在進行NTC產品的耐久性測試時，測試回路中會設有負載電阻和電容，負載電阻用于模擬負載的阻抗，電容用于模擬負載的容抗。為了便于調節測試電流大小，負載電阻的阻值需可調節。現有的阻值可調節的負載電阻都是采用滑動變阻器來實現，其存在的缺點是：調節精度低，要調到所需阻值，有時候需反復來回滑動微調，調節不方便、速度慢，且安全性低。

此外，現有的進行NTC產品耐久性測試的測試裝置都是在工作臺上搭建而成的，整個測試裝置線路較雜亂，測試安全性低，測試效果也容易受干擾。

發明內容

本發明的目的在于提供一種NTC產品的耐久性測試系統用以解決上述存在的技術問題。

為實現上述目的，本發明采用的技術方案為：一種NTC產品的耐久性測試系統，包括電源、測試設備和電阻箱，電源、測試設備和電阻箱依次電連接構成測試回路，測試設備用于安裝待測試的NTC產品而使待測試的NTC產品接入測試回路中，電阻箱內設有負載電阻單元，用于提供測試回路中的負載電阻，電阻箱上設有撥動開關，用于調節負載電阻單元的阻值大小。

進一步的，所述負載電阻單元包括多個子負載電阻，撥動開關的數量與子負載電阻的數量相同，多個子負載電阻分別與多個撥動開關一一串聯后再并聯設置。

進一步的，所述測試設備包括柜體，柜體設有測試腔室，測試腔室設有可打開的第一腔門，測試腔室內設有測試工裝，測試工裝用于固定待測試的NTC產品而使待測試的NTC產品接入測試回路中。

更進一步的，所述測試工裝設有固定結構，固定結構包括接線端子，接線端子用于將待測試的NTC產品的引腳鎖緊在測試工裝上而使待測試的NTC產品接入測試回路中。

進一步的，所述測試回路還包括電容和泄放電阻，電容和負載電阻并聯設置，泄放電阻與電容并聯設置，柜體還設有第一電氣腔室，第一電氣腔室設有可打開的第二腔門，電容與泄放電阻可拆卸地設置在第一電氣腔室內。

更進一步的，所述第一電氣腔室內設有第一安裝支架，泄放電阻可拆卸地固定在第一安裝支架上而接在測試回路中，可拆卸的固定連接方式可以是螺紋連接、卡扣連接等。

進一步的，所述第一電氣腔室內設有第二安裝支架，第二安裝支架設有插槽，電容可拆卸地插設在插槽內而接在測試回路中。

進一步的，所述柜體內還設有第二電氣腔室，第二電氣腔室設有主控電路，主控電路用于控制測試回路的通斷。

更進一步的，所述柜體還設有開門檢測機構，開門檢測機構用于檢測第一腔門的開關狀態并傳輸給主控電路進行測試回路的通斷控制。

進一步的，所述電源的數量為兩個，兩個電源的輸出電壓不同。

本發明的有益技術效果：