[發(fā)明專利]一種多級微帶傳輸線的高帶寬差分電壓探頭在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111254906.2 | 申請日: | 2021-10-27 |
| 公開(公告)號: | CN113960357A | 公開(公告)日: | 2022-01-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曾正;王宇雷;孫鵬;王亮 | 申請(專利權(quán))人: | 重慶大學(xué) |
| 主分類號: | G01R19/25 | 分類號: | G01R19/25 |
| 代理公司: | 北京同恒源知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11275 | 代理人: | 趙榮之 |
| 地址: | 400044 重*** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 多級 微帶 傳輸線 帶寬 電壓 探頭 | ||
本發(fā)明涉及一種多級微帶傳輸線的高帶寬差分電壓探頭,屬于電子器件領(lǐng)域。本發(fā)明建立了寬頻范圍適用的分壓電路模型,分析了分壓器尺寸對探頭帶寬的影響規(guī)律,并給出了一種最大化探頭帶寬的回路補(bǔ)償方法。實驗結(jié)果表明:多層陶瓷電容的等效串聯(lián)電感,以及PCB平面耦合的傳輸線效應(yīng),是制約差分電壓探頭帶寬的瓶頸問題,采用基于平行板傳輸線的高帶寬分壓結(jié)構(gòu)、優(yōu)化承壓臂長度、高頻回路補(bǔ)償?shù)刃陆Y(jié)構(gòu)和新方法,可以突破差分探頭的帶寬極限到500MHz,為一種多級微帶傳輸線的高帶寬差分電壓探頭和寬禁帶器件的設(shè)計研發(fā)、測試表征、標(biāo)準(zhǔn)制定,提供有益的參考。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于電子器件領(lǐng)域,涉及一種多級微帶傳輸線的高帶寬差分電壓探頭。
背景技術(shù)
與Si IGBT相比,以碳化硅(Silicon carbide,SiC)MOSFET為代表的寬禁帶器件,擁有更高的開關(guān)速度、更低的開關(guān)損耗,能有效提升電氣裝備的功率密度。相比于Si IGBT幾微秒的開關(guān)時間,SiC MOSFET的開關(guān)時間通常為幾十納秒,GaN HEMT的開關(guān)時間甚至僅為幾納秒,對測量探頭的性能提出了更高的要求。為了保證不小于98%的測量精度,通常要求探頭的帶寬是被測信號最大帶寬的5倍以上,電壓與電流探頭帶寬不應(yīng)低于400MHz。然而,目前商業(yè)電壓探頭還不能完全滿足測試要求。同時,隨著寬禁帶器件開關(guān)速度的不斷提升,由探頭性能不足引起的開關(guān)損耗測量誤差可能超過100%,導(dǎo)致器件選型、熱設(shè)計和壽命評估等環(huán)節(jié)產(chǎn)生嚴(yán)重偏差。因此,提升電壓探頭的性能,提高開關(guān)測量的精度,具有十分迫切的工業(yè)需求,以及非常重要的研究意義。
針對電壓探頭的性能提升,已有部分文獻(xiàn)從拓?fù)鋬?yōu)化、耦合機(jī)制和交互機(jī)理3個方面展開了一些研究。在拓?fù)鋬?yōu)化方面,針對單端分壓器,在分立電阻兩端并聯(lián)分立電容,可以為高頻信號提供低阻抗路徑,能夠有效提升探頭信噪比(Signal-to-Noise Ratio,SNR)和帶寬。對于阻容分壓器,計及回路寄生參數(shù),通過優(yōu)化PCB布局和外圍電氣結(jié)構(gòu),減小寄生參數(shù)影響,提升電壓探頭性能。采用同軸電阻的原理,制成的同軸阻容分壓器,具有高帶寬的潛力,但測試研發(fā)成本較分立元件更高。為了滿足高壓、高頻等復(fù)雜電氣場合的測量需求,基于浮地測量(差分型探頭)和隔離測量(隔離型探頭)原理的新拓?fù)湟膊粩嘤楷F(xiàn)。在耦合機(jī)制方面,采用電光效應(yīng)、逆壓電效應(yīng)和電致發(fā)光效應(yīng)等傳感原理,對高壓模擬信號進(jìn)行光學(xué)調(diào)制,實現(xiàn)前后級的模擬隔離測量。此外,采用模數(shù)轉(zhuǎn)換器(Analog-to-digitalconverter,ADC)將被測電壓信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號,利用數(shù)字隔離芯片、數(shù)字光調(diào)制或無線技術(shù),將數(shù)字信號傳輸至弱電側(cè),實現(xiàn)數(shù)字隔離測量。在交互機(jī)理方面,主要集中在探頭對寬禁帶器件暫態(tài)穩(wěn)定的影響機(jī)制研究。通過對探頭進(jìn)行集總參數(shù)阻抗建模,考慮被測器件(Device under test,DUT)和電路阻抗,研究探頭與DUT之間的相互作用機(jī)理和穩(wěn)定性影響規(guī)律,可以給出最大化探頭性能的測試方法和測試建議。綜上,現(xiàn)有針對電壓探頭的性能優(yōu)化研究,主要集中在集總參數(shù)表征、寄生參數(shù)優(yōu)化和交互機(jī)理探索等方面。然而,對于電壓探頭帶寬制約機(jī)理,考慮分布參數(shù)的寬帶設(shè)計模型還鮮有報道,400MHz以上帶寬的差分電壓探頭設(shè)計方法更是一片空白,亟待技術(shù)創(chuàng)新。
針對差分電壓探頭帶寬約束機(jī)理不明、高頻設(shè)計模型缺乏、測試表征方法匱乏等技術(shù)難題,本發(fā)明詳細(xì)研究了一種多級微帶傳輸線的高帶寬差分電壓探頭的理論模型和設(shè)計方法。本發(fā)明以包含差分電壓探頭的典型測量回路為參考,分析影響測量系統(tǒng)帶寬的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。基于傳輸線理論,揭示制約差分電壓探頭帶寬進(jìn)一步提升的根本原因,建立了寬頻范圍內(nèi)適用的統(tǒng)一設(shè)計模型,提出了基于平行板傳輸線的高帶寬分壓器和差分電壓探頭,總結(jié)了高帶寬差分探頭的設(shè)計方法。采用基于邊界元參數(shù)提取方法,驗證模型可行性和有效性。最后,與當(dāng)前常用的幾款高性能商業(yè)電壓探頭對比,從頻域和時域兩個角度,驗證模型和方法的正確性和適用性。本發(fā)明為一種多級微帶傳輸線的高帶寬差分電壓探頭的設(shè)計與研究,提供了新的思路和方法。為高性能電壓探頭的設(shè)計研發(fā)、標(biāo)準(zhǔn)制定,以及寬禁帶器件的測試與應(yīng)用,提供有益參考。
一種多級微帶傳輸線的高帶寬差分電壓探頭的應(yīng)用需求與研究現(xiàn)狀
(1)性能需求
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