[發明專利]陶瓷片碎裂檢測系統、方法、裝置及相關設備在審
| 申請號: | 202111248055.0 | 申請日: | 2021-10-26 |
| 公開(公告)號: | CN114018184A | 公開(公告)日: | 2022-02-08 |
| 發明(設計)人: | 黃猛;郭浩;黃頌儒;孫雨欣;劉永杰 | 申請(專利權)人: | 珠海格力電器股份有限公司 |
| 主分類號: | G01B17/00 | 分類號: | G01B17/00;G01D21/02 |
| 代理公司: | 北京細軟智谷知識產權代理有限責任公司 11471 | 代理人: | 涂鳳琴 |
| 地址: | 519000*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 陶瓷 碎裂 檢測 系統 方法 裝置 相關 設備 | ||
1.一種陶瓷片碎裂檢測系統,其特征在于,用于對陶瓷片的碎裂情況進行檢測,所述檢測系統,包括:控制組件和設置在所述陶瓷片外部的位置檢測裝置;所述控制組件與所述位置檢測裝置相連;
所述位置檢測裝置,用于檢測所述陶瓷片的邊緣位置信息,并將所述邊緣位置信息發送至所述控制組件;
所述控制組件,用于接收所述邊緣位置信息,在所述邊緣位置信息發生變化時,確認所述陶瓷片存在碎裂風險。
2.根據權利要求1所述的檢測系統,其特征在于,所述位置檢測裝置,包括:超聲波探測器,或,邊緣控制器。
3.根據權利要求2所述的檢測系統,其特征在于,所述超聲波探測器,設置于所述陶瓷片的正上方;或,
所述邊緣控制器,設置于所述陶瓷片的邊緣位置。
4.根據權利要求1所述的檢測系統,其特征在于,還包括:設置在所述陶瓷片外部的變量檢測裝置,所述變量檢測裝置與所述控制組件相連;
所述變量檢測裝置用于檢測所述陶瓷片的預設變量信息,并將所述預設變量信息發送至所述控制組件;
所述控制組件用于接收所述預設變量信息,并在所述預設變量信息發生改變時,觸發所述位置檢測裝置檢測所述陶瓷片的邊緣位置信息,以在所述邊緣位置信息發生變化時,確認所述陶瓷片存在碎裂風險。
5.根據權利要求4所述的檢測系統,其特征在于,所述變量檢測裝置,包括:壓力檢測組件,或,溫度檢測組件。
6.根據權利要求5所述的檢測系統,其特征在于,所述壓力檢測組件設置于所述陶瓷片的底部;或,
所述溫度檢測組件設置于所述陶瓷片的外部。
7.一種陶瓷片碎裂檢測方法,其特征在于,應用于權利要求1-6任一所述的陶瓷片碎裂檢測系統,所述方法,包括:
接收陶瓷片的邊緣位置信息;
在所述邊緣位置信息發生變化時,確認所述陶瓷片存在破碎風險。
8.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述接收陶瓷片的邊緣位置信息,包括:
接收預設變量信息;
在所述預設變量信息發生改變時,觸發位置檢測裝置檢測所述陶瓷片的邊緣位置信息,以接收所述陶瓷片的邊緣位置信息。
9.一種陶瓷片碎裂檢測裝置,其特征在于,包括:接收模塊和確定模塊;
所述接收模塊,用于接收陶瓷片的邊緣位置信息;
所述確定模塊,用于在所述邊緣位置信息發生變化時,確認所述陶瓷片存在破碎風險。
10.一種陶瓷片碎裂檢測設備,其特征在于,包括:處理器,以及與所述處理器相連接的存儲器;
所述存儲器用于存儲計算機程序,所述計算機程序至少用于執行權利要求7~8任一項所述的陶瓷片碎裂檢測方法;
所述處理器用于調用并執行所述存儲器中的所述計算機程序。
11.一種功率板,其特征在于,包括:功率半導體器件、陶瓷片和權利要求1-6任一所述的陶瓷片碎裂檢測系統;所述陶瓷片設置在所述功率半導體器件的底部,所述陶瓷片用于對所述功率半導體器件散熱;所述陶瓷片碎裂檢測系統用于對陶瓷片的碎裂情況進行檢測。
12.根據權利要求11所述的功率板,其特征在于,所述功率板包括散熱器;所述散熱器上設置有:散熱器溝槽;所述陶瓷片放置于所述散熱器溝槽中。
13.一種變流器,其特征在于,包括權利要求11-12任一所述的功率板。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于珠海格力電器股份有限公司,未經珠海格力電器股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202111248055.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





